Материал для очистки полированных поверхностей оптических элементов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 878377
Автор: Дедловский
Текст
878377 ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик(51 21) 2558979/28-1 22) Заявлено 16.12.77 ( присоединением заявки Государственнык комитет(23) Приорите СССР ло делам изобретенийи открыт ия 07.11.8 45) Дата опубликования оп 1 ПОЛИРОВАННЫХИХ ЭЛЕМЕНТОВ ния являетсисключени использованывыполненныесокой диэлекак, например, У-16-1852-74волокнистую, та, выполненсоединения, а. Пластина ется. 54) МАТЕРИАЛ ДЛЯ ОЧИС ПОВЕРХНОСТЕЙ ОПТИЧ Изобретение относится к области очистки, а конкретнее к технике очистки оптических элементов, в частности лазерных зеркал и может быть использовано в различных областях науки и техники.5Извеспны материалы для очистки лазерных зеркал в виде беличьей кисти. Недостатком беличьей кисти является то, что она оставляет на ловерхности зеркала микроцарапины. При отражении света от такой поверхноспи или прохождении света через эту поверхность возникает рассеянный фон, который сопровождает излучение и является некогерентной помехой, влияющей на точность измерений. Мелкая пыль бе личьей кистью не удаляется, степень очистки беличьей кистью составляет 0,90. Жидкие материалынапример, слирт, ацетон и др. для очистки категорически, запрещены, так как они разрушают зеркала.Наиболее близким по технической сущности к данному изобретению является материал для очистки полированных ктоверхностей оптических элементов, нанример, зеркал, состоящий из текстильных волокон 1 Ц. Недостатком этого матернала является возможность возникновения царапин на ло верхности лазерного зеркала и, кроме того нельзя удалять с поверхности мелкодисперсную пыль,Целью изобрете я повышениестепени очистки и е поврежден и й ловер хности.Поставленная цель достигается тем, чтов качестве материала для очистки полированных поверхностей оптических элементов, например зеркал, выбирается материал, состоящий из текстильных волокон,в качестве которых иопользованы полимерные волокна длиной 0,1 - 10 лтлт и диаметром 0,1 - 5,0 лтклт с относительной диэлектрической проницаемостью,не менее 1,5,при этом в качестве полимера используютполиакрилонитрил, имеющий формулуСН,= СН Для очистки зеркал были противошумовые вкладыши, из полимерных волокон с вь трической лроницаемостью. Т вкладыш типа Беруши Т представляет собой плоскую, рыхлую пластинку белого цве ную из высокомолекулярного например, полиарилонитрил легко изпибается и расслаива878377 СГ с 1 15 Формула изобрете 1 ния ФСоставитель С. МошкинТехред Т. Добровольская Корректор С. файн Редактор Л. Гольдина Заказ 1289/1003 Изд.542 Тираж 661 ПодписноеНПО Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Тип. Харьк. фил. пред. Патент Экспериментально было замечено, что вкладыши обладают запасом статического электричества.Работа с предложенным материалом заключается в следующем. Отделяют пластину (слой) вкладыша толщиной 0,1=0,5 мм от толстой кипы. Получепной рыхлой пластиной проводят над поверхностью (по наверхности) зеркала, при этом ,пластина снимает всю пыль, Материал моино использовать многократно, Усиленне степени очистками достигается рыхле,нием пластины.Степень очистки равна 0,98+ 0,1. Материал,не токсичен. 1, Материал для очистки полированных поверхностей оптических элементов, например, зеркал, состоящий из текстильных волокон, отлича ющийс я тем, что, с целью повышения степени очистки и 1 исключения. повреждений:поверхности, в качестве текстильных волокон использованы синтетические полимерные волокна длиной 0,1 - 10 мм и диаметром 0,1 - 5,0 Омкм с относительной диэлектрической проницаемостью не менее 1,5.2. Материал по п. 1, отл и ч а ю щи йс я тем, что в качестве, полимера используют полиакрилонитрил, имеющий формулу Источник информации, принятый во внимание,п,ри экспврпизе:1. М. Т. Ельников и др. Сборка и юстировка оптико-механических приборов. Машиностроение, М с, 33 - 37, 1974.
СмотретьЗаявка
2558979, 16.12.1977
ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ РАДИОТЕХНИКИ И ЭЛЕКТРОНИКИ АН СССР
ДЕДЛОВСКИЙ МИХАИЛ МИХАЙЛОВИЧ
МПК / Метки
МПК: B08B 6/00
Метки: материал, оптических, поверхностей, полированных, элементов
Опубликовано: 07.11.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-878377-material-dlya-ochistki-polirovannykh-poverkhnostejj-opticheskikh-ehlementov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Материал для очистки полированных поверхностей оптических элементов</a>
Способ контроля качества оптических поверхностей
Номер патента: 425043
Опубликовано: 25.04.1974
Авторы: Изобретени, Ларионов, Лукин, Мустафин, Рафиков
МПК: G01B 11/30
Метки: качества, оптических, поверхностей
...восстановленной голограммой 8. Если поверхность 6 не имеет отступлений от заданной формы, то теневая или ин.терференционная картина на экране 11 представляет однородный фон. При наличии отступлений на экране 11 возникают соответствующие перераспределения освещенности, по которым оценивают качество оптической поверхности. Для получения голограммы 8 на место контролируемой поверхности устанав.ливается высококачественное вогнутое сферическое или цилиндрическое зеркало с точно известным радиусом кривизны и с отверстием в середине, соответствующей юстировкой добгваются совмещения его центра кривизны с фокусом Р объектива 4 и их оптических осей путем наблюдения интерференционной картины на экране 11. По получении мини. мального числа...
Интерферометр для контроля качества оптических поверхностей
Номер патента: 1104362
Опубликовано: 23.07.1984
МПК: G01B 11/24, G01B 9/021
Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей
...от контролируемой поверхности. На чертеже изображена оптическаясхема интерферометра для контролякачества оптических поверхностей.Интерферометр содержит монохроматический источник 1 света, телескопическую систему 2 и светоделитель3, делящий световой поток на двеветви, микрообъектив 4, прямоугольнуюпризму 5, объектив 6, сферическоезеркало 7, установленное так, чтоцентр кривизны его совпадает с задней фокальной плоскостью объектива6, опорный оптический элемент 8,плоское зеркало 9, голограмму 10,объектив 11, диафрагму 12 и регистратор 13.Объектив 6 может быть выполненв виде двояковыпуклой линзы 14 имениска 15, обращенного вогнутостьюк двояковыпуклой линзе 14,Описываемый интерферометр работает следующим образом.Предварительно производят...
Интерферометр для контроля качества оптических поверхностей и систем
Номер патента: 1765803
Опубликовано: 30.09.1992
Авторы: Гвоздев, Кирилловский, Петрученко, Прохоренко
МПК: G01B 11/24, G04B 9/02
Метки: интерферометр, качества, оптических, поверхностей, систем
...которогоэлектрически связан с выходом фотоэле,рической матрицы, а выход- с механизмами 15подвижек, обеспечивает воэможность автоматизации настройки интерферометра засчет обработки сигнала, полученного на фотоэлектрической матрице при попадании нанее отраженного испытуемой системой в 20режиме автоколлимации изображения точечного источника света, блоком управления, который вырабатывает управляющиесигналы для приводов в зависимости от отклонения изображения точечного источника света от центра матрицы, что ведет такжек повышению производительности и достоверности контроля за счет ликвидации недетерминированных ручных операций, икроме того, обеспечивает повышение производительности при любой случайнойразъюстировке схемы контроля,На фиг, 1...
Устройство для контроля качества оптических поверхностей сложной формы
Номер патента: 349049
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Ларионов, Лукин, Мустафин
МПК: H01S 3/00
Метки: качества, оптических, поверхностей, сложной, формы
...может прцмецяться для контроля прц изготовлении сложных оптически." устройств и их элементов ц для юстцровкц оптических устройств.5 оиство для контроля качества оптич оверхцостей сложной формы, содерж ских Известны устройства для контроля качества оптических поверхностей по отклонению фронта светового потока, прошедшего через контролируемый элемент (или отраженного им) и компенсирующий объектив, от сферического или плоского.Недостатком известных устройств является ограниченность класса контролируемых таким устройством оптических поверхностей, обусловленная сложностью изготовления ц расчета компенсирующих объективов.Целью изобретения является расширение класса контролируемых оптических поверхностей, повышение точности контроля и...
Интерферометр бокового сдвига для контроля качества оптических поверхностей
Номер патента: 1048306
Опубликовано: 15.10.1983
Автор: Кладов
МПК: G01B 9/02
Метки: бокового, интерферометр, качества, оптических, поверхностей, сдвига
...оптический ромб 10 наклоняют.Чтобы определить положение оптического ромба 10, обеспечивающее заданныйбоковой сдвиг, рассмотрим работу интерм.ферометра 6 бокового сдвига,Обозначим матрицу отражения от зеркала 8 интерферометра Т матрицуотражения от зеркала 9 интерферометра ействи с=о,о, - вектор сдв ба 1 - заданный га фронтоко а гд ового сдви 1 104Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в интерференционных устройствах для контроля качества поверхностей оптических деталей,Известен .интерферометр бокового сдвига, предназначенный для контроля качества оптических поверхностей, содеркащий два светоделителя, два зеркала, плоскопараллельную пластину и клиновой компенсатор. Боковой сдвиг получают поворотом одного из...
Предыдущий патент: Способ очистки внутренних поверхностей труб
Следующий патент: Установка для промывки шлангов
Случайный патент: Станок для намотки электрических катушек