Плотина из грунта или каменной наброски

Номер патента: 491840

Опубликовано: 15.11.1975

Авторы: Губский, Иващенко

МПК: G01K 7/30

Метки: поверхностного, слоя, тел, температуры, электропроводных

...исследуемого участка тела измеряют н а указ анной ч астоте. 25Таким образом, в основу предлагаемого способа измерения температуры поверхностного слоя электропроводных тел положены явление теплового шума и эффект поверхностного протекания тока в проводниках, 30 При измерении температуры по данному способу необходимо выполнить следующие операции.1, Исходя из свойств материала исследуемого образца, по вышеуказанной формуле рассчитать значение частоты, при котором за счет эффекта поверхностного протекания тока он будет протекать в слое требуемой толщины.2. На этой частоте измерить активное сопротивление исследуемого тела (или его участка) .3. В узкой полосе частот, расположенной симметрично выбранной частоте, усилить и измерить...

Номер патента: 1117506

Опубликовано: 07.10.1984

Авторы: Канченко, Крынько, Мельник, Находкин

МПК: G01N 23/225

Метки: анализа, количественного, поверхностных, слоев, твердых, тел

...20 01 ЗО 40 концентрация рассеивающих центров в образце второго химического элебг 190-- дав кого элемента пространственном распределении упругоотраженных электронов для первого химического элемента при энергии первичных электронов Е 1,поток первичных электронов с энергией, при которой наблюдается минимум в пространственном распределении упруго- отраженных электронов при угле рассеяния Я дляобразца первогохимического элемента; мента;сечение упругого рассеяния первичных электронов вторым химическим элементом при угле рассеяния 91длина свободного пробега электроновс энергиеи Е от 1 носительно неупругих соударений; телесный угол регистрации упруго 1117506отраженных электронов- угол скольжения1потока первичныхэлектронов при 5угле рассеяния Я-...

Номер патента: 1244576

Опубликовано: 15.07.1986

Авторы: Баранов, Крегжде, Саяускас, Чубук, Юозонене

МПК: G01N 29/00

Метки: акустический, поверхностного, свойств, слоя, твердых, тел, физико-механических

...операции,Акустический способ контроля физико-механических свойств поверхност"ного слоя твердых тел осуществляетсй следующим образом.Возбуждают поверхностно-продольные УЗ-колебания в боковой поверхности образца, фиксируют точку выхода УЗ-колебаний на торцовой поверхности образца и принимают их в этойточке. Измеряют в точке приема скорость распространения и амплитудуУЗ-колебаний. Затем измеряют расстояние на величину йх между точкамиввода и приема УЗ-колебаний и фиксируют изменения скорости (вСр ) распространения поверхностно-продольныхУЗ-колебаний, их амплитуды (дБ,),координаты точки их выхода на торцовой поверхности, т,е. прозвучиваемуюглубину К. После этого по параметрамЬС и ьП/ьх определяют физико-меРьханические свойства...

Номер патента: 1280495

Опубликовано: 30.12.1986

Авторы: Кощеев, Мясников

МПК: C01B 31/00, G01N 13/00

Метки: количественного, поверхностном, слое, твердого, тела, углерода

...напускают окись углерода до дав 25 ления 2 10 торр. После выдержки-6образца при комнатной температуре при этом давлении в течение 3 мин, что достаточно для создания на поверхности образца насыщенного адсорбированного слоя окиси углерода, окись углерода откачивают и напускают в камеру кислород до давления 1 х х 10 торр при работающем вакуумномнасосе. 35 1Затем включают нагреватель образца, обеспечивающий подачу на концы спирали напряжения, изменяющегося во времени по заданному закону, и нагрев 40 образца с заданной скоростью 30 С/с до 700 С при работающем насосе, В процессе нагрева производят регистрацию зависимости давления окиси углерода в вакуумной камере от времени с помощью откаллиброванного массспектрометра. В этой зависимости...

Номер патента: 609079

Опубликовано: 30.05.1978

Авторы: Киселева, Милютин, Турянский

МПК: G01N 23/20

Метки: плотности, поверхностного, слоя, твердых, тел

...сканирования 7 в направлениях, указанных на чертеже стрелкой, рентгеновский пучок попадает либо непосредственно на кристалл-анализатор, либо предварительно отражаясь от поверхности образца 6.Регистрация интенсивностей прямого и отраженного пучков до отражения от кристалла-анализатора осуществляется счетчиком излучения 9, Для уменьшения влияния рассеянного излучения перед счетчиком 9 установлена ограничивающая щель 8.Кристалл-анализатор 10 установлен ассиметрично относительно оси вращения Огю д и жестко закреплен на скамье 12 счетчика излучения 11, регистрирующего отражения от кристалла-анализатора пучка (см, фиг. 2), Такая установка, во-первых, обеспечивает перекрытие большего диапазона углов отражения от контролируемой...