Способ определения адгезии покрытий к подложке
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
6671 22 Составитель Н. АлексеевРедактор О. Юркова Техред М. Семенов Корректор Л, Брахнина Заказ 1877/17 Изд. Мд 639 Тираж 1109 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 прогиб покрытия, по величине которого судят об адгезии, отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения, для фиксации начала отслоения покрытия используют индикатор перемещений с измерительным наконечником в виде стакана, внутренний диаметр которого превышает диаметр отверстия в подложке на 0,5 - 1 мм, устанавливают его соосно отверстию и поджимают кпокрытиюИсточники информации, принятыево внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР288395,кл, б 01 Х 19/04, 1969.2. Авторское свидетельство СССР200470,кл. б 01 И 19/04, 1966.
СмотретьЗаявка
1876968, 29.01.1973
ВСЕСОЮЗНЫЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ И ПРОЕКТНО КОНСТРУКТОРСКИЙ ИНСТИТУТ ПОЛИМЕРНЫХ СТРОИТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ И МЯГКОЙ КРОВЛИ "ВНИИПРОЕКТПОЛИМЕРКРОВЛЯ"
СОКОЛОВ ВЛАДИМИР ЛЬВОВИЧ, ФОЛОМИН АЛЕКСАНДР ИВАНОВИЧ, САЗОНОВ ГРИГОРИЙ РОМАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 19/04
Метки: адгезии, подложке, покрытий
Опубликовано: 30.07.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-567122-sposob-opredeleniya-adgezii-pokrytijj-k-podlozhke.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения адгезии покрытий к подложке</a>
Предыдущий патент: Устройство для определения количества циклов замораживания и оттаивания в строительных конструкциях
Следующий патент: Способ количественного определения амидопирина
Случайный патент: Ориентирующее устройство