Устройство для определения деформаций оболочки

Номер патента: 1283522

Автор: Чемерилов

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИ 4 ЕСНИХРЕСПУБЛИК 119) 1 И) 15 Р 4 С 01 В 11/16 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯН АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТ 8 ЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(56) Авторское свидетел. ство СССР , 9 913060, кл. С 01 В 11/16, 1981. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ОБОЛОЧКИ(57) Изобретение относится к определению деформаций конструкций оптическими методами. Его цель - повышение точности определения деформаций за счет применения двух позиционных фотоэлементов и луча с прямоугольным сечением. Устройство содержит расположенные вдоль оптической оси лазер 1, коллиматор 4, диафрагму 5с центральным прямоугольным отверстием, закрепленные на недеформируемой части оболочки 6, и оптическуюголовку 2, выполненную в виде двухсканисторов, продольные оси рабочихповерхностей которых взаимно перпендикулярны, закрепленную на недеформируемом участке оболочки 6. Лучлазера 1, проходя через коллиматор4 и диафрагму 5 с прямоугольнйм отверстием, падает на сканисторы. Придеформировании оболочки 6 границысвет-ноль перемещаются по рабочимповерхностям сканисторов. 11 о этойвеличине смещения определяют деформации. 1 нл.3522 5 10 15 20 25 30 35 40 45 двух сканисторов, продольные оси р абочих поверхнос тей которых взаим 50 но перпендикулярны и параллельны ВНИИПИ Заказ 7421/35 Тираж 677. Подписное Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 1 128Изобретение относится к опредыению деформаций конструкций оптичес кими методами.Цель изобретения - повыщение точности определения деформаций за счетприменения двух позиционных фотоэлементов и луча с прямоугольным сечением,На чертеже показана схема устройства.Устройство содержит расположенные вдоль оптической оси лазер 1,закрепляемый на недеформируемомучастке оболочки, оптическую головку 2, закрепляемую на деформируемомучастке оболочки и соединенную сблоком 3 регистрации, коллиматор 4и диафрагму 5 с центральным прямоугольным отверстием, установленныепоследовательно вдоль оптической осимежду лазером 1 и оптической головкой 2 и закрепляемые на недеформируемом участке оболочки 6, оптическая головка 2 выполнена в виде двухсканисторов, продольные оси рабочихповерхностей которых взаимно перпендикулярны и параллельны сторонампрямоугольного отверстия диафрагмы5, а перед рабочей поверхностью каждого сканистора установлен светофильтр.Устройство работает следующим образом.Лазер 1 вместе с коллиматором 4и диафрагмой 5 закрепляется на недеформируемую часть оболочки 6, оптическая головка 2 устанавливается висследуемом сечении оболочки 6 на. ее поверхности. При неподвижной оболочке 6 ось лазерного луча, имеющего квадратное сечение, направленав точку пересечения продольных осейрабочих поверхностей сканисторов иперпендикулярна плоскости их ориентации. В местах формирования границы свет - тень на рабочих поверхностяхсканисторов изменяется крутизна нарастания видеосигнала. Двухканальныйэлектронный блок, входящий в блок3 регистрации, представляющий собойсхему обработки видеосигнала, регистрирует излучение. Меандр, длительность которого соответствуеттеневой зоне на рабочей. поверхности сканистора, заполняется высокочастотными импульсами. Цифровой частьюдвухканального электронного блокасчитываются и усредняются количества импульсов в меандрах обоих каналов, пропорциональных величинам измеряемых перемещений 1 деформаций),и выдаются на выход блока 3 регисграции.При перемещении оболочки 6 вокруг оси под действием массовых силпроисходит ее деформация. При этомграница свет - тень перемещается порабочим поверхностям сканисторов оптической головки 2. Перемещение (деформация) границы свет - тень по рабочей поверхности сканистора, расположенного тангенциальнок исследуемой точке оболочки, соответствуетперемещению этой точки в тангенциальном направлении,Перемещение (деформация) границысвет - тень по рабочей поверхностисканистора, расположенного по нормали к исследуемой точке оболочки,соответствует перемещению этой точ -ки в нормальном направлении. Формула изобретенияУстройство для определения деформаций оболочки, содержащее расположенные вдоль оптической оси лазер, закрепленный на недеформируемом участке оболочки, и оптическую головку, закрепленную на деформируемом участке оболочки и соединеннуюс блоком регистрации, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повыщения точности, оно снабжено коллиматором и диафрагмой с центральным прямоугольным отверстием, установленными последовательно вдоль оптической оси между лазером и оптической головкой и закрепленными на недеформируемом участке оболочки, оптическая головка выполнена в виде сторонам прямоугольного отверстиядиафрагмы, а перед рабочей поверхностью каждого сканистора установленсветофильтр .

Смотреть

Заявка

3864146, 07.03.1985

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6462

ЧЕМЕРИЛОВ ВИКТОР ВЛАДИМИРОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, оболочки

Опубликовано: 15.01.1987

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-1283522-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-deformacijj-obolochki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения деформаций оболочки</a>

Похожие патенты