Способ изготовления пористых абразивных изделий

Номер патента: 1006930

Опубликовано: 23.03.1983

Автор: Шамбуров

МПК: G01J 4/04

Метки: азимутов, волн, кристаллах, направлений, обхода, осей, поляризации, реализации, собственных, эллипсов, эллиптичностей

...эллиптичной поляризации собствен.ных волн в кристаллах.Известны способы и устройство дляизмерения параметров эллиптическойполяризации собственных волн в кристаллах 1.1 ООднако эти способы и устройстване позволяют одновременного и непосредственного определения параметровэллиптической поляризации собственныхволн в кристаллах.Наиболее близким к изобретениютехническим решением" является способизмерения эллиптицностей, направлений обхода и азимутов осей эллипсовполяризации собственных волн в кристаллической пластинке, заключающийсяв том, цто на исследуемую кристаллическую пластинку направляют по нормали поляризованное излучение, изменяют азимут его поляризации по отношению к исследуемой пластинке до совпадения азимута поляризации...

Номер патента: 504071

Опубликовано: 25.02.1976

Авторы: Дамаскин, Лейбович, Мезенцев, Шмунис

МПК: G01B 5/24

Метки: биения, вращения, осевого, оси, положения, шпинделя

...плитой 4, киндель приводят во вращение, после чего с помощью регули ровочных винтов 5 наклоняют плиту 4 так, чтобы разность. показаний измерите ля 2 была бы минимальной, Найденное положение наклоняемой плиты отмечают по измерителям 6 наклона. Обычно используют два измерителя, расположенных в двух взаимно перпендикулярных направ лениях.Затем останавливают вращение шпиц деля и перемещают накладной регулируемый столик по поверхности стола поверяемого станка так, что измерительный на 1 конечник измерителя 2. проходит примерно по тем же точкам наклоняемой плиты 4, что и при вращении шпинделя,С помощью регулировочных винтов 5 наклоняют плиту 4 так, чтобы минимизировать разность показаний измерителя 2, Новое положение наклоняРмой плиты 4 также...

Номер патента: 116157

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Иванов, Михайловский, Устименко

МПК: E21B 47/022, G01B 7/30

Метки: азимута, дистанционного, многократного, наклона, оси, прибор, скважины, угла

...Преобразование значений угла наклона и азимута в пропорциональные им промежутки времени между импульсами (параметр выбранной время-импульсной системы телепередачи) осуществлен двумя съемниками, размещенными соответственно на осях вращения отвеса и магнитной стрелки. Каждый съемник приводится в равномерное вращательное движение своим часовым механизмом, пуск которого осуществляется в момент общей разарретировки датчика.На фиг. 2 показан датчик прибора, состоящий из поворотной дюралевой рамки б, в которую вмонтирована чашка датчика 7 с часовым механизмом и магнитной стрелкой. Ось,вращения стрелки совпадает с осью вращения съемника часового механизма, Центр тяжести рамки смещен так, что в свободном состоянии рамка своей плоскостью...

Номер патента: 518619

Опубликовано: 25.06.1976

Автор: Лукьянов

МПК: G01B 11/00

Метки: изображений, координат, между, расстояний, точками

...устройством 1 Э илирепстратором 14 поквзаний блока 12.ибнока 15 управления устройством 13 и регистуаторзм 14,Дчя индикации момента наведения спужит идкатор 16, который расположен, нв:рлер на каретке твк, что его изображене распопожено в попе зрения наблюдательной сстель. 7.Выход фотоприемника 5 связан с блоком17 формирования сигнала. наведения, которьй обеспечивает срвбвтыввние блока 15.Кроме того, от сигнала с блока 17 можетосуи.есттпяться также вкпючение и вькпючение узла точного привода 10.О эавсмости, от метода, выходнойсиги блока 17 может быть в виде импульса, аи аналогового вида, При аналоговом выходе дополнительно используется формирователь илтульса 18, который спужит дпясрабатывания блоков 11 и 15.1 орелещение светового...

Номер патента: 951067

Опубликовано: 15.08.1982

Автор: Тищенко

МПК: G01B 5/20

Метки: оси, отклонений, поверхности, расположения, формы

...профилей сечений контролируемой детали плоскостями, перпендикулярйыми к ее оси, В зависимости от значения полученных координат то чек, от требуемой точности измерений и от размеров макета устанавливают масштаб моделирбвФЙМщ фспроиэводят полученное множество точек в заданном масштабе.на цМФийрИческом маке те, например, накрдниками радиаль но закрепленных микрометрических винтов, оси которых лежат в плоскос тях, перпендикулярных к оси макета и отстоящйх друг от друга на расстояниях, пропорциональных расстояниям между плоскостями сечений детали, моделируя тем самым измеренную поверхность.В случае измерения внутренней по верхности детали отклонение формы равно наибольшему расстоянию от точек реальной поверхности до вписанного в нее...