Способ измерения толщины крупногабаритных неферромагнитных изделий

(и) 619782 Сфвз Советскнх Сецналнстнчасннх Республик(22) Заявлено 67.2 С.б (2 Ц 241 5 Ц М. Кл. с присоеаинением заявк 23) Приорите 43) Опублик 45) Дата оду Государственный комитетСовета Мнвистров СССРоо аелам изобретенийи открытий вано 15082 бликования летень Ж 3.11(088,8 исаниЯ О 3,07,78 2) Авторы изобретени Г, Брандорф и В.Л. Котляр Ц Заявители Львовский лесотехнический институт и Львовскнордена Ленина политехйический институт 541 СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ КРУПНОГАВАР НКФЕРРОМАГНИТНЫХ.ИЭДЕЛИЙ ние относится к обласго контроля изделий использовано для измереногабаритных иэделий,Изобре ,неразрушаю может быть толщины кр ия образом. Измер перемещаюреобразователь 4 кулярнэ поверхнос ьныйрпен Известен способ измерения толщины крупногабаритных неФерромагиитиых изделий, заключающийся в том, что на одной поверхности изделия размещают источник основного магнитного поля, например кольцевую рамку с током, с противоположной стороны изделия на расстоянии, равном максимальному значению измеряемой толщины, устанавливают измерительный преобразователь, например индукционный, соосно источнику основного магнитного поля размещают источник компенсирующего магнитного поля, перемещая измерительный преобразователь перпеидикулярио поверхности изделия, находят точку, в которой результирующее магнитное поле равно нулю, измеряют с помощью индикатора линейных величин расстояние между измерительным преобразователем и поверхностью изделия и пО разности между максимальным эначе" нием измеряемой толщины и измеренным расстоянием судят о толщине изде- . , лия 11 . Недостаток известного способа заключается в сложности процесса измерения, что предопределяется наличием проводной связи между источниками поля, располагаемыми но разные стороны крупнопабаритного объекта.Цель изобретения - упрощение процесса измерения,Цель достигается тем, что по предлагаемому способу источник компенсирующего магнитного поля располагают с той же стороны иэделия, что н источник основного магнитного поля на Фиксированном расстоянии от него.На чертеже представлено устройст. во для реализации предлагаемого способа.Устройство содержит коаксиально и жестко связанные источник 1 основного магнитного поля н источник 2 комПенсирующего магнитного поля, распо- ложенныЕ на одной поверхности иэделия 3 и включенные встречно, и измерительный преобразователь 4, расположенный с противоположной стороны изделия 3 коаксиально с источниками. Толщина изделия измеряется следующим619782 ти иэделия Э до положения, когда сиг-нал на его выходе станет равным нулю, что свидетельствует а нулевом значении полн источников в точке расположения преобразователя. Индикатором линейных величин (не показан) измеряют расстояние от преобразователя 4 до ближайшей к нему поверхности изделия 3. Величину измеренного расстояния вычитают из максимального значения измеряеьвях толщии, которые для этой системы источников поля определяются 10 их геометрией и отнселением ампервитков, и получают значение измеряемой толщины иэделия.Таким образам, оба источника поля располагаются иа ОднОЙ поверхности 5 иэделия, и проводная связь между элементами толщиномера, располагаемыми ио разные стороны крупногабаритного изделия, отсутствует, что упрощает йроцесс измерения. ю Способ измерения толщины крупногабаритных неФерромагнитных изделий, эаключаищийся в том, что на одной поверхности изделия размещают источник основного магнитного поля, наприоставитель Н.Кесоянехред Э Чужик Корректо раси Блохин РедактоЗаказ 4ЦН 1/37ИПИ Государственногпо делам из13035 Москва ЖТираж 872омитета Совета Миетений и открытнаушская наб.с д. одписноестров СССР5 ППП "Патент, г. Ужгород, ул. ная, 4 Фил Формула изобретения мер кольцевую рамку с током, с противоположной стороны изделия на расстоянии, равном максимальному значению измеряемой толщины, устанавливают измерительный преобразователь, например индукционный, соосно источнику основного магнитного поля размещают источник компенсирующего магнитного поля перемещая измерительный преобразователь перпендикулярно поверхности изделия, находят точку, в которой результирующее магнитное поле равно нулю, измеряют с помощью индикатора линейных величин расстояние между измерительным преобразователем и поверхностью изделия н по разности между максимальным значением измеояемой толщины и измеренным расстоянием судят о толщине изделия, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения процесса измерения, источник компенсирующего магнитного поля располагают с той же стороны иэделия, что и источник основного магнитного поля на Фиксированном расстоянии от него.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1. авторское свидетельство СССР В 352114,кл. С 01 В 7/06, 1969.