Емкостной датчик для измерения прогиба
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 861929
Авторы: Николаев, Овчинников
Текст
. Союз Советских Социалистических Республик ОПИСАНИЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(51)М, Кл,с присоеаинением заявки 1 Е Ъвударстеенай кемктет СССР ео делам кзфйретекий и еткрытвйДата опубликования описания 07,09,81) ЕМКОСТНОИ ДАТЧИК ДЛЯ ИЗМЕ при" ая йей яется повырасширени достигает я явл сти иЭто зобретени твительно измерений торая обкладк кладка выполи оверхностью,ю шение чува диапазона тем, что ческая пр рической ект ны с цили бращенной Изобретение относится к йзмерительной технике.Известен емкостной дачтик, содержащий две обкладки с цилиндрическимиповерхностями, установленные с возможностью взаимного относительногосмещения при сохранении расстояниямежду ними 11 .Недостатками датчика являются низкая чувствительность, связанная стем, что смещение регистрируется пОплощади перекрытия обкладок, котораяпрямо пропорциональна смещению, иневозможность регистрации большихпрогибов, связанная с тем,что регист"рируется на поступательное, а вращательное движение исследуемогообъекта,Наиболее близким к изобретениюпо технической сущности являетсяемкостный датчик для измерения прогибсодержащий две обкладки, одной изкоторых является исследуемый объект,и диэлектрическую прокладку, расположенную между ними, а вторая обкл ка и диэлектрическая прокладка клеиваются к его поверхности 12. Недостатками данного емкостнодатчика являются сравнительно ни чувствительность, связанная с ли ной зависимостью емкости датчика изменяющихся в этом случае площад обкладок и толщины диэлектрическ прокладки, а также невозможность Орегистрации больших прогибов, так как в этом случае на поверхности приклеенных обкладок и диэлектрической прокладки могут возникнуть 5трещины, или прокладка с сбкладко могут отслаиваться от поверхности исследуемого объекта.86 929 4ний, так как имеется возможностьизмерения прогиба вплоть до разруше-,ния исследуемого объекта за счеттого, что одной из обкладок является сам объект, а вторая обкладка сним механически не скреплена. Фор.мула изобретения Составитель С. СурковРедактор С, Титова Техред А.Бабинец КорректорС.Щомак Заказ 6526/33 . Тираж 642 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д, 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул, Проектная, 4 выпуклостью в сторону исследуемогообъекта,На чертеже изображен емкостныйдатчик для измерения прогибов.,Емкостной датчик для измеренияпрогиба содержит обкладку 1 и диэлектрическую прокладку 2, выполненные с;цилиндрической поверхностью.Второй обкладкой является электропроводный исследуемый объект 3. Выпуклость цилиндрической поверхностиобкладки 1 и диэлектрической прокладки 2 обращена в сторону исследуемогообъекта 3.Емкостный датчик для измеренияпрогиба работает следующим образом.Обкладка 1 и исследуемый объект3 подключаются к измерителю емкости,исследуемого объекта 3 расстояниямежду ним и прокладкой 2 изменяются во всех точках, кроме точки контакта, на разные относительные величины, что приводит к изменениюемкости датчика, которое регистрируется измерителем емкости.Изобретение позволяет повыситьчувствительность измерений прогибаза счет большего изменения емкостипри изменении формы исследуемогообъекта из-за кривизны второй обкладки и расширить диапазон измере 1 ОЕмкостной датчик для измеренияпрогиба, содержащий две обкладки,одной из которых является исследуемый объект, и диэлектрическую про кладку, расположенную между ними,о т л н ч а ю щ и й с я тем, что, сцелью повышения чувствительностии расширения диапазона измерений,вторая обкладка и диэлектрическаяпрокладка выполнены с цилиндрическойповерхностью, обращенной выпуклостью,в сторону исследуемого объекта. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе25 1, Форейт И. Емкостные датчикинеэлектрических величин. М., "Энергия"1 966, с, 148, табл.5.2. Авторское свидетельство СССРЗо В 82237 кл. С 01 1. 1/4, 1949
СмотретьЗаявка
2657593, 14.08.1978
МОСКОВСКОЕ ОРДЕНА ЛЕНИНА И ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ВЫСШЕЕ ТЕХНИЧЕСКОЕ УЧИЛИЩЕ ИМ Н. Э. БАУМАНА
ОВЧИННИКОВ ИГОРЬ НИКОЛАЕВИЧ, НИКОЛАЕВ ВИКТОР ВАЛЕНТИНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/16
Метки: датчик, емкостной, прогиба
Опубликовано: 07.09.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-861929-emkostnojj-datchik-dlya-izmereniya-progiba.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Емкостной датчик для измерения прогиба</a>
Предыдущий патент: Счетный тензометр
Следующий патент: Устройство для определения параметров шероховатости поверхности
Случайный патент: 196044