Способ измерения объемных зарядов

Номер патента: 1580425

Опубликовано: 23.07.1990

Авторы: Евстегнеев, Завидский, Ли, Утишев

МПК: G09B 23/04

Метки: величины, монжа, натуральной, плоской, прибор, фигуры, эпюре

...пары 18 и 19передают врацательное движение наполуоси 20 и 21, которые жестко зак"реплены с моделью проецируемогообъекта в виде плоской Фигуры 22, 3 15804сПоследняя шарнирно соединена с ползу- нами 23 и 24, которые скользят по ,стержням 8 и 9.Эластичный элемент 25 огибает стержни 8 и 9 и укреплен на основании штырями (не показаны), расположенными в точках оснований мысленных перпендикуляров из вершин модели проецируемого объекта 22, которые распола" 10 гаются на полуосях 20 и 21. На модели вычерчена горизонталь 2 б.Прибор работает следующим образом.При включении электродвигателя 2 вращательное движение с помощью дифференциального механизма 3 передается на валы 10, 11 и через конические пары 12 и 13 - на вертикальные валы 14 и 15,...

Номер патента: 538281

Опубликовано: 05.12.1976

Авторы: Аксельрод, Калинская, Подольский, Щигловский

МПК: G01N 27/07

Метки: жидкости, заряда, объемного, слабопроводящей

...набора другого элек 10 трода. Электроды подключены ко входам 10 и 11 измеритедьного прибора 12, например вольтметра.Работает устройство следующим образом,25 При прохождении через измерительный электрод потока заряженной исследуемой жидкости с относительной диэлектрической проницаемостью б и эдектропроводностью У на стенки электрода 1 течет токрелаксации заряда, заключенного в объеме жидкости, окруженном электродом 1.Этот ток пропорционален величине заряда и равен 35 где 1 - ток релаксации заряда;- заряд; ф - электропроводность исследуемой жидкости;- относительная диэлектрическая проницаемость исследуемой жидкости; с о - диэлектрическая постоянная,При достаточно больших сопротивлениях 45 изоляции и входа измерительного прибора...

Номер патента: 670907

Опубликовано: 30.06.1979

Авторы: Аксельрод, Щигловский

МПК: G01R 29/00

Метки: времени, диэлектриков, заряда, объемного, постоянной, релаксации

...днэлектрика;О, - толщина слоя вспомогательногодиэлектрика,11 а фиг, 1 показаны исследуемый ивспомогательный диэлектрики между электродами, сечение; на фиг, 2 изображеныкривые зависимости напряженности полна электродах и плотности заряда на границе раздела диэлектриков от времени.Предлагаемый способ состоит в следуощем. Для определения постоянной временирелаксации объемного заряда исследуемогодиэлектрика, например, диэлектрика 1, последний помещают между электродами 2 исоздают хотя бы один слой 3 из другого, 25вспомогательного диэлектрика с другимидиэлектрической проницаемостью в и электропроводностью . При этом полагают известными диэлектрическпе проницаемостив и в обоих диэлектриков (они могут быть 50измерены заранее или взяты...

Номер патента: 1132261

Опубликовано: 30.12.1984

Автор: Селвикян

МПК: G01R 29/24

Метки: зарядов, объемных

...Ч,Е= - -. - уЕосуммирование Е 1 и Е позволяет исключить .влияние контактной разности потенциалов, имеющейся между пластинами плоского конденсатора, на точ-. ность определения объемного заряда.- диэлектрическая постоянная,в . диэлектрическая, проницае, мость средьг,напряженность электрического поля, у пластины плоского конденсатора;- расстояние между пластинами конденсатора, определяют величину объемного заряда 2.35Однако известный способ обладает невысокой точностью, что обусловлено наличием контактной разности потенциалов между пластинами плоского конденсатора и ее изменениями в зависимос-" ти от материала и состояния поверх 1ности пластин.Цель изобретения - повышение точности измерения объемного заряда.Поставленная цель достигается...

Номер патента: 771524

Опубликовано: 15.10.1980

Авторы: Аксельрод, Щигловский

МПК: G01N 27/02

Метки: времени, диэлектриков, заряда, объемного, объемной, постоянной, релаксации, электропроводности

...диэлектриков описанным способом существенно повышается точность благодаря тому, что влияние околоэлектродных процессов исключается за счет использования больших толщин слоев исследуемого диэлектрика, а также за счет изолирования исследуемого диэлектрика от электродов при помощи вспомогательного диэлектрика. Кроме того, для жидких диэлектриков точность повыдается благодаря тому, что вынос носителей заряда из объема исследуемого диэлектрика может быть ограничен величиной заряда на границе раздела диэлектриков и не зависит от времени приложения напряжения, а для твердых диэлектриков исключается необходимость измерения больших электрических сопротивлений образцов,Способ основывается на зависимости от геометрических соотношений...