Способ обработки почвы

Номер патента: 1677626

Опубликовано: 15.09.1991

Авторы: Прохоров, Сапожников, Шевченко

МПК: G01N 33/24

Метки: горизонта, пахотного, почвы, техногенного, уплотнения

...и определяют буровым методом или расчетом по формулам:Черноземы; у 2= 2,314 - 0,926 10 х х Я+ 0,314 10 5 (2),СеРые лесные почвы: Уп 1 ах = 2,281 -- 0556 х 10 х 5+0,178 х 10 хЯ (3).ДЕРНОВО-ПОДЗОЛИСтЦЕ ПОЧВЫ: УЗ 0 х = =3 724 - 0,485 х 10 х Б+ 0,283 х 10 х хБ (4),Коэффициент детерминации для этих уравнений находится в интервале 0,89- 0,93.По следу трактора и в местах отпечатков штампов определяют конечную плотность почвы, Результаты исследований представлены в таблице.О техногенном уплотнении пахотного горизонта почвы судят по величине прироста плотности Лу, определяемой по формуле:п 1 ах- о 4 Р 3306 7 о + Р4091 (Угпах -фо )-056441 О Юг + 0635 - 1 Ю 5 где Лу- прирост плотности почвы в результате уплотнения, г/см;2,з,уо - начальная...

Номер патента: 1062531

Опубликовано: 23.12.1983

Авторы: Лопухина, Орлов

МПК: G01J 1/14

Метки: дерново, пахотных, подзолистых, почв, смытости, степени

...Затем на кривыхспектров отражения измеряют коэффициенты отражения Р при длинах волн470, 620, 750 нм, В дальнейшем используют два коэффициента: Р р иЬР =Р 62)-Р 4., Зти коэффициенты хорошодемонстрйруют различия в отражательной способности горизонтов А ),с,и В.Все возможные варианты коэффициентов отражения наиболее удобнопредставлять с помощью треугольныхдиаграмм состава, представленныхна чертеже,Любая точка внутри треугольнойдиаграммы соответствует конкретному процентному соотношению АА и В, а угловые точки диаграймысоответствуют стопроцентному содержанию одного из компонентов (А иВ, А ). На диаграммУ в ее угловыеточки наносят также значениеэталонных горизонтов А см , А 2 и В.Затем на сторонах диаграммы с помощью пропори)й...

Номер патента: 74686

Опубликовано: 01.01.1949

Автор: Чикалики

МПК: A01B 13/14

Метки: почвы, ярусной

...изобретения 1. Система Я 1 русной обработки почвы, при которой слои (ярусы) почвы меняются своими местами через определенное количество лет, отличвющаяся тем, что, с целью создания условий для естественного восстановления структуры и повышения плодородия почвы, разбивают пахотный горизонт на три яруса, одинаковые по глубине и ширине и сначала в один Йрием переворачивают весь горизонт, выводя наружу первый (нижний) ярус и опуская на дно третий (верхний) ярус, после чего первые 5 - 6 лет обрабатывают только первый ярус, вторые 5 - 6 лет поднимают наверх и обрабатывают только второй (средний) ярус, а на его место опускают первый ярус, а третий 5 - 6 лет поднимают наверх и обрабатывают только, третий ярус,2. Применение для...

Номер патента: 1521321

Опубликовано: 15.11.1989

Авторы: Лубенцов, Макаров, Макущенко, Пшеченков, Сердюков, Старовойтов, Шостаковский

МПК: A01B 79/00, A01B 79/02

Метки: почв, суглинистых

...устанавливаются по центру формируемого гребня и дополнительно рыхлят почву под будущим рядком клубней, а окучники второго ряда 14 устанавливаются по центру будущего меж 1521321дурядья, При движении культиватора окучник первого ряда своими нижними ярусами дополнительно послойно рыхлит почву по ширине основания будущих гребней, а верхним ярусом - верхний слой с более крупными частицами почвы, причем частицы почвы отбрасываются в сторону до соударения с частицами почвы, отбрасываемыми от параллельно идущего окучника первого ряда с образованием промежуточного валка перед идущими следом окучниками второго ряда. Ярусы окучников второго ряда так же, как и первого, послойно прорезают весь пахотный горизонт по глубине, отбрасывая верхние слои...

Номер патента: 1819068

Опубликовано: 27.10.1996

Авторы: Поборцев, Солонинко, Чарушкина, Чигирь

МПК: H01L 21/66

Метки: дефектов, кремниевых, нижних, оптического, слоев, структур

...СС 14 в течение 5 мин.В результате указанных операций травления на поверхности кристалла образовывался микрорельеф, представляющий собой ямки и бугорки травления и т.н, "Спейсеры", образующиеся по периметру шин металлизации. Средняя величина непланарности составляла 0,70+0,12 мкм, Оценка глубины ямок травления и высоты "спейсеров" и бугорков проводилась на растровом электронном микроскопе типа 1 БМ.После удаления пассивирующего слоя ислоя верхней металлизации проводился контроль дефектов нижнего слоя поликремниевой разводки по способу-прототипу, однако, из-за наличия микрорельефа на поверхности ИМС минимальный размер элементов, доступных для контроля, составлял 5,0 мкм, Затем поверхность кристалла тщательно очищалась на установке...