Устройство для определения параметров шероховатости поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И И (и) 861930ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскихСоциалистическихРесттублик 61) Дополнительно вт. свид-вуДата опубликования описания 07, 0 9, 8 2) Авторы изобретеният:.;.,С г 1 й научно-исследоват ьскефц 1 щтитутт 71) Заявитель ен ернои метаплругтот им. И.П.Бардий РОИСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ 5 ня э рофиля.ому ти,У не ато Изобретение относится к измерительной технике и может быть исполь. зовано в металлургии и машиностроении для исследования микрогеометрии поверхностей.Известно устройство для контроля дефектов нитей и проволок, состоящее из последовательно соединенных первичного преобразователя и усилителя, схемы сравнения и счетчика, блоков формирования сигналов, пропорциональных усреденной и текущей тол-. щине нити, подключенных входами к ввтходу усилителя, а выходами - к входам схемы сравнения иНедостатком устройства является то что высота дефекта отсчитывается от среднеи линии только в одну сторону 1 т.е. либо только высота выступа,ли" бо только глубина впадины), что для счета выступов шероховатости неприемлемо, так как высота выступа должна отсчитываться от дна предшествующей тому выступу впадины, если послопускается ниже средней линии пНаиболее близким к описываемизоберетнию техническим решениемляется устройство для определения5параметров шероховатости поверхносодержащее профилометр, блок выделения высоты выступа от дна предыдщей впадины, вход которого соедиОс выходом профипометра, и амплитный анализ р Г 2,1 Недостаток этого устройства заключатеся в том, что оно не позволяетопределять число выступов, высоты которых от дна предыдущей впадины находятся в заданном интервале величин,Целью изобретения является определение числа выступов, высоты которыхнаходятся в заданном интервале.Цель достигается тем,что вход амплитудного анализатора соединен с выходом блока выделения высоты выступаот дна предыдущей впадины,861930 Составитель А. Куликовор Т. Кузнецова Техред И.Рейвес Корректор Н.Швидка аказ б 526ВНИИПИ Тираж 642твенного комиизобретенийЖ, Раушс Подпис ета СССР открытий я наб., д е суд 4/5 035, Иоскв"Патент Фили а жгород, ул. Проектная,. На чертеже представлена блок-схемаустройства.Устройство содержит последователь-, но соединенные профилометр 1, блок 2 выделения высоты выступа от дна предыдущей впадины и амплитудныйанализатор 3.Устройство работает следующим образом.Сигнал с выхода профилометра 1, пропорцюнальный текущей высоте профиля, поступает на вход блока 2В амплитудном анализаторе 3 определяется число выступов, высоты которых лежат в заданном диапазоне величин. Описанное устройство позволяет ,оперативна определять параметры шероховатости, характеризующие адгезионную способность поверхности. Формула изобретенияУстройство для определения параметров шероховатости поверхности,содержащее профилометр, блок выделения высоты выступа от дна преды.дущей впадины, вход которого соединенс выходом профилометра,и амплитудныйанализатор, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что, с целью определения числа1 о выступов, высоты которых находятся взаданном интервале, вход амплитудногоанализатора соединен с выходом блокавыделения высоты выступа ат днапредыдущей впадины.15 Истчоники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССРВ 58 б 315, кл.б 01 В 7/04, 1975.2, Проспект Фирмы " 1 ау 1 ог-НоЬгоп"
СмотретьЗаявка
2836244, 06.11.1979
ЦЕНТРАЛЬНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ЧЕРНОЙ МЕТАЛЛУРГИИ ИМ. И. П. БАРДИНА
АРТАМОНОВ ЮРИЙ СПИРИДОНОВИЧ, ПИМЕНОВ АЛЕКСЕНДР ФЕДОРОВИЧ, ТРАЙНО АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, ЛИПУХИН ЮРИЙ ВИКТОРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/34
Метки: параметров, поверхности, шероховатости
Опубликовано: 07.09.1981
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-861930-ustrojjstvo-dlya-opredeleniya-parametrov-sherokhovatosti-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для определения параметров шероховатости поверхности</a>
Устройство для выделения сигналов тактовой частоты из импульсной последовательности с переменными параметрами
Номер патента: 1003374
Опубликовано: 07.03.1983
Автор: Панченко
МПК: H04L 7/06
Метки: выделения, импульсной, параметрами, переменными, последовательности, сигналов, тактовой, частоты
...импульсов запрета первого подканала, которые поступают к второму входу первого элемента И 9, а отрицательные 0 дифференциалы обратной связи, прошедшие через включенный в обратном направлении четвертый детектор 6 (Фиг. 2 И) и преобразованные вторым инвертором 8 в положительные дифференциалы (фиг. 2 к) , используются в качестве дифференциалов обратной связи первого подканала, поступающих к разрешающему входу второго элемента 14 запрета, и импульсов запрета второго подканала, которые поступают40 к второму входу третьего элемента И 11.В случае совпадения передних фронтов входных диФФеренциалов первого . 4 подканала с началом тактового интервала Т, а передних фронтов входных дифференциалов второго подканаласо срединой тактового интервала Т,...
Способ выделения блоков редкоземельных руд в рудных телах редкометальных месторождений
Номер патента: 2001421
Опубликовано: 15.10.1993
Авторы: Вильшанский, Лейпциг, Мухлаев
МПК: G01V 9/00
Метки: блоков, выделения, месторождений, редкоземельных, редкометальных, руд, рудных, телах
...частями месторокдений и отдельными их горизонтами,3, Качество редкоземельных руд в пределах блоков месторождений изменяется в широких пределах, Содержание скандия, иттрия и отдельных лантаноидов в рудах меняется от кларковых (и. 104 - и. 10 о ) до многих сотен грамм или первых килограмм на тонну(п. 10 - и, 10 1 о ). Отдельные пачки или блоки месторождений характеризуются средними содержаниями скандия и иттрия 200-400 г/т, реже до 1 кг/т, и содержаниями суммы лантаноидов до 2,5 кг/т,4. Состав руд в отдельных пачках пород и блоках месторождений не остается постоянным, сн весьма резко меняется от существенно скандиевых или иттрий-скандиевых до иттрий-лантаноидных или чисто лантаноидных. В рудах разных блоков содержатся разные редкие или...
Способ определения гидравлически эквивалентных шероховатостей
Номер патента: 972166
Опубликовано: 07.11.1982
МПК: F15D 1/06
Метки: гидравлически, шероховатостей, эквивалентных
...помощи термоанемометрической системы производят измерения как расстояний от поверхности, обтекаемой турбулентным потоком. (координатником), так и величин сигналов датчиков, соответствуюгцих продольной скорости или ее среднеквадратичной пульсации.В случае измерения среднеквадратичной пульсации определяют слой с ее максимальным значением и измеренное расстояние от стенки у= у до этого слоя выбирают в ка 5честве размера шероховатости.При измерении продольной скорости определяют слой с изломом средней продольной скорости и измеренное расстояние от стенки у=- до этого слоя выбирают в качестве размера шероховатости.В зависимости от типа шероховатой поверхности существуют два варианта отсчета (измерения) у от шероховатой поверхности при...
Способ измерения высоты микронеровностей шероховатой поверхности и устройство для его осуществления
Номер патента: 1302141
Опубликовано: 07.04.1987
Авторы: Ангельский, Максимяк
МПК: G01B 11/30
Метки: высоты, микронеровностей, поверхности, шероховатой
...пластинка 13 преобразует взаимно ортогональные линейные поляризации составляющих информационных и опорного каналов во взаимно ортогональные циркуляционные поляризации. Суперпозиция взаимно ортогонально поляризованных волн опорной и любой из информационных составляющих дает линейную поляризацию с определенным азимутом при условии, что интенсивности суперпонирующих составляющих равны, Выравнивание интенсивностей достигается путем вращения четвертьволновой пластинки 2. Интенсивность света, прошедшего через систему четвертьволновая пластинка 2 - поляризатор 4, определяется взаимной ориентацией главной оси пластинки 2 и плоскостью пропускания поляризатора 4. Изменяя угол между указанными направлениями, управляют интенсивностью прошедшего...
Оптический способ измерения высоты шероховатости поверхности объекта
Номер патента: 1004755
Опубликовано: 15.03.1983
Авторы: Медведев, Поплавский, Таганов, Таганова
МПК: G01B 11/30
Метки: высоты, объекта, оптический, поверхности, шероховатости
...в плоскости падения, объективом 3 Фокусируют на поверхность исследуемого объекта 11 в пятно диаметром 100 мкм. Угол Ч падения излучения на объект 11 составляет 14.о Отраженный от объекта 11 световой поток регистрируют приемной системой в области сферического Фронта волны.Измерение интенсивности производят на краю дифракционной фигуры рассеяния, для чего получают индикатрису отражения путем вращения приемной системы вокруг исследуемого объек:" та 11. Регистрацию .изменения интенсивности отраженного потока осуществляют при фиксированном положе- б 5 нии приемной системы при линейномперемещении исследуемого объекта 11с сохранением положения нормали вплоскости падения. Статистическуюобработку сигнала с Фотоэлектронного умножителя 10,...
Предыдущий патент: Емкостной датчик для измерения прогиба
Следующий патент: Интерферометр
Случайный патент: Порошневой насос для криогенной жидкости