Способ измерения толщины слоев материала

Союз Советскнх Социалнстических РеспубликОП ИСАИ ИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИ ВТВЛЬСТВУ(51)М. Кл.з С 01 В 7/06 Государственный комитет СССР оо дедам нзоСретеннй н открытнй(088.8) Дата опубликования описания 30.12.81(72) Авторы изобретения В.Г. Брандорф, Ю.Н. Кизилов и Ж.А, Ямпольский Львовский лесотехнический институт(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ МАТЕРИАЛА Изобретение относится к средствайэлектромагнитной размерометрии и может быть использовано для измерениятолщины материала с токонесущимипрослойками в их структуре.Известен способ контроля толщиныматериала с токонесущими прослойками, заключающийся в том, что регистрируют накладным индуктивным преобразователем магнитное поле, создаваемое этими прослойками, и по сигналам преобразователя судят о результатах контроля 1).Однако точность контроля этимспособом недостаточная, так как отсутствуют средства для Фиксациипространственно-временных параметров указанногополя,Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности являетсяспособ измерения толщины слоев материала с токонесущими прослойками,заключающийся в том, что регистрируют накладным индуктивным преобразователем параметры магнитного поля,создаваемого этими прослойками, ипо ним судят о результатах измерения 12),Однако точность измерения материалов со сложным профилем этим пособом недостаточная, так как приизмерении профиля сигналы индуктивного преобразователя неоднозначносоответствуют толщине материала.Цель изобретения - повыаениеточности измерения материалов со,сложным профилем.Эта цель достигается тем, что регистрируют градиенты магнитной индукцииполя по ортогональным направлениям и ло величине суммарного сигнала определяют толщину слоя.Рекомендуется токонесущие прослойки располагать между слоями 15 материала в плоскости его сечения,поочередно возбуждать в этих прослойках токи, перемещать индуктивный накладной преобразователь в зоныриксированных значений его сигналов 21) я по величине перемещения определятьтолщину слоя между укаэанными прослойками.На чертеже представлена блок-схема устройства, реализующего данный 25 способ.Устройство содержит источник 1переменного тока, подключаемый посредством коммутатора 2 к электропроводящим прослойкам в структуре 30 материала 3, накладной индуктивный894336 Составитель А. ДуханинТехред А. Бабинец Корректор С, Шекмар. Редактор С. Тара.ненко Тирах 645 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж".35, Раушская наб., д. 4/5Заказ 11437/60 Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,4 преобразователь 4, который при пере- .мещении может занимать положения5-7.Способ реализуется следующим образом.Коммутатором 2 возбуждают электропроводящие прослойкй материала 3,которые таким образом становятсятоконесущими и создают магнитное поле в окружающем этот материал пространстве. Градиенты магнитной индукции этого поля регистрируют преобразователем 4, При регистрации этотпреобразователь перемещают, напримерпо нормали к.касательной в экстремальной точке профиля материала3, в положении 5-7, по координатам которых судят о измеряемойтолщине. Сигналы преобразователядолжны быть равны заранее фиксированным значениям при соответствующих положениях коммутатора 2.При координатно чувствительномпреобразователе регистрируют составляющие поля по нескольким заранее выбранным координатам (напри мер, в ортогональной системе координат) и определяют функцию отэтих составляющих, например ихсуммируют,Формула . изобретенияс. Способ измерения толщины слоев материала с токонесущими прослойками, заключающийся в том,чторегистрируют накладным индуктивнымпреобразователем параметры магнитного поля, создаваемого этимипрослойками, и по ним судят о результатах измерения, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерения материаласо сложным профилем, регистрируютградиенты магнитной индукции поляпо ортогональным направлениям и по О величине суммарного сигнала определяют толщину слоя.2. Способ по п,1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что токонесущиепрослойки располагают между слоями 5 материала в плоскости его сечения,поочередно возбуждают в этих прослойках токи, перемещают индуктивныйнакладной преобразователь в эоныФиксированных значений его сигналов 2 О и по величине перемещения определяюттолщину слоя между указанными прослойками. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1Неразрушающий контроль материалов и изделий. Справочник. Подред. Г,С. Самойловича. М "Машино-строение", 1976, с. 250.2. Авторское свидетельство СССРР 619783, кл. О 01 В 7/06, 1977