Пескомет для изготовления литейных форм

Номер патента: 1753237

Опубликовано: 07.08.1992

Авторы: Абубекеров, Баранов

МПК: G01B 5/20

Метки: детали, поверхности, формы

...операций; ускоренный подвод 10 15 20 25 30 35 40 измерительной головки к детали, торможение и медленный подвод головки к детали до контакта с нею щупа, затем отвод головки и выход на новую точку с повторениемвсего ряда выше описанных оп раций, чтб снижает производительность измерений.Цель изобретения - повышение производительности измерений.Указанная цель достигается эа счет того, что выбираютдополнительную систему координат измерительной головки КИМ, оси которой параллельны соответствующим осям координат КИМ или совмещены с ними, определяют положение точек поверхности в дополнительной системе координат, апри определении Формы поверхности учитывают алгебраическую сумму одноименных координат точек в обеих системахкоординатВ предложенном...

Номер патента: 60130

Опубликовано: 01.01.1941

Автор: Коломийцов

МПК: G01B 9/02, G03B 43/00

Метки: качества, линз, микрообъективов, поверхности, формы, фронтальных

...возможность наклонов относительно падающего пучка, благодаря чему испытанию может быть подвергнут любой участок испытуемой линзы 8.Описываемый интерферометр возможно оформить так, что его можно бу.дет навинтить на тубус обыкновенного микроскопа.Свет источника 1 собирается лин зой 2 на отверстии диафрагмы 3,находящейся на расстоянии нормальной длины тубуса от объективов 5 и 6.Плас гинка 4 разделяет на два1 ка расход, циеся лучи, падающие на:ь, Пучки эти затем собираются обге,тином 5 и 6 в точках 9 и 10, С этм точками совмещаются центры кривизны поверхностей 7 и 8. Вследствие этого после отра;кекия от последних поверхностей пучки возврашактся к пластинке 4 теми путями, какими шли от нее, и этой п.тастинкой соединяются в один пучок 11.При...

Номер патента: 306404

Опубликовано: 01.01.1971

Автор: Давыдов

МПК: G01N 23/06

Метки: металле, поверхности, ферми, формы

...количество резонансно рас- ССИ 3 ЯС 1 К КБс 13 ТО 3 . О) 13 ЗЯБИСИМОСТИ О Г ула ниоротл (- угол межлу определенН 11: К)СЛ.ОГРс 1 ф 1 ССКИМ НЯРЛ 3 ЛСНСМ ООРЯЗП, ПСРПСЦИ(У 7 ЯРНЬМ ОСИ СГО ВРЯЦ - ИИЯ, И ПЛПРЯЗЛЕНИСМ ИСПУСК 1 И 51 ЯННИПЛЯЦ - 013 Н 1 К СЯ ИОВ) КРИСТЯ;1 Ля, ТО ПОСЛС 131 С;СИ( ПОП РЯБК И 1 ПОЛ 01 ЦСИИС К 13 с 1 НТОБ 13 ИСТОИИ КС ПОЛс 1 НТ КЛРИНМ Кс 1 С 01 СИНО ПОДООНУ 0 30- Р 1 ЖСИПОИ И;1 фн. 4. ВС 7 ИИН 1 И фОРМ 3 М;1 К- с 31 уз 013 ил э ОЙ кр и 30 Й ЛОГжн пол нОстьО С 00 ГВСС 0 с 1 Ь фоРС ПЫСТ ПОВ НЛ ПОВСР .НО- с 1 и Фс";)и. Пр 03313(,51 ИО,ООП 1(. изм(.р(.ни ПРИ 3 РсЦСПИ 51. КРИСТс 1 Г 1 ЛЛ 1301 СР Г П(СКОЛЬКИ р с 13,7 ИИ(Я. На п р 3 3 Г 1(ПИ й, 10 К НО ИОЛИ Г. прслс 773 ление о токлягни ИОсркиоси Фс - МИ,Г 15,ЛИНОО )С...

Номер патента: 345352

Опубликовано: 01.01.1972

Автор: Щукин

МПК: G01B 9/02

Метки: детали, интерферометр, переносной, поверхности, формы

...стекло в виде сетки в системе прямоугольных координат.Для повышения точности контроля в качестве источника света осветительнои системы применен источник холодного свечения,На контрольном стекле выполнена сетка всистеме прямоугольных координат заданной5 толщины (5 - 7 мк) на основе смол и нитролаков, которая играет роль контактной прокладки и предохраняет стекло от повреждения. На него можно укладывать детали партиями. Смола и нитролаки обеспечивают дли 10 тельную работу, а также при надобности ихможно легко смыть ацетоном или спиртом инанести новые.На фиг. 1 схематично изображен предлагаемый пнтерферометр, общий вид; на фиг. 2 -15 вид сбоку.Интсрферометр содержит корпус 1, диафрагму 2, полупрозрачное плоское зеркало 3,установленное...

Номер патента: 435807

Опубликовано: 15.07.1974

Автор: Пухов

МПК: A61B 5/107

Метки: поверхности, тела, формы, человека

...фокальных плоскостях проекторов растровые решетки с одинаковым шагом и строго вертикальным расположением продольных линий. Растры проецируются проекторами на поверхность тела человека.Проекции растров механически интсрфериру ются между собой, образуя систему муаровыхполос. Середины темных или светлых полос соответствуют контурам ссчеиий изучаемой поверхности. Систему муаровых полос фотсграфцру 1 от кино-фстогрямметрической каме рой, причем плоскость снимка располагаетсяпараллельно плоскости растров. Для получения ортогоатального плана изучаемой поверхности в виде одномасштябных контуров сечений полученный снимок проециру 1 ст для От рисовки каждого из сечений поверхности няоумаге в плоскости экрана. Предварительно вычисля 1 от...