Способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е 290207ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельства МЗаявлено 02,.1969 (Ло 1295645/25-28) МПК 6 01 п 21/16 присоединением заявки Ъ Комитет по делам изобретеиий и открытийиорите при Совете тлинистро СССРУДЫ 620.179,6 (088.8) публиковацо 22.Х.1970. Бюллетень ЛЪза 197 ата опубликования описания 4.11.1971 Авторыизобретени. А. Балашов, С. И. Гурбанов и В. А. Смирно явите ОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ЭТАЛОНА ДЕФЕКТА Д КАПИЛЛЯРНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИ ЕТ леду с чисто- пример,наносят в вакууаданных . Затем ощадкц фузцонзоб дме фекта для мещ, заключаюкую пластину,1 ийся тем, что, ного размера слоя металла анных разме, затем сосдц. цая площадки х дцффузион. Предлагаемое изобретение может найти применение в области капиллярной дефектоскоциц для определения качества индикаторной жидкости и проявляющего состава, применяемого для выявления дефектов, находящихся ца поверхности деталей.Известны способы получения эталона дефекта, в которых на металлическую пластину наносят слой металла, затем подвергают сс механическому воздействию с помощью пуансона либо изгибают се так, что покрытие приходит в напряженное состояние и образуется ряд трещин.Недостатком этих способов является трудность получения эталонов дефектов определенных размеров, трещины получаются узкие и мелкие, плохо различаются капиллярными методами.Предлагаемый способ позволяет получать дефекты заданных размеров.Это достигается тем, что црп цацесеццц ца пластину слоя металла оставляют на цей площадку заданных размеров, не покрытую слоем металла, затем соединяют две такие пластины, совмещая площадки без слоя металла, и подвергают их диффузионной сварке. Сущность способа заключается вщем. Берут две металлические пластинытой обработки соединяемых сторон, н Ь 7 На обработанные стороны пластин слой металла, например, напылением ме, оставляя црц этом площадки з размеров, це покрытые слоем металла 0 соединяют этц пластины, совмещая пл без слоя металла, и подвергают цх дцф цой сварке.Способ получения эталона де тода капцллярной дефектоскопг ццйся в том, что на металлцчес наносят слой металла, отличаюи 0 с целью создания дефекта задан црц нанесении на пластину оставляют на ней площадку зад ров, це покрыт ю слоем металла цяют две такцс пластины, совме 5 без слоя металла, и подвергаютцой сварке,
СмотретьЗаявка
1295645
О. А. Балашов, С. И. Гурбанов, В. А. Смирнов
МПК / Метки
МПК: G01N 21/91
Метки: дефекта, дефектоскопии, капиллярной, метода, эталона
Опубликовано: 01.01.1971
Код ссылки
<a href="https://patents.su/1-290207-sposob-polucheniya-ehtalona-defekta-dlya-metoda-kapillyarnojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ получения эталона дефекта для метода капиллярной дефектоскопии</a>
Предыдущий патент: Способ качественного определения полифторэтиленов
Следующий патент: Способ фотометрического определения свободнойизвести
Случайный патент: Муфта включения