Подложка для исследования политерм поверхностного натяжения металлических расплавов

к.в 1 НИЯ Союз Советских Социалистических Республик-6 А- РЕТ оц 7 ОО 8 ТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВ лнительное к авт. свид-ву(22) Заявлен 0 6.78(21 3193 18 рисоединением заявки И 01 Н 13/02 арствеииый комитетСССРделам изобретеиийи открытий осу) Приоритет - Опубликовано 30.11.79.Бюллетень Йо 44 43. 542 088 8) Дата опубликования описания 12.12 2) Авт Д, Т. Озниев брете(71) ЗаяВитЕ Чечено-Ингушский государственный университе 54) ПО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПОЛИТЕРМ ПОВЕРХНОСТНАТЯЖЕНИЯ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ РАСПЛАВОВ ого натяжения и прочих равэтим, при пеуемого сплава обходимость енности когда ественно раз- поверхностного сится к о-химическконкретноования полжения метомлежащ О 2 Изобретение отно бластии ссл едов ан и я фи зик о их свойствжидкостей, а более к устройствам для исслед ит ермповерхностного натя аллических расплавов метод ейкаплиИзвестны подложки, выполненные ввиде плоских пластин с отшлифованнойгоризонтальной поверхностью, на которой покоится капля исследуемой жидкости 1). Такие подложки не позволяютполучить каплю строго симметричнойформы, отклонение от которой приводитк резкому повышению ошибки измеренияповерхностного натяжения жидкости,В связи с этим предложены, подложки,имеющие Форму тел вращения с поверхностью, ограниченной кольцевым ребром, расположенньм в горизонтальной 2плоскости, на которой принудительноформируется капля симметричной формы,Наиболее близким к изобретениютехническим решением является подложка, содержащая емкость, ограниченнуюострым кольцевым ребром, на которойпринудительно формируется капля исследуемого расплава 2,Как известно, диаметр кольцевогоребра подложки функционально зависит 3 от величины поверхност и плотности расплава и ных условиях. В связи реходе от одного исслед к другому, возникает н менять подложки, в осо исследуются сплавы, су личающиеся по величине натяжения и плотности. Замера подложки, находящейся, например, в вакуумной камере и в условиях сверхвысокого вакуума, связана с большими трудностями и требует много времени. Например, разгерметизация камеры с целью замены подложки, замена ее и проведение вакуумной обработки перед новой серией экспериментов занимает в среднем 15-20 ч, Если учесть необходимость изготовления и калибровку каждой новой подложки, то на это уходит примерно 30-40 ч. Кроме тогоотклонения в размерах, допущенные во время изготовления подложки, при калибровке и термовакуумной обработке ее, могут вызвать ошибки в измерении поверхностного натяжения, которые по величине в отдельных случаях намного превышают сшибки самой методики измерения.700824 формула изобретения 30 ЦНИИПИ Заказ 7386/35 аж 1073 одписное лиал ППП Патент,тна город, ул. Указанные выше недостатки не позвбляют точно измерять поверхностноенатяжение в широком диапазоне концентраций двух-или многокомпонентныхрасплавов в одних и тех же условияхэксперимента,Целью изобретение является повышение достоверности результатов исследов ани я и с окращение времени пров еде-,ния эксперимента.Для этого подложка снабжена обечайкой с несколькими кольцевыми ребрами разных диаметров, расположенныМи в одной плоскости, образуя, какбы подложку с ребром дискретно-переМенного диаметра (Фф "Сфд) . Нижйяя плоскость обечайки выполнена стро го параллельно плоскости, проходящейчерез острые кромки ребер, для неПосредственного контроля за горизонтальным положением подложки во времяпров едени я эк сперимента, к огда острые кромки ребер закрыты исследуемойкаплей расплава.На фиг. 1 представлена подложка,в разрезе; на фиг. 2 - то же,в плане.Подложка содержит основание 1 с, 25углублением, образующим емкость 2,и обечайки 3 с ребрами разных диаметров.Подложку используют следующимобразом.УстановИв подложку так, чтобыкромки ребер совпадали с горизонтальной плоскостью, наливают исследуемый расплав в емкость 2 до образования капли наименьшего диаметра. 35Пут ем ф от ографировани я профилякапли и обмера фотоснимков определяют оптимальность характеристик параметров. В случае несоответствия оптимальности, добавляя исследуемый 40расплав, получают каплю на следующемребре и снова проверяют. Операцииповторяют до тех пор, пока не получают каплю оптимальных размеров, которая необходима для более точногоизмерения поверхностного натяженияпо известной методике. Предлагаемая подложка позволяет исследовать поверхностное натяжение расплавов в широком интервале температур и,концентраций и намного ускоряет процесс проведения исследований, так как не заменяя подложку, можно проводить измерение поверхностного натяжения нескольких сплавов в одних и тех же условиях. Для изготовления подложки необязательно знать заранее приближенные значения поверхностного натяжения и плотности, по которым оценивается размер подложки.Данная подложка позволяет контролировать горизонтальность расположения кольцевых ребер в процессе эксперимента, ведя наблюдение за нижней плоской поверхностью обечайки, которая параллельна плоскости, проходящей через острые кромки ребер. одинаковость условий эксперимента и строгий контроль за горизонтальностью подложки повышает достоверность результатов .измерения. Подложка для исследования политерм поверхностного натяжения металличес" ких расплавов, содержащая. емкость с одним кольцевым ребром, о т л и - ч а ю щ а я с я тем, что, с целью повышения достоверности результатов исследования и сокращения времени проведения эксперимента, она снабжена обечайкой с несколькими кольцевыми ребрами разных диаметров, расположенными в одной плоскости, причем нижняя плоскость обечайки выполнена строго параллельно плоскости, проходящей через острые кромки ребер.Источники информации принятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР Ф 276509, кл. 6 01 М 13/02, 1969,2. Сб. Поверхностные явления в растворах и возникающих из них твердых фазахНальчик, 1965, с. 212.