Способ определения деформации посредством электронно лучевой трубки

Номер патента: 81669

Автор: Гончарский

ZIP архив

Текст

Класс 42 К 18 о 21 е, 11, Р. 81669 СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУЛ, А, Гончарский 1 СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИ 11 О(СРЕДСТВОМ ЭЛЕКТРОННО-ЛУЧЕВОЙ ТР БК 1баии.;сио 31 Искабри 1948 г. аа Ха 389479 и Комитст по изобрстсниим и отииытиим при Со"стс Мии 1 стров СССРВ известных способах определения деформации посредством электронно-лучевых трубок, отклоняющие пластины которых выполнены подвижными, величина отклонения электронного луча, зависящая от величины деформации, определяется визуально по перемещению светя. щейся точки на экране трубки.В описываемом способе определения деформации посредством электронно-лучевой трубки величина отклонения электронного луча для определения величины и направления деформации определяется по раз. ности электронных токов двух дополнительных алектродов, расположенных в трубке по ходу электронного луча.На фиг. 1 показан индикатор в криволинейной электронно-лучевой трубке; на фиг, 2 в индикатор в прямолинейной трубке,В электронно-лучевой трубке 1 (фиг. 1) одна из отклоняющих пластин 2 выполнена подвижной относительно другой пластины 3 и установлены два дополнительных электрода 4 и 5. Приближение и удаленп. пластины 2 от пластины 3 происходит под действием внешних усилий. Луч электронов, излучаемый электронной пушкой 6 (траектория его показана пунктиром), отклоняется пластинами 2 и 3 и попадает на электроды 4 и 5, Напряжение, подаваемое на Отклоняющие пластины, под. бирается такой величины, чтобы в начальном положении луч электронов распределялся между обоими электродами 4 и 5 равномерно, вызывая в цепи каждого равные токи. При сближении отклоняющих пластин градиент поля между ними возрастает и соответственно возрастает угол отклонения луча электронов. С изменением угла отклонения луча электронов нарушается равенство токов в цепях электродов 4 и 5, Знак н величина разности токов определяют величину и направление деформации,Электронно-лучевая трубка (фиг, 1), используемая в качестве индикатора деформаций, изогнута так же, как и расположенные в ней огклоняющие пластины. Чем больше (до определенных пределов) изгиб луча, тем больше чувствительность индикатора, Однако пользование криволинейной трубкой не всегда удобно. Для устранения этого неудоб. ства можно применить другое устройство отклоняющих пластин, позво. ляющее получить в прямолинейной электронно-лучевой трубке доста. точно большую чувствительность.Ь"о 81669 Отклоняющая система п 1 р 51 ыолинейнои электронно-лучевой трубки состоит из четырех (или другого числа) пар отклоняющих пластин. На. правление отклоняющего поля каждой следующей пары пластин противоположно направлению отклоня 1 ощего поля предыдущей пары, поэтому, двигаясь вдоль системы отклоняюших пластин, электронный луч. движется по волновой линии. Отклоняющие пластины индикатора жесгко соединяются в две группы, одна нз которых закрепляется в трубке, а вторая является подвижной. Перемещение подвижной системы изменяет градиент электрического поля между отклоняющими пластинами, а. следовательно, и перемещение луча электронов ОтпосительнО ламелей,ГФ Редактор А хрсд А. Л. Сосина Корректор В, П. фомига Уткин Ф 108/и Объем 0;17 и.,гЦена 25 коп.; с 1.1-61;, - 3 коппо делам изобретений и открытийвете Министров СССРМ. Черкасский пер., д, 26. Поди. к пел, 2.Х 11-60 г.Зак. 10472ЦБТИ п Тираж 22 Ком птсте при С а, ЦентрМоска ипографин ЦБТИ Комитета ио делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР, Москва, 11 етровка, 4,Предмет изобретенияСпособ определения деформации посредством электронно-лучевой. трубки, отклоняющие пластины которой выполнены подвижными, от - л и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью определения величины и направления. деформации, определяют разность электронных токов двух дополнительных электродов, расположенных в трубке по ходу электронного, луча.

Смотреть

Заявка

389479, 31.12.1948

Гончарский Л. А

МПК / Метки

МПК: G01B 7/16

Метки: деформации, лучевой, посредством, трубки, электронно

Опубликовано: 01.01.1949

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-81669-sposob-opredeleniya-deformacii-posredstvom-ehlektronno-luchevojj-trubki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформации посредством электронно лучевой трубки</a>

Похожие патенты