Способ определения деформаций объекта

Номер патента: 1504499

Авторы: Бахтин, Глухов, Городнюк, Костюченко, Николаев, Перк

ZIP архив

Текст

СОЮЗ СОВЕТСКИХ.СОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК А 1 91 (И) 1 В 11/16 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТПРИ П(НТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ А ВТОРСКОМУ СВИДЕ ЕЛЬСТВУ деформаций путемдеформаций исследудаляемых из голов промежутке времциями. Для этого пределения знакемых объектов,рафическои схемыни между экспозиосле достиженияо объекта с исслеконтакта эталонно ьной оси свокруг нее,ующее способ,огерентного изую по ходусистему 2 форпредметногоор 3, держатановленные в вертикалвозможностью вращенияУстройство, реализсодержит источник 1 клучения, расположеннизлучения оптическуюмирования опорного ипучков, фоторегистраттель 4 исследуемого олонный объект в виде бъекта 5, этапланки 6 иэ установи с яоэмож ферромагнитного материал ленной на вертикальной о щения вокруг нее, ограниеремешения планки 6, ус 1; ностью чи тель(71) Московский институт стали исплавов(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙОБЪЕКТА(57) Изобретение относится к измерительной технике, а именно к приспособлениям для голографических устройств, предназначенных для измерений деформаций. Цель изобретенияповьппение достоверности определения Изобретение относится к измерительной технике к приспособлениям для голографических устройств, предназначенных для Измерения деформаций,Цель изобретения - повыщение достоверности определения деформаций путем определения знака деформаций исследуемых объектов, удаляемых иэ Голографической схемы в промежутке времени между экспозициями.На фиг. 1 приведена схема устройства, реализующая способ; на фиг. 2 - эталонный объект в виде планки и ограничитель перемещения планки, усдуемым устанавливают со стороны исследуемого объекта в контакте с эталонным объектом ограничитель переме-,щения эталонного объекта, перед деформированием эталонный объект удаляют, а перед повторной записьюобъектов на голограмму эталонныйобъект вновь перемещают по той жетраектории до достижения контакта сисследуемым объектом или ограничителем, записывают объекты на голограмму, получают двухэкспозиционнуюинтерферограмму и по наличию или отсутствию интерференционных полос на эталонном объекте судят о знаке деформации. 2 ил.)504499 50 новленный с воэможностью вращениявокруг вертикальной оси и фиксацииего положения и расположенный междудержателем 4 объекта 5 и планкой 6с возможностью фиксации контакта сней, и систему 8 перемещения планки6, выполненную в виде электромагнита с держателем, размещенного междудержателем 4 объекта 5 и ограничителем 7,Способ осуществляют следующимобразом,Исследуемый объект 5 закрепляютв специальном держателе 4, поэволяющем удалять его из голографическойсхемы и точно возвращать на то жеместо, и перемещают эталонный объектв виде планки 6 из Ферромагнитногоматериала, установленной на вертикальной оси с возможностью вращениявокруг нее, до контакта с исследуемым объектом 5. Контакт эталонногообъекта в виде планки 6 нз ферромагнитного материала с исследуемым обес 25печивают за счет того, что ее перемещение и фиксацию контакта с исследуемым объектом 5 осуществляют с помощью системы 8 перемещения планки6, выполненной в виде электромагнита с держателем, размещенного междудержателем 4 объекта 5 и ограничителем 7. В систему 8 перемещения планки 6 входят также источник питания(сеть) и регулятор тока (не показаны), Регулятор тока позволяет регулировать силу магнитного взаимодействия электромагнита с планкой 6,что позволяет исключить возможностьдеформации планки или смещения 40объекта 5 в держателе 4 в моментконтакта при слишком большой величине магнитного поля. Оптимальнымявляется включение электромагнитапри нулевой силе тока с постепенным 45его увеличением до момента, когдасила тока станет достаточной дляперемещения планки 6. При необходимости выключения электромагнита навремя экспозиции выключение осуществляют путем плавного уменьшениятока в нем до нуля, при таком выключении не произойдет отхода планкиот объекта 5.После достижения контакта планки6 с исследуемым объектом 5 устанав 55ливают со стороны исследуемого объекта 5 в контакте с планкой 6 ограничитель 7 перемещения планки 6, выполненный с возможностью вращениявокруг вертикальной оси, фиксируютего в этом положении. При этом ограничитель 7 будет расположен междуисследуемым объектом 5 и планкой 6в контакте с ней, в то время какпланка 6 будет находиться в контакте с объектом 5. Фиксацию ограничи"теля 7 в укаэанном положении можноосуществить разными способами, например с помощью магнита или с помощью винта,Затем освещают объекты излучением от источника 1 когерентного излучения, прошедшим расположеннуюпо ходу излучения систему 2 формирования опорного и предметного пучков, и записывают их голограмму нафоторегистраторе 3. Таким образом,на этой голограмме осуществлена запись недеформированного состоянияисследуемого объекта 5 и находящегося с ним в контакте эталонного объекта в виде планки 6 иэ ферромагнитного материала,После записи голограммы планку 6 перемещают от объекта (ограничитель 7 при этом остается в фиксированном положении), объект 5 удаляют из схемы (если это необходимо), деформируют его и возвращают обратно в схему, точно на то же место, планку вновь перемещают по той же траектории до достижения контакта либо с ограничителем 7, либо с исследуемым объектом 5. И повторно записывают объект 5 в планку 6 на голограмму, В результате этого получают двух- экспозиционную голограмму, восстанавливают ее, регистрируют интерференционную картину на исследуемом объекте 5 и выясняют - имеются ли интерференционные полосы на планке 6. Если полос нет, то это означает, что планка 6 при возвращении в фиксированное положение дошла до ограничителя 7, т,е, объект 5 относительно своего первоначального положения сместился в направлении от планки, если же полосы есть, то наоборот - объект сместился к планке, Зная знак перемещений в точке контакта, можем определить знак деформаций в любой точке поверхности объекта 5 по интерференционной картине.Составитель Б. ЕвстратовРедактор А. Долинич Техред М,Моргентал Корректор М. Шароши акаэ 5240/41 Тираж 683 ПодписноеНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 роизводственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагаринд,О 5 150449формула изобретения Способ определения деформаций объекта, заключающийся в том, что перемещают эталонный объект до кон 5 такта с исследуемым объектом, освещают объекты когерентным излучением, записывают их на голограмму, после деформирзвания исследуемого объекта вновь записывают объект на голограмму, восстанавливают полученную двухэкспоэицнонную голограмму, регистрируют интерференционную картину и наличие полос на эталонном объекте 9 6и по полученным данным определяютдеформацию, о т л и ч а ю ш и й с ятем, что, с целью повышения достоверности определения деформаций, последостижения контакта эталонного объекта с исследуемым фиксируют положениеэталонного объекта, перед деформированием эталонный объект удаляют, аперед повторной записью объектов наголограмму эталонный объект возвращают по первоначальной траекториидо достижения контакта с исследуемымобъектом или в зафиксированное положение.

Смотреть

Заявка

4384039, 29.01.1988

МОСКОВСКИЙ ИНСТИТУТ СТАЛИ И СПЛАВОВ

КОСТЮЧЕНКО ВЛАДИМИР ПЕТРОВИЧ, БАХТИН ВЯЧЕСЛАВ ГЕННАДЬЕВИЧ, ГЛУХОВ ЛЕОНИД МИХАЙЛОВИЧ, ПЕРК ОЛЬГА НИКОЛАЕВНА, НИКОЛАЕВ ВЛАДИМИР АЛЕКСЕЕВИЧ, ГОРОДНЮК ТАТЬЯНА АЛЕКСЕЕВНА, ГОРОДНЮК НИКОЛАЙ ФИЛИППОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций, объекта

Опубликовано: 30.08.1989

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1504499-sposob-opredeleniya-deformacijj-obekta.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения деформаций объекта</a>

Похожие патенты