Контрольный образец для магнитной дефектоскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1732250
Авторы: Алексеенко, Новиков, Романов, Шкель
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИРЕСПУБЛИК 73225 01 й 27/85 ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТПРИ ГКНТ СССР ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ СВИДЕТЕЛ ЬСТ Т остроительныи инанов, М,А. Ш кель и тво СССР5, 1980.тво СССР85, 02,89,РАЗЕЦ ДЛ(54) КОНТРОЛЪНЪЙ ОБНИТНОЙ ДЕФЕКТОСКОП Изобретение относится к магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества односторонних стыковых сварных соединений, выполненных на съемной подкладке, формирующей обратный валик шва (например, обечаек, полотнищ резервуаров).Известен контрольный образецдля магнитной дефектоскопии, представляющий две пластины, соединенные сварным швом с монотонно изменяющейся величиной валика шва,Недостатком его является низкая точность имитации дефекта в корне шва одностороннего сварного соединения.Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту к предлагаемому изобретению является контрольный образец, представляющий две планки, соединенные сварным швом переменного сечения с изменяющейся величиной радиуса кривизны валика шва, содержащий с противоположной стороны шва в его корне прорези, имитирующие дефект, с установленным вдоль дефекта ферромагнитным сегментом(57) Изобретение относится к области магнитной дефектоскопии и может быть использовано при контроле качества односторонних стыковых сварных соединений, выполненных на съемной подкладке, формирующей обратный валик усиления шва, Целью изобретения является повышение точности имитации дефекта в корне шва одностороннего стыкового соединения. Цель достигается за счет более точного учета влияния обратного валика усиления шва, При этом обратный валик выполнен прерывистым с закругленными концевыми участками, а прорезь выполнена между ними, 2 ил. переменного сечения с монотонно изменяющейся величиной радиуса кривизны.Недостатком его является низкая точность имитации дефекта в корне шва одностороннего стыкового соединения, В соединении, выполненном на съемной подкладке, обратный валик образуется только при условии полного проплавления материала свариваемых деталей. Поэтому по отсутствию обратного валика косвенно можно предположить о наличии в этом месте шва в его корне непровара, Ширина непровара может быть настолько мала, что визуально без изготовления макрошлифов обнаружить его невозможно. Отсутствие обратного валика шва недостаточно для установления наличия в шве дефекта и определения его величины.Поле в зоне дефекта в значительной степени зависит от конфигурации обратного валика. Чем точнее имитирован обратный . валик, тем точнее можно идентифицировать одинаковые дефекты в контрольном образце и в контролируемом изделии,1732250 Формула изобретения Бг Фиг,1Вид А Риг Составитель В. РомановРедактор М. Бланар Техред М,Моргентал Корректор Т, Палий Заказ 1579 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 роизводственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 Целью изобретения является повышение точности имитации дефекта в корне шва.Поставленная цель достигается тем, что в контрольном образце для магнитной дефектоскопии сварных швов, содержащем две планки, соединенные сварным швом, обратный валик усиления шва и искусственный дефект в виде прорези, обратный валик выполнен прерывистым с закругленными концевыми участками, а прорезь выполнена между ними,На фиг. 1 изображен контрольный образец, вид спереди; на фиг, 2 - вид А на фиг, 1.Контрольный образец представляет собой две пластины 1, соединенные сварным швом 2, имеющим ширину наружного вали-. ка Ь и обратного валика Ьг. Обратный валик 3 шва выполнен прерывистым с закругленными концевыми участками, между которыми выполнена прорезь 4.Контрольный образец работает следующим образом.Контрольный образец используют для получения эталонных магнитных лент. Применяют магнитные ленты того же типа, а контроль образца осуществляют при том же режиме намагничивания, при котором контролируют сварной шов изделия, Считают, 5 что, если амплитуды сигналов, обусловленные дефектами в контрольном образце, и изделии одинаковые, то и одинаковые и дефекты,Применение контрольного образца в 10 сравнении с известными позволяет повысить точность имитации дефекта в корне одностороннего стыкового соединения. Контрольный образец для магнитнойдефектоскопии сварных швов, содержащийдве планки, соединенные сварным швом,обратный валик усиления шва и искусствен 20 ный дефект в виде прорези, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышенияточности имитации дефекта в корне шва одностороннего стыковогосоединения, обратный валик выполнен прерывистым с25 закругленными концевыми участками, апрорезь выполнена между ними,
СмотретьЗаявка
4754072, 30.10.1989
МОГИЛЕВСКИЙ МАШИНОСТРОИТЕЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ
НОВИКОВ ВЛАДИМИР АЛЕКСЕЕВИЧ, РОМАНОВ ВЯЧЕСЛАВ АНАТОЛЬЕВИЧ, ШКЕЛЬ МИХАИЛ АНТОНОВИЧ, АЛЕКСЕЕНКО ЕВГЕНИЙ СЕРГЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 27/85
Метки: дефектоскопии, контрольный, магнитной, образец
Опубликовано: 07.05.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1732250-kontrolnyjj-obrazec-dlya-magnitnojj-defektoskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Контрольный образец для магнитной дефектоскопии</a>
Предыдущий патент: Устройство для исследования свойств металлов
Следующий патент: Дефектоскоп для неразрушающего контроля протяженных ферромагнитных изделий
Случайный патент: Горелка для дуговой сварки в защитных газах