Способ определения кривизны поверхности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 636465
Авторы: Махновский, Митягин
Текст
Союз Советских Социалистических РеспубликОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(43) Опубликовано 0512 сударстоениый комитетоаета Министров СЫРао делам изобретенийи отнрмтнй 78.бюллетень4 описания 15.12.7 3) УДК 531.717. Ф. Махновский и Ю. И. Мит енинградский ордена Ленина институт инженер железнодорожного транспорта имени академикВ. Н. Об аэцова 71) Заявител(54) ЕНИЯ КРИВИЗНОСТИ Б ОПР ПОВЕ миды,длины угол оранки пи число отсчета д диагонали отпечатка;Ь - число отсчета длполудиагонали; тпечатками; Определение кривизны поверхности осуществляется следующим образом,На контролируемую поверхность 1 наносят два отпечатка 2 и 3, вертикаль ные оси (ось пирамиды) 4 и 5 которых параллельны и расположены на расстояни 0 , которое выбирают в зависимости от размеров контролируемой поверхности и твердости материала. Измеряют длины полудиагоналей ц и д отпечатко и производят расчет тангенсов углов й и г между нормалями к измеряемо7поверхности в точках нанесения отпечатков и осью пирамиды по формуле в н е1 о н 1(1 2) Ямали 1-го (1 го,оси индентора; угол наклогде ан ков е =1 дА го) отпечатИзобретение относится к измеритель ной технике, а именно к измерениям малых диаметров и кривизны поверхности.Известен способ определения кривизны поверхности, заключающийся в том,что на контролируемую поверхность наносят индентором отпечаток и исследуют его 1Недостатком известного способа является то, что он применим только для выпуклых поверхностей.Целью изобретения является расширр ние диапазона измерения.Эта цель достигается тем, что на контролируемую поверхность наносят на равном расстоянии несколько отпечатков с помощью алмазной пирамиды с равно- наклонными гранями, измеряют парамет ры отпечатков и рассчитывают кривизну по формуле 8- расстояние междуй - радиус кривизны,Способ поясняется черте636465 на равном расстоянии несколько отпечатков с помощью алмазной пирамиды с равнонаклонными гранями, измеряют параметры отпечатков и рассчитывают кривиз- % ну по формулегт-кт1я еб -фГ 3 гТ клона нормали 1 -го ( 1-го, 2-го) огпечатков к Оси индентора;Д, - угол огранки пирамиды;Д - число Отсчета для длины меньшей Б диагонали отпечатка;число отсчета для длины большейпОлуд иагонал и 18, - расстояние между отпечатками, Я - радиус кривизны,Способ определения кривизны поверхности, заключаю)пийся в том, что на контролируемую поверхность наносят ин- а деитором Отпечаток и исследуют его, о т л и ч а ю щ и й с я тем, что, с полью расширения диапазона измерения, на ксайролируемую поверхность наносят ЭО Подпи Заказ 6926/"Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 где А- параметр огранки алмазной пирамидыПо известным значениям,1 у, и Ф ф определяют среднюю кривйзну на Участке длиною 0 к междУ Отпечатками по формуле Дополнительно на чертеже показаныд длинная диа Ональ Отнечаткар Ом 3 ньшая полудиагональ длинной диагона-,ли отпечатка. Формула изобретения сггде 1 у-. :1 д 1 )- - угол Источники информации принятые вовнимание при экспертизе; 1. Авторское свидетельство СССР
СмотретьЗаявка
2373049, 09.06.1976
ЛЕНИНГРАДСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ИНСТИТУТ ИНЖЕНЕРОВ ЖЕЛЕЗНОДОРОЖНОГО ТРАНСПОРТА ИМЕНИ АКАДЕМИКА В. Н. ОБРАЗЦОВА
МАХНОВСКИЙ НИКОЛАЙ ФИЛИППОВИЧ, МИТЯГИН ЮРИЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 5/28
Метки: кривизны, поверхности
Опубликовано: 05.12.1978
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-636465-sposob-opredeleniya-krivizny-poverkhnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения кривизны поверхности</a>
Прибор для измерения радиусов кривизны и несферичности вогнутой сферической поверхности
Номер патента: 373520
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Григорьев, Ершова, Жуковска
МПК: G01B 11/255, G01B 9/02
Метки: вогнутой, кривизны, несферичности, поверхности, прибор, радиусов, сферической
...в диске 8, закрытые заглушками И.Эталонный шар 1 выполнен в соответствии сноминальным радиусом контролируемой детали 7.ЗС Конструкция прибора позволяет производить смену эталонного шара 1 и измерительных наконечников 5 в соответствии с размерами контролируемой детали 7,На корпусе 9 предусмотрены посадочныеместа для крепления установочного устройст 5ва на оправе объектива 15 интерферометра(интерферометр для контроля плоских поверхностей),Предварительно собранное установочноеустройство располагается на интерферометре,эталонная пластина которого снята.После установки устройства на интерферометр производится регулировка измерительного клина, который создан плоской поверхностью пяты 10 и поверхностью плоскопараллельной стеклянной пластины...
Устройство для контроля радиусов кривизны и местных ошибок оптических поверхностей деталей
Номер патента: 629447
Опубликовано: 25.10.1978
Авторы: Голиков, Гурари, Прытков
МПК: G01B 11/30
Метки: кривизны, местных, оптических, ошибок, поверхностей, радиусов
...схема предла 1 аемого устройства. 20Оно содержит источник 1 излучения,осветительную систему 2 юстируемуюплатформу 3 для крепления контролируемой детали, эталонное зеркало 4, рассеивающую пластину 5, светоделнтель 6, пространственный модулятор 7 излучения,наблюдательную систему 8. Индексом 9обозначена контролируемая деталь,Х У,- оси координат, где ось У перпендикулярна к плоскос 1 и чертежа. 30Устройство работает следующим обИзлучение от источника 1 излучениячерез осветительную систему 2 светоделитель 6 и рассеивающую пластину 5 одновременно освещает эталонное зеркало4 и контролируемую деталь 9.Предварительно получают пространственный модулятор 7 излучения путем регистрации через рассеивающую пластину5 голограммы...
Способ измерения радиусов кривизны вогнутых и выпуклых сферических поверхностей и устройство для его осуществления
Номер патента: 1502956
Опубликовано: 23.08.1989
Авторы: Махлина, Полукарова, Юрасов
МПК: G01B 5/22
Метки: вогнутых, выпуклых, кривизны, поверхностей, радиусов, сферических
...где к радиус кривизны выпуклойконтролируемой поверхности;г - радиус кривизны соответст 2вующей вогнутой эталоннойповерхности. 15 пЬ, - Ь 2ф радиус кривизны вогнутой контролируемой поверхности; радиус кривизны соответствующей выпуклой эталоннойповерхности; где К,ь,и Ь - перемещения контролиру 2емой детали относительно Составитель Е. РодионоваТехред И,Дидык Корректор Н. Король Редактор Н. Рогулич Заказ 5076/52 Тираж 683 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб ц. 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина,101 1. Способ измерения радиусов кривизны вогнутых и выпуклых сферических поверхностей, заключающийся в сравнении...
Способ получения отпечатков поверхности листьев
Номер патента: 1590057
Опубликовано: 07.09.1990
Автор: Казымов
МПК: A01G 7/00
Метки: листьев, отпечатков, поверхности
...красным или мети ловым красным, таким образом, существенно облегчается поиск окрашенных отпечатков по сравнению с бесцветными,что повьппает производительность ,труда не менее чем в 2 раза, - 30Способ получения отпечатков поверхности листьев реализуют следующим ,образом.Готовят 100 мл смеси ацетона и ксилола в любом соотношении 11-41 (предпочтительнее 2;1), растворяют в ней 3,4-13,0 г упаковочного пенопласта (соотношение пластической массы к растворителю 1:24-4:24), подкрашивают порошком нейтрального крас-. ного или метилового красного (эти красители не обесцвечиваются указанной смесью растворителей и контрастны на зеленом фоне), Готовый раствор наносят стеклянной палочкой тонким 45 слоем на поверхность листьев или других органов...
Способ получения отпечатка поверхности текстильного материала
Номер патента: 1522144
Опубликовано: 15.11.1989
МПК: G03C 5/00
Метки: отпечатка, поверхности, текстильного
...на галогенсеребряной пленке, Цель изобретения - упрощение способа и сокращение его продолжительности. Это достигается тем, что материал пропитывают раствором проявителя, исследуемую поверхность текстильного материала прижимают к эмуль"сированной стороне радиографическойпленки, после чего контактируемыеповерхности разделяют. раствор на исследуемую поверхность до легкой степени пропитывания ткани. Затем на влажную исследуемую поверхность без скольжения эмульсии и ткани накладывают радиографическую пленки (РИ-В медицинская). Далее на пленку накладывают ровную картонную прокладку и помещают сборку под груз или под пресс (0,5 кг/см ). на 2 мин. После этого контактные поверхности осторожно, без скольжения, отделяют друг от друга....
Предыдущий патент: Способ измерения величин зазоров в шарнирах втулочно роликовых цепей
Следующий патент: Устройство для опеределения податливости стержневых и формовочных смесей
Случайный патент: Способ пересадки донорских почек с множественными сосудами