Патенты с меткой «эллиптичностей»
Способ измерения эллиптичностей, направлений обхода и азимутов осей эллипсов поляризации собственных волн в кристаллах и устройство для его реализации
Номер патента: 1006930
Опубликовано: 23.03.1983
Автор: Шамбуров
МПК: G01J 4/04
Метки: азимутов, волн, кристаллах, направлений, обхода, осей, поляризации, реализации, собственных, эллипсов, эллиптичностей
...эллиптичной поляризации собствен.ных волн в кристаллах.Известны способы и устройство дляизмерения параметров эллиптическойполяризации собственных волн в кристаллах 1.1 ООднако эти способы и устройстване позволяют одновременного и непосредственного определения параметровэллиптической поляризации собственныхволн в кристаллах.Наиболее близким к изобретениютехническим решением" является способизмерения эллиптицностей, направлений обхода и азимутов осей эллипсовполяризации собственных волн в кристаллической пластинке, заключающийсяв том, цто на исследуемую кристаллическую пластинку направляют по нормали поляризованное излучение, изменяют азимут его поляризации по отношению к исследуемой пластинке до совпадения азимута поляризации...