Устройство для ориентирования подземных съемок

Номер патента: 1283522

Опубликовано: 15.01.1987

Автор: Чемерилов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, оболочки

...оптической осимежду лазером 1 и оптической головкой 2 и закрепляемые на недеформируемом участке оболочки 6, оптическая головка 2 выполнена в виде двухсканисторов, продольные оси рабочихповерхностей которых взаимно перпендикулярны и параллельны сторонампрямоугольного отверстия диафрагмы5, а перед рабочей поверхностью каждого сканистора установлен светофильтр.Устройство работает следующим образом.Лазер 1 вместе с коллиматором 4и диафрагмой 5 закрепляется на недеформируемую часть оболочки 6, оптическая головка 2 устанавливается висследуемом сечении оболочки 6 на. ее поверхности. При неподвижной оболочке 6 ось лазерного луча, имеющего квадратное сечение, направленав точку пересечения продольных осейрабочих поверхностей сканисторов...

Номер патента: 55674

Опубликовано: 01.01.1939

Автор: Баскаков

МПК: B23C 1/18

Метки: графического, контура, корректирования, помощи, работающем, станке, фотоэлемента, шаблона

...путем применения приспособления, состоящего из распо. ложенного между источником света и микрообъективом кольца с диском, образующими кольцевую щель для освещения фотоэлемента. На чертеже фиг. 1 изображает схему предлагаемого приспособления, фиг. 2 - засвечивание шаблона.Свет от источника 1 собирается конденсором 2 и в виде параллельного пучка проходит через кольцевую щель, образованную кольцом 3 и диском 4. Изображение этой щели, как вторичный источник света, фокусируется на входном зрачке микро объектива б и в уменьшенном виде налагается на плоскость шаблона 7 в виде разорванного кольца 6 и своим краем освещает фотоэлемент 8, При перемене направления поперечной подачи точка 9 кольца б совмещается с заранее нанесенной белой точ. кой...

Номер патента: 93176

Опубликовано: 01.01.1952

Авторы: Баскаков, Фомин

МПК: G01J 1/30, G01J 1/44

Метки: источником, например, одним, прибор, света, фотометр, фотоэлектрический, фотоэлементом

...схему, обеспечивающую повышение яркости источника света прц уменьшении фототока з-за утомляемости фотоэлемента.1-1 а чеотсже зображеца принципиальная схема фотоэлектрического прибора. БРЕТЕнйЯ ротозлемент 1 воспринимаег;о.очередно световыс потоки Л и Б з зазисимости от положения вращающегося диска 2. В световом потш;.е Л у становлен предмет 3, прозраность которого следует определить. Световой поток Б попадает в фотоэлемент беспрепятственно. С помощью переклочателя 4, укрепленного на оси диска 2, фототок, соот-етствую нй световому. потоку А, направляется через гальванометр Е, а фототок, со.ответствующий снеговому потоку Б, управляет с помогць;о электроннах ламп 6 накалом лампы 7. Евду то. го, что в последнем слу:.ае фотоэлемент включен...

Номер патента: 96053

Опубликовано: 01.01.1953

Авторы: Егоров, Костюк

МПК: G01F 23/22

Метки: жидкости, осветителя, переносный, посредством, прибор, резервуарах, уровня, фотоэлемента

...определение уровня жи 1 костц и отличается тем, что осветитель и фотоэлемент установлены под одинаковымц углами к плоскому днищу корпуса-прибора и расположены в этом корпусе, подвешенцом ца мерной ленте или штанге, При этом для грубой и точной наводки на фотоэлемент светового луча, отраженного от поверхности жидкости, применены светофильтры со гцель 1 о,На фиг. 1 схематически изображен предлагаемый прибор; на фиг.2 показана его измерительцая (рег цстрирующая) система.Прибор (фиг. 1) выполнен в виде подвешецного на мерной ленте 1 или штанге металлического корпуса .3, в котором под одинаковым углом к плоскому днищу расположены осветитель 3 ц фотоэлектрическая головка 4. 6313 в Го с тех н и ку С С Сний М 10 аа 1953 г,9 б 053бую и тонкую...

Номер патента: 306339

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Скотников, Сухоруких

МПК: G01B 9/02

Метки: лучей, отклонения, света, углов

...исследованиях с помощью теневого прибора,Методом ножа и щели поле углов отклонения в исследуемой области определяется пу.тем обработки выполненных совместно снимков исследуемой и эталонной неоднородно.стей. В качестве эталонных неоднородностей,создающих эталонное распределение освещенности, используются наборы стеклянныхлинз или клиньев.Предложенный способэталонную освещенностьжеция теневого приборащения ножа Фуко изобъектива.Измерение углов отклонения луческой неоднородности производищим образом.Нож в приемной части теневого прибораустанавливают вне фокальной плоскости.Благодаря этому в поле зрения прибора создается эффективная линза (переходная ооласть освещенности) с фокусным расстояниемм э, определяемым по формулам длялинзовой и...