Способ изготовления эталонов для дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических РеспубликКл,1 И 27/84 с присо осударственныи комитетСовета Министров СССРпо делам изооретенийи открытий(54) СП иводит к его нскривле некоторую остаточую очередь, приводит ширины раскрытия трго нагружения п ак он приобретацию), что, в св процессе нию (так деформа произвол к еому изменениюне.изобретения явля 5 щин по дли Цельются повышение точно ления эталона.тигается за сче ти изгото Это до стого, что образец растающим усилиемой шириной раскрытусилии 10-15 с,Способ реал ющим образом.подвергается действию его усилияРдо появлеы, после чего увеличеи образец выдержива го усилия (нагрузки) тся след образецягивающ Азотироьанныивозрастающего растния трещин заданноние усилия Р прекрется под действиемв течение 10-15 с. щается ечно готовлени чност ство эталонов, так как непостообразце напряжений вызы. ну и ширину раскрытия в длине; неопределенность ны раскрытия и глубины нагрузки; неопределенную я трещин на единицу пооме того, изгиб эталона в пикающих вменную глуб ает переталоне тр огут быть созданнапример, с помощ омерностеи шири рилагае мои аспределени трещин от плотность верхности озволяет осуществищинами разной ширин эталона; кр Изобретение относится к области неразрушающего контроля качества материалов и изделий и предназначено для выявления дефектов типа нарушения сплошности при дефектоскопии, например капиллярной и магнитно-порошковой, с помощью эталонов.Известны способы изготовления эталонов для капиллярной и магнитно-порошковой дефекто скопин, заключающийся в том, что образец, выполненный в виде пластины, азотированной на определенную глубину, помещают на матрицу (пустотелый цилиндр) или на две опоры ,1) .Прикладывая к пуансону, возцействующему на образец, определенное усилие, нагружают образец, вызывая образование в азотированном слое тре. щин.Известный способ не обеспечивает необходимой тягивают с непрерывно возр1 О образования трещин с заданн и выдерживают при конечном Растягивающие усилияпомощью лгобого устройствразрывной машины,Предложенный способ2 б изготовление эталонов с тре555329 Ъ Я Составитель И, Кесоян Техрсд М, Левицкая Корректор С, Шекмар Редактор Т. Шагова Заказ 452/20 Тираж 1101 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 раскрытия для различных случаев капиллярного и магнитно-порошкового методов дефектоскопии, применяющихся в различных областях народного хозяйства, на которые распространяется контроль качества промышленной продукции согласно ГОСТ 5 18442-73 и 21105-75. Применение предлагаемых эталонов технически обеспечит создание метрологических средств не- разрушающего контроля, позволит гарантировать 10 задаваемый техническими условиями уровень чувствительности метода к выявляемым дефектам, позволит сократить необоснованную перебраковку массовой продукции машиностроения, а также повысит характеристики надежности годной продукции 15 ответственного назначения,Ф ормула изобретени я Способ изготовления эталонов для дефекто скопин, например магнитно-порошковой, заклю. чающийся в том, что азотированный образец с постоянной площадью поперечного сечения нагружают до образования в азотированном слое трещин, отличающийся тем, что, с цельюповышения точности изготовления эталона, образец растягивают с непрерывно возрастающим усилием до образования трещин с заданной шириной раскрытия и выдерживают при конечном усилии 10 - 15 с.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:1, Авторское свидетельство СССР У 266331, М, Кл, 6 01 й 27/84, 1968 (прототип).
СмотретьЗаявка
2310998, 06.01.1976
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Р-6303
САНЬКО БОРИС СЕМЕНОВИЧ, КАЧАНОВ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ, ДЕГТЕРЕВ АЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ, БОРОВИКОВ АЛЕКСАНДР СЕРГЕЕВИЧ, ПОДЫМАЕВА ГАЛИНА БОРИСОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 27/84
Метки: дефектоскопии, эталонов
Опубликовано: 25.04.1977
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-555329-sposob-izgotovleniya-ehtalonov-dlya-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ изготовления эталонов для дефектоскопии</a>
Настроечный образец с имитатором подповерхностного дефекта для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 1467488
Опубликовано: 23.03.1989
Авторы: Домашевский, Колыхалов, Шкатов
МПК: G01N 27/82
Метки: дефекта, дефектоскопии, имитатором, магнитной, настроечный, образец, подповерхностного
...образец используетсяследующим образом,Имитацию магнитных потоков рассеяния под действием дефекта сплошностис помощью настроечного образца рассмотрим применительно к магнитному(ферроэондовому) дефектоскопу с ин;,дукционным блоком намагничивания ввиде П-образного электромагнита.П-образный электромагнит 10 (фиг. 1) устанавливают на рабочей поверхности образца симметрично поверхности сопряжения частей 1 и 2. При этом силовые линии магнитного поля разделяют" ся на два русла, отклоняющиеся от поверхности сопряжения в разные стороны. Из соображений симметрии точнотакая картина силовых линий имеетместо в контролируемом объекте с подповерхностным дефектом и при отсутствии поверхности сопряжения. Следовательно, выполнение образца составным5не...
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 1732250
Опубликовано: 07.05.1992
Авторы: Алексеенко, Новиков, Романов, Шкель
МПК: G01N 27/85
Метки: дефектоскопии, контрольный, магнитной, образец
...только при условии полного проплавления материала свариваемых деталей. Поэтому по отсутствию обратного валика косвенно можно предположить о наличии в этом месте шва в его корне непровара, Ширина непровара может быть настолько мала, что визуально без изготовления макрошлифов обнаружить его невозможно. Отсутствие обратного валика шва недостаточно для установления наличия в шве дефекта и определения его величины.Поле в зоне дефекта в значительной степени зависит от конфигурации обратного валика. Чем точнее имитирован обратный . валик, тем точнее можно идентифицировать одинаковые дефекты в контрольном образце и в контролируемом изделии,1732250 Формула изобретения Бг Фиг,1Вид А Риг Составитель В. РомановРедактор М. Бланар Техред...
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 1778670
Опубликовано: 30.11.1992
Авторы: Выборненко, Лехнович, Шарова
МПК: G01N 27/85
Метки: дефектоскопии, контрольный, магнитной, образец
...датчиков), Боковые стенки 2 изготавливаются из прямоугольных пластин, имеющих отверстия прямоугольной формы, Высота боковой стенки, которая моделирует толщину свариваемого металла, изменяется путем изменения количества пластин, Верхняя крышка 3 выполняется из органического термопластичного материала, позволяющего выпресовывать в ней необходимую форму усиления сварного шва, Каркас заполняется магнитным порошком 1 при снятой нижней крышке 4, Моделирование дефектов сварного соединения осуществляется путем вдавливания немагнитного материала, имитирующего дефект, в любую зону "сварного шва" или "околошовной зоны". Имитация дефектов типа непровар и трещина осуществляется с помощью кусочков немагнитной фольги необходимой формы и размеров, Поры...
Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 1809377
Опубликовано: 15.04.1993
Авторы: Грецкий, Кононенко, Синица, Шарова
МПК: G01N 27/85
Метки: дефектоскопии, контрольный, магнитной, образец
...соединения с неп 0,5 мм, величиной 10 го металла, Толщина с 18 мм, материал - сталВырезают две пла мерами 350 х 180 х 18 мм, поверхность широ из граней узкой пласти обходимо изготовить нахлесточного сварроваром раскрытием от толщины основновариваемых пластин ь 3, катет шва 18 мм. стины из стали 3 раэмм и 175 х 180 х 18 кой пластины и одна ны шлифуются, затемиз сварного шва, специально сваренного нахлесточного соединения, вырезается прямая трехгранная призма с катетом 18 мм, длиной 180 мм, просвечивают призму рентгеновскими лучами на предмет выявления в ней внутренних дефектов. Если результаты просвечивания позволяют сделать заключение об отсутствии дефектов, то грани призмы шлифуют и со стороны прямого двухгранного угла перпендикулярно...
Стандартный образец для магнитной дефектоскопии
Номер патента: 1810805
Опубликовано: 23.04.1993
Авторы: Газизова, Косовский, Шелихов
МПК: G01N 27/82
Метки: дефектоскопии, магнитной, образец, стандартный
...количество вставок должно соответствовать количеству отверстий. Верхняя часть каждой вставки длиной 7 мм, содержащая прорези, выполняется диаметром, равным 10,15 мм, остальная часть вставки 2 имеет диаметр меньше диаметра отверстий основы. В верхней части вставки диаметром 10, 15 мм электроэрозионным способом выполняются две взаимно перпендикулярные прорези одинаковой ширины 0,2 мм и глубиной 10 мм. Вставки запрессовываются заподлицо в круглые отверстия оси и дисков. При этом прорези должны быть ориентированы по направлению ожидаемых характерных дефектов на данном участке образца или при необходимости выявления дефектов различной ориентации щели должны быть расположены перпендикулярно предполагаемым направлениям намагничивания...
Предыдущий патент: Устройство для исследований химических реакций
Следующий патент: Устройство для измерения магнитных свойств
Случайный патент: Устройство для подвода энергии к объекту, перемещающемуся по произвольной траектории