Устройство для испытания механических свойств шариков
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 71231
Автор: Дымшиц
Текст
Устройство для испытания механических свойств шариковЗаявлено 8 августа 1944 года в Народный комиссариат среднего машиностроения СССР за Не 136 (336932)Обычный метод испытания стальнь 1 х шариков по их механическим свойствам заключается в том, что испытываемый шарик заставляют падать на твердую плоскую поверхность, и о его свойствах судят по высоте отскока. Особенностью предлагаемого устройства является применение для отсчета высоты отскока шарика оптического светового приспособления, представляющего собою установленный на определенной высоте Источник света для направления луча на испытываемый шарик с той Целью, чтобы по отражению луча от поверхности шарика на неподвижную шкалу можно было судить о высоте подскока шарика.Предложенное устройств-о схематически изображено на чертеже, где Ъ-источник света, 2, 2 и 2 различные положения шарика во время взлета и 3-неподвижная шкала прибора.Как показано стрелкой, луч света 4 от источника 1 падает на поверхность шарика и, отражаясь в зависимости от положения последнего по вертикали под различными углами, попадает на различные точки шкалы прибора.Устройство для испытания мехапических СВОЙСТВ шариков, ОСНОВЗНное на отсчете высоты отск-ока шарика от отражательной плоской поверхности, о т ли ч а ю Щ ее с я применением источника света, установленного на определенной высоте над отражательной поверхностью и предназначенного для направления луча на испытуемый шарик с той целью,чтобы по отражен-ню луча от по верхности шарика, отброшенному на шкалу, судить о высоте подскока шарика.
СмотретьЗаявка
136, 08.08.1944
Дымшиц Е. С
МПК / Метки
МПК: G01B 11/14, G01N 3/52
Метки: испытания, механических, свойств, шариков
Опубликовано: 01.01.1948
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-71231-ustrojjstvo-dlya-ispytaniya-mekhanicheskikh-svojjstv-sharikov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для испытания механических свойств шариков</a>
Предыдущий патент: Способ исследования веществ под микроскопом
Следующий патент: Устройство для передачи на расстояние угла поворота флюгера анеморумбографа
Случайный патент: Способ интегрального приема сигналов частотной телеграфии