Способ электронномикроскопического исследования замороженных образцов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О П И С А Н И Е (и)5 то 126ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик К. АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ1794/ с присоединением эая осударственный номнтеСовете Инннстров СССРоо делам нзооротеннйн открытий(23) Приоритет (43) Опублико о 25.08.77.Бюллетень 3 УДК 537,53 ,35 (088,8) 6) Дата опубликования описании 28,09 72) Авторы нэобретени Кузь он осковский ордена Трудового Красного вфтехимичвской и газовой промышлвнн намени ин ти им. И.(54) СПОСОБ ЭЛЕКТРОННОМИКРОСКОПИЧЕСКО ИССЛЕДОВАНИЯ ЗАМОРОЖЕННЫХ ОБРАЗНО спичовани цо вес тны нным ных сигна при исслед является нчом, а такжженной вла близким к предл электронномикрос замороженных об Наиболся снос женному являкопического исразцов, преду в покрытие об ленкой путем оледованиясмвтриваазца пров тощий предварительндяшей защитной пнапыления 2,м недостатком этоичная сублимациянапылении на еговещества. р о вакуумногоОсновны ляется част обьекта при разогретого го способа явзамороженного поверхность ение касается электронномикросисследований, в частности исслекроструктуры замороженных образсгособы исследования образцов электронном микроскопе, основанировании поверхности образца лучом и регистрации получвн, Их основным недостатком ванин замороженных образцов 1 л рев последних электронным лумвозможное испарение заморов условиях высокого рабочего Целью изобретения является уменьшвнн сублимации замороженных образцов.Это достигается твм, что в начальный период сканирования образца электронным лучом производят однократную подачу на поверхность образца углвводородсодержвш го газа Замороженный образец помещают в элек тронный микроскоп и одновременно с вклточением электронного пучка на поверхность образца производят однократную подачу угльводородсодвржвщего газа. При атом элек-; тронный пучок взаимодействует с молвкульми газа, и в реэультвте происходит их распад, а углерод в виде тонкой пленки осаждается на образце. Подача газа может осушест вляться различными способами, например, по трубкам; или размвшвнивм рядом с образцом капсулы с углеводородным веществом, имеющим высокое давление паров, Капсула должна иметь крышку, которая открывается на короткое время, Толщина пленки зависит от количества подаваемого газа и времени воздействия электронным пучком. После579126 Составитель А. СуворовТехред Н. Бвоурка Корректор М, Йвмчик Редактор Е. Кравцова Заказ 3067/46 Тираж 976 ПодписноеЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж 35, Раушская иаб., д. 4/5 филиал ППП фПатентф, г. Уипород, ул. Проектная, 4 образовании пленки нужной толщины подачугаза прекращают и исследуют образец. формула изобретения Способ электронномикроскопического исследования замороженных образцов с помощью растрового электронного микроскопа, включающий покрытие образца защитной плен 30 кой, сканирование его электронным лучом и регистрацию полученных сигналов, о т л ич в ю ш н й с я тем, что, с целью уменьшения сублимации замороженных образцов,в начальный период сканирования образцаэлектронным лучом производят однократнуюподачу на поверхность образца углеводородсодержащего газа,Источники информации, принятые во внимание при экспертизе;1, Хокс ПфЭлектронная оптика и елею.тронная микроскопияф, М., фМирф 1974,с. 217.2."фОЙ Ива 12, М 2,28, 1974,
СмотретьЗаявка
2351794, 21.04.1976
МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ НЕФТЕХИМИЧЕСКОЙ И ГАЗОВОЙ ПРОМЫШЛЕННОСТИ ИМ. И. М. ГУБКИНА
БОЧКО РЕГИНА АНАТОЛЬЕВНА, КУЗЬМИН ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01J 37/26
Метки: замороженных, исследования, образцов, электронномикроскопического
Опубликовано: 25.08.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-570126-sposob-ehlektronnomikroskopicheskogo-issledovaniya-zamorozhennykh-obrazcov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ электронномикроскопического исследования замороженных образцов</a>
Предыдущий патент: Способ определения долговечности металлопористого катода
Следующий патент: Фотоэлектрическое устройство
Случайный патент: Механизированный стеллаж