Кристаллодержатель для рентгеновских спектрографов с изогнутым кристаллом

Номер патента: 389448

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Вител

МПК: G01N 23/00

Метки: 389448

...какой-либо длине волны, на определенном расстоянии от источника рентгеновского излучения. В фокусе отраженных от кристалла лучсй располагают счетчик, расстояние до которого от кристалла должно б орасстоянию от кристалла до источгеновского излучения.В этом случае источник, кристалл и счетчик находятся на круге Роуланда, что соответствует максимальной интенсивности рентгеновского излучения строго определеннойлинии спектра. Затем кристалл и счетчик закрепляют так, чтобы их взаимное положениево время дальнейшей юстировки было постоянно.Кристалл и счетчик, расположенные нагайке ходового винта, перемещают относительно источника рентгеновского излучения,добиваясь при этом наличия излучения однойи той же линии спектра за счет...

Номер патента: 88047

Опубликовано: 01.01.1950

Авторы: Гильварг, Шамбуров

МПК: G01N 23/223, G01T 1/36, H05G 1/02

Метки: изогнутыми, кристаллами, кристаллодержатель, подобных, приборов, рентгеновских, спектрографов, тому

...в цем изгибается между двумя парами неподвижных опор, смещенных одна относительно другой.1 аким способом весьм просто получить кристаллы с большой д,ц(ой р абоего участка, что су:1 ествсшо увеличивает светослу спектрографов и, упрощая установку кристалла, устраняет необходимость производить чрезвычаццо тру оемкуо фокусировку, необходиму(о прц пользовании извсст(ы ми крцстяллодержателями.На фиг. 1 изобр яжен продольнь 1 разрез криста,(лоде 13)к(тсгя; и фиг, 2 - разрез по х 1 Л ца фиг. 1.Кристяллодержатель состоит пз двух стальных пластин 1 и крист Г- лцческой пластины 2, зажатых между двумя пар ап поперечных жестких планок 5 так, чтоцхсрсдпце плоскости совпадая)т. Жест;ОСТЬ СЦСТЕ(Ы ДВУХ СтГЦЦЫХ стин 1 при 1 згбс догг)кця быть зцячитсльцо...

Номер патента: 202352

Опубликовано: 01.01.1967

Авторы: Старый, Ханонкин

МПК: G01T 1/36, H05G 1/02

Метки: изогнутых, кристаллов, рентгеновских, рефлексограмм, увеличенных

...спектрометрови опектрографов заключается в том, что исследуемый кристалл облучают пучком рентгеновских лучей, а излучение, отраженное откристалла, регистрируют пленкой в кассете.Однако при таком способе получают искаженное изображение поверхностей исследуемыхкристаллов,1Предлагаемый способ отличается от известных тем, что ренггеновскую пленку помещают в изогнутой по окружности кассете внефокального круга, на котором расположенисследуемый кристалл. Пучок рентгеновских 1лучей от источника пропускают через щель,расположенную на фокальной окружностикристалла, параллельно его образующей. Такое осуществление способа позволяет устрать искажения и добиться одинаковых увечений по высоте и ширине рефлексограммы. Гпосоо получения...

Номер патента: 352771

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Бут

МПК: B28D 5/00

Метки: кристаллы, пластин, полупроводниковых, резки

...вдоль следов эцсргстичсски слабы.; кристаллографц ческих плоскостей. На фиг, 1 изображецы следы пересечения с плоскостью (111) плоскостей, слабых в эцер гетт 1 ческок Отцошеции; ца фиг, 2 показао кяк по трем естественным граням 1 роста ца цикием торце слитка цаходят цапраьлецис пло- кости (001), обозцачецьое стрелкой 2, и мсстопахождеццс базового среза 3 отцос:,тельц2 этои стрелки. Направлепие тлоскости (001) ця верхцем торце слитка будет противоположцым.Практически цахокдецие эцергегцческц слабых плоскостей и резка пластин ца кр;с НяпряВ 1 ецие 1 ка 1 заццых плоскостеи, тяк же как и (111) (111) и (111), можцо найти рентгецографическцм методом.Найденное по трсугольццку одцо цз напра- леций, например плоскости (001), прогцвополож...

Номер патента: 718769

Опубликовано: 29.02.1980

Автор: Скупов

МПК: G01N 23/207

Метки: рентгеновский, спектрометр, трехкристальный

...значения 68 лежат в интервале от Ч /2 до О, а положительные - от Ч до Ч /2.К чистоте обработки поверхности зеркала предъявляются такие же требования, как и к поверхности призм, используемых при определении предельного угла полного внешнего отражения рентгеновских лучей.При измерениях ьО сначала на место кристалла 4 устанавливают эталон (недеформированный кристалл). Отраженный от него луч, претерпев полное внешнее отражение на зеркале 6, падает на кристалл-анализатор 5, Угол отражения от анализатора 8, фиксируется по индикатору и служит началом отсчета при определении приращения ьО = О -Оо Затем на место эталона устанавливается исследуемый образец. Если образец деформирован, то отра.женный от него луч Гудет падать на зеркало 6...