Способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 892266
Авторы: Безпяткин, Глаговская, Козин, Ларионов, Шептухин
Текст
Союз Советски кСоциалистическихРеспублик СВИДЕТЕЛЬ АВТО РС(22) Заявлено 12.07.78 (21) 2642592/18-2с присоединением заявки Мо -(23) Приоритет -М. Кл.б 01 Х 1/28//б 01 М 21/01 Гасударственные комете СССР по Аелам иэобретеиий и открытий(54) СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ЭТАЛОНА ДЕФЕКТА ДЛЯ МЕТОДА КАПИЛЛЯРНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ Изобретение относится к неразрушающему контролю качества поверхности изделий методами капиллярной дефектоскопии и может быть использовано для контроля чувствительности методов, качества приготовленных индикаторной жидкости и проявляющего состава.Известен способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии, согласно которому эталон получают нанесением (например, напылением в вакууме) на обработанные стороны двух металлических пластин слоя металла, в котором оставляют непокрытые площадки, образующие при их совмещении и соединении диффузионной сваркой паз заданных размеров, имитирующий дефекты-трещины, возникающие на поверхности контролируемых изделий.Однако технология получения паза заданных размеров этим способом вызывает необходимость применения сложного оборудования и аппаратуры, отличается повышенной трудоемкостью и не обеспечивает гарантированную стабильность размеров при диффузионной сварке пластин вследствие деформации площадок, сжимаемых для соединения диффузионной сваркой. Известен также способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии, включающий нанесение на образец из пластичного металла слоя хрупкого металла для получения в нем трещинглубиной, равной толщине хрупкого слоя,и деформацию образца 2.Однако отсутствие ограничения развитию трещин в деформируемом слое не позволяет получать эталон дефекта заданнойдлины, что снижает объективность, усложняет или делает невозможным проведение контроля изделий методами капиллярной дефектоскопии с применением описанного эталона дефекта.Трещины, полученные этим способом, имеют, как правило, разветвленный характер ипеременные (изменяющиеся по длине и ширине) размеры, что затрудняет проведение иснижает надежность контроля. Без принятияспециальных мер защиты поверхность пластины с нанесенными трещинами подвержена при эксплуатации повреждениям и засо 20 рам, снижающим срок службы эталона.Целью изобретения является упрощениетехнологии изготовления и повышение качества образца,892266 Формула изобретения Составитель Л. Нечипоренко Редактор И. Николайчук Техред А. Бойкас Корректор Н. Степ Заказ 1 217/63 Тпрахс 9 0 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Поставленная цель достигается тем, что согласно способу получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии, включающему нанесение на образец из пластичного металла слоя хрупкого металла для получения в нем трещин с глубиной, равной толщине хрупкого слоя, и деформацию образца, перед нанесением слоя хрупкого металла в образце выполняют паз, при этом ширина паза равна длине трещины, а деформацию образца производят при изготовлении эталона.Преимуществами способа являются образование трещин заданного раскрытия в металле, заполняюшем паз, направленных поперек паза, длиной и глубиной соответственно равных ширине и глубине паза и предельно допустимым (заданным) длине и глубине эталона дефекта, а также использование паза для защиты эталона дефекта от повреждений его поверхности и сохранения заданных размеров.Пример. Эталон дефекта, соответствую. гций требованиям ГОСТ 18442-73, предъявляемым ко второму условному уровню чувствительности методов капиллярной дефектоскопии, изготавливают. длиной до 1,0 мм, глубиной,до О, мм и с шириной раскрытия до 0,01 мм. В пластине из никеля Н - 1 проточена канавка шириной и глубиной 1,0 мм. После обезжиривания пластина на 15 - 20 с погружена в тигель с расплавленным металлом, склонным к трещинообразованию, состава, вес/,: Сц 10; Яп 10; 5 3; 5 1,05; % - остальное, после охлаждения на воздухе зачицена со стороны канавки и деформирована до образования трещин, ориентированных поперек канавки, изгибающим усилием, направленным вдоль ее осевой линии. Металлографическим контролем определен характер и аттестованы раскрытие и длина трешин, шлифовкой и полированием поверхности (до чистоты поверхности контролируемых деталей), глубина канавки (и толщина заполняющего ее металла) доведена до 0,95 - 0,098 мм (по результатам измерений у торцов).Металлографическим исследованием(после разрушения пластины вдоль канавки) установлен характер распространения трещин по глубине канавки.После металлографического контроляпартия изготовленных образцов проверена методами капиллярной дефектоскопии и ат- О тестована как эталоны дефектов, соответствуюшие второму условному уровню чувствительности ГОСТ 18442 - 73.Применение предлагаемого способа, посравнению с известными, значительно упрощает технологию и снижает трудоемкость получения, увеличивает срок службы эталона дефекта, способствует повышению достоверности, надежности и производительности контроля качества продукции.Ожидаемый экономический эффект отвнедрения изобретения для одного предприятия составит 10 000 руб. в год,25 Способ получения эталона дефекта дляметода капиллярной дефектоскопии, включающий нанесение на образец из пластичного металла слоя хрупкого металла для получения в нем трещин с глубиной, равной толшине хрупкого слоя, и деформацию образца, отличающийся тем, что, с целью упрощения технологии изготовления и повышения качества образца, перед нанесением слоя хрупкого металла в образце выполняют паз, при этом ширина паза равна длине, а деформацию образца производят при изготовлении эталона. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР- 290207, кл. Сс 01 Я 21/01, 1969. 40 2. Авторское свидетельство СССР М 389447, кл. 6 01 Х 21/О 1, 1971,
СмотретьЗаявка
2642592, 12.07.1978
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2994
БЕЗПЯТКИН ПЕТР ВУКОЛОВИЧ, ГЛАГОВСКАЯ ЛИДИЯ СЕРГЕЕВНА, КОЗИН ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, ЛАРИОНОВ РОБЕРТ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ШЕПТУХИН АНАТОЛИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 1/28, G01N 21/01
Метки: дефекта, дефектоскопии, капиллярной, метода, эталона
Опубликовано: 23.12.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-892266-sposob-polucheniya-ehtalona-defekta-dlya-metoda-kapillyarnojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии</a>
Предыдущий патент: Пробоотборник воздуха
Следующий патент: Устройство для одностороннего нагрева образцов в высокочастотном поле при механических испытаниях
Случайный патент: Устройство для поштучной подачи радиодеталей