Способ исследования в отраженном свете оптических свойств углей

(23) ПриоритетОпубликовано 05.03.76, Бюллетень9Дата опубликования описания 07.06,76 61) М Кл. 01 М 21/4 сударственный комитет вета Министров СССР 5.3.32 88.8) о делам изобретений и открытий Авторыизобретен, С. Поваренны Т, М, Те кий ордена Тру институт иномарева, В. И. Лебеди Т, В, Ягнышеваного Знамени политехедовательский сектор х,М,Н.По р-Исраэляр дового Кра Научно-исс 71) Заявптел Б ИССЛЕДОВАНИЯ В ОТРАЖЕННОМ СВЕТОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ УГЛЕЙ ПО верхностях по пз монокрипри изготовлшария псслед способа звыч айнокоторых ющегося лавин сонпе света ария при стве, Изю шарийсложная вращ м ус паде олуш сгран вляется разработка лее точного и менее способа псследоваоптпческих свойств тем, что измен угла между нпям произвона полированрового сегменостранстве воных направлеженного света 1 о из изотропельнои рудных Изобретение может быть использовано при исследованиях в отраженном свете углей (углепетрография), а также кристаллических веществ, например рудных минералов (минералография) .В минералогии и петрографии для исследования оптических свойств прозрачных минералов в проходящем свете широко применяют федоровский метод, при котором используется универсальный федоровский столик, прикрепляемый к столику поляризационного микроскопа.Однако федоровским методом исследуют оптические свойства анизотропных прозрачных веществ в проходящем свете; им нельзя исследовать оптические свойства непрозрачных анизотропных веществ,До настоящего времени оптические свойства непрозрачных веществ обычно исследовались в отраженном свете на плоских полированных шлифах (аншлифах), например угольных. Недостатками этого способа являются отсутствие объективного критерия сохранения заданной ориентировки и необходимость изготовления различно ориентированных полированных шлифов для нахождения главных сечений оптической индикатрисы исследуемого вещества, например витринита, в образцах угля,Известен способ измерения отражат способности некоторых анизотропных 2 минералов на полированных по лушарий, которые вытачивают таллов способом, применяемым нпи оптических линз; эти полу ют на столике 11 ТК. Существенным недостатком этого является необходимость иметь чре точно выточенные полушария, центр должен совпадать с центром 10 столика, так как только при это храняется исходное нормальное на полированную поверхность п его поворотах в плоскости и про готовлсние полированных точных по 15 особенно пз углей, - чрезвыч айно операция. Целью изобретения я сравнительно простого, бо тр доемкого теодолитного 20 нпя в отраженном свете углей. Указанная цель достигается рение показателей отражения нормалями к изотропным сече 25 дят в условиях падения света ныи шлиф, имеющий форму ша та, который поворачивают в пр круг центра его кривизны в раз ниях и по интенсивности отра 30 находят главные сечения и одтЗаказ 1275/2 Изд,258 Тираж 1029 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография,Сапунова, 2 пр. ных сечений индикатрисы отражательной способности, например витринита. На этих сечениях известным способом измеряют истинные величины показателей отражения, одновременно замеряют пространственные координаты точек пересечения поверхности шлифа с нормалью к изотропному сечению и с малой осью индикатрисы, а затем по этим координатам определяют искомый угол между нормалями к двум изотропным сечениям.Предлагаемый способ исследования дает возможность объективно находить указанные сечения индикатрисы отражательной способности, что повышает точность определения всех трех показателей отражения (Р - максимального, Я,в - среднего и Й - минимального). Кроме того, он позволяет дополнить характеристику оптических свойств углей величиной угла между оптическими осями.Способ реализуется следующим образом.Из исследуемого образца угля изготовляют сферический полированный шлиф путем последовательных операций шлифования и полирования образца в вогнутых сферических абразивных поверхностях; ему придают форму шарового сегмента с постоянным радиусом кривизны и с переменным (или постоянным) диаметром основания,Сферический полированный шлиф устанавливают на столике рудного микроскопа с фотонасадкой (или электрофотометра) в специальном теодолитном устройстве, например в углепетрографическом теодолитном столике, разработанном в Донецком политехническом институте,Полированный шлиф устанавливается в таком положении, при котором центр его кривизны оказывается в центре пересечения всех осей теодолитного устройства (например, с помощью эластичной пористой подкладки).В процессе вращения угольного сферического полированного шлифа в любом направлении в пространстве вокруг центра его кривизны в условиях нормального падения монохроматического (или белого) линейно-поляризованного света (в иммерсионной среде или в воздухе) на полированную поверхность образца по показаниям измерительного электрического прибора, например микроамперметра, фиксирующего интенсивность отраженного света, находят главные сечения индикатрисы отражательной способности витринита. На найденных главных сечениях определяют истинные величины показателей отражениявитринита (Йи, Кт, Рт)Техника фотоэлектрического измерения интенсивности света, отраженного от исследуемого образца и от эталона, и вычисления по результатам измерений величин показателей отражения при теодолитном способе принципиально не отличаются от общепринятых, применяемых при исследовании плоских полированных шлифов.Для определения угла между оптическими осями шлиф вращают в пространстве вокруг центра его кривизны и наблюдают при этом за показаниями стрелки измерительного электрического прибора; вначале находят изотропное сечение, а затем - сечение по Рфи,Ориентируя эти сечения каждый раз нормально к падающему свету, определяют по лимбам сферические координаты точек пересечения шаровой поверхности с малой осью индикатрисы и с нормалью к изотропному сечению.Перенося на бумагу положение двух найденных точек, измеряют расстояние между ними., а затем, зная радиус кривизны поверхности шлифа, тригонометрическим вычислением определяют угол между ними на шаровой поверхности, который равняется половине угла между оптическими осями витрипита (нормалями к двум изотропным сечениям ее индикатрисы отражательной способности).Ошибка определения полного угла данным способом не превышает 5 - 6. 15 25 30 35 40 45 50 55 Способ исследования в отраженном свете оптических свойств углей на полированных шлифах путем измерения показателей отражения при нормальном падении линейно-поляризованного света, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности измерения истинных величин показателей отражения и определения в отраженном свете угла между нормалями к оптически изотропным сечениям, направляют пучок света на сферическую полированную поверхность шлифа, имеющего форму шарового сегмента, затем вращают шлиф по разным направлениям в пространстве вокруг центра его кривизны и определяют по интенсивности отраженного света положение изотропного и главных сечений индикатрисы отражательной способности, определяют истинные величины показателей отражения, одновременно измеряют сферические координаты точек пересечения полированной поверхности шлифа с нормалью к одному из изотропных сечений и с малой осью индикатрисы, по которым затем вычисляют искомый угол между нормалями к двум изотропным сечениям.