Устройство для измерения концентрации электронов в плазме с помощью газового лазера
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 542425
Автор: Тучин
Текст
Союз Советских Социалистических РеспубликОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН Ия,(1 и 542425 К. ИЖОРСКОМУ СееИДВТИЛЬСТВУ(61) Дополнительное к авт, свил.ву 51) М, Кл 11.74 21) 2074800/2 2) Заявл 05 Н 1 00 рисоединени ) Приоритет Опублико Дата опу заявки 182 ооударотеенный номнтет СССР ео делам нзобретеннй н открытнй(088.8) о 25 05 29.05,7 ания описан 2) Автор иэобретени В. Тучи Научно-исследовательский институт механики и физикипри Саратовском ордена Трудового Красного Знаменигосударственном университете им. Н. Г. Чернышевского(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦ ЭЛЕКТРОНОВ,В ПЛАЗМЕ С ПОМОЩЬЮ ГАЗОВОГО ЛАЗЕРАИэобнике, в , диагносвано в бу ются осится к квантовой к устройствам для ы, и может быть и х науки и техники етение отнчастностиики плазмех област лект азернойпользогде треые и ироком д рения концентрации электропазоне изменения концентраИзвестны устройства для измерения концентрации электронов в плазме с помощью газовоголазера, состоящие из измерительного лазера иисследуемой кюветы с плазмой 11,Известны также устройства для измеренияконцентрации электронов в плазме с помощьюгазового лазера, состоящие из измерительноголазера и исследуемой кюветы с плазмой, помещенной в резонаторе этого лазера 12,Это устройство обеспечивает измерения только в малом диапазоне изменения концентрациис нижним пределом йе 6 10 см-э.аЬКроме того, данное устройство в значительной степени подвержено внешним возмущающимвоздействиям (нестабильности и длины резонатора, потерь, накачки и т,д.), так как используетнелинейную поглощающую ячейку в резонаторе измерительного лазера, Это обстоятельство отрицательным образом влияет на точность измеренийЦель изобретения - повышение точности измерения и расширение диапазона измеряемых концентраций.5 Это достигается тем, что предлагаемое устрой.ство содержит модулятор тока, вклЬченнь 1 й последовательно в цепь разряда, кюветы с исследуемой плазмой, что, в свою очередь, позволяетмодулировать ток разряда ячейки с исследуемой 10 плазмой и затем измерять девиацию частоты излучения лазера с помощью измерителя девиациичастоты в оптическом диапазоне.На чертеже представлена схема предлагаемогоустройства.Устройство состоит иэ измерительного газового лазера с трубкой 1, зеркал 2, кюветы 3 сисследуемой плазмой; источника 4 постоянногогока для питания кюветы, модулятора 5 тока,генератора 6 радиодиапаэона и измерителя 7девиации оптических частот.Устройство работает следующим образом.Лазер с активной трубкой 1 выбором коэффициентов отражения зеркал 2 настраивается на542425 Составитель Ю, Левитанктор Т. Колодцева ТехредЛ. Алферова Корректор Е, Лук аказ 2888/58 Тираж 943 ЦНИИПИ Государственного к по делам изобретений и от 3035, Москва, Ж - 35, Раущскодписноемитета СССРрытийя наб., д. 4/5 лиал ППП "Патент, г. Ужгород, ул, Проектна одную из длин волн излучения. Длина волны излучения выбираетсяв зависимости от требуемойчувствительности устройства. В резонаторе лазера размещается кювета 3 с исследуемой плазмой. В цепь разряда кюветы, питаемой от источника 4 постоянного тока, подключаетсямодулятор 5 тока, который управляется сигйалом от генератора 6 синусоидального напряжения.Девиация частоты излучения лазера измеряетсяс помощью измерителя 7 девиации оптическихчастот. Формула изобретения Устройство для измерения концентрации электронов в плазме с помощью газового лазе ра, состоящее из измерительного лазера и исследуемой кюветы с плазмой; помещенной в резонаторе этого лазера, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения и расшн. рения диапазона измеряемых концентраций, устройство содержит модулятор тока, включенный последовательно в цепь разряда кюветы с исследуемой плазмой.Источники информации, принятые во внимание при экспертизе1, Журнал прикладной спектроскопии. Р 3, с, 393, 1971.2: Теплофизика высоких температур. М 4, с, 899, 1973.
СмотретьЗаявка
2074800, 11.11.1974
НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МЕХАНИКИ И ФИЗИКИ ПРИ САРАТОВСКОМ ГОСУДАРСТВЕННОМ УНИВЕРСИТЕТЕ
ТУЧИН В. В
МПК / Метки
МПК: H05H 1/00
Метки: газового, концентрации, лазера, плазме, помощью, электронов
Опубликовано: 25.05.1979
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-542425-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-koncentracii-ehlektronov-v-plazme-s-pomoshhyu-gazovogo-lazera.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения концентрации электронов в плазме с помощью газового лазера</a>
Способ регулирования энергии в установке для облучения объектов электронным излучением
Номер патента: 1065891
Опубликовано: 07.01.1984
Автор: Мильштейн
МПК: G21K 5/00
Метки: излучением, облучения, объектов, установке, электронным, энергии
...55 25 30 35 40 45 50 лов и используют сигнал отношения в качестве измерительного сигнала для сравнения.На фиг. 1 приведена блок-схема установки для облучения объектов электронным пучком; на фиг, 2 - нормированные кривые распределения дозного поля в поглощающем материале.Для любой энергии из рабочего диапазона энергий ускорителя (имеется в виду, например, отечественный бетатрон марки Б 5 М - 25) существует такая толщина поглотителя Й которая соответствует плато распределения дозных полей, и такая толщина с 1 которая соответствует спадам распределений дозных полей, В результате этого, отношения интенсивностей электронного пучка на этих толщинах однозначно характеризуют рабочую энергию ускорителя, т,е. этот параметр можно использовать для...
Способ разделения ядерных частиц по массам с помощью рентгеновского переходного излучения рпи
Номер патента: 843558
Опубликовано: 07.10.1982
МПК: G01T 1/00
Метки: излучения, массам, переходного, помощью, разделения, рентгеновского, рпи, частиц, ядерных
...исследуемых частиц вдоль вытягивающего поля.Если обозначить время формирования импульса на выходе от одного электрона ионизации через ДТ, а разброс времени. прихода электронов от трека частицы через ь, то при условии Ь 17 дС эффективное суммирование амплитуд от всего трека не произойдет, так как сигналы от них будут смещены во времени. С другой стороны, так как пробег фотоэлектрона мал, в пределах этого. пробега не.- однородность электрического поля мала и соответственно разброс времени дрейфа значительно мал, условие 4 йЬСвыполняется, т.е. одновременность прихода, электронов от всей области ионизации в случае фотоэлектрона обеспечивается. Следовательно, в случае фотоэлектрона происходит суммирование максимумов амплитуд от импульсов...
Способ измерения глубины проникновения электронного излучения в вещество
Номер патента: 1242712
Опубликовано: 07.07.1986
Авторы: Зиновьев, Ивлиев, Ильиных, Пепеляев, Туранов, Хафизов
МПК: G01B 15/02
Метки: вещество, глубины, излучения, проникновения, электронного
...трубка 1, модуля тор 2, образец 3, датчик 4 температуры, измеритель 5 фазы запаздывания.Поток электронов от электронно-лучевой трубки 1 через модулятор 2 достигает поверхности образца 3 и поглощается им в некотором слое. В процессе поглощения кинетическая энергия электронов переходит в тепловую и на некоторой эффективной глубине возникает тепловая волна. 25 ,Значение этой глубины является измеряемой величиной.При этом электронный поток имеет мощность 10-100 Вт и частотусд = 20- 500 рад/с. Периодически возникающая температурная волна при прохождении через образец 3 изменяет свою фазу. Фазовый сдвиг Ьопределяется путем измерения колебаний температуры и сопоставления фазы этих колебаний с35 фазой колебаний падающего...
Способ формирования электронных пучков с помощью взрывоэмиссионной электронной пушки
Номер патента: 1706329
Опубликовано: 30.05.1994
Авторы: Озур, Окс, Проскуровский
МПК: H01J 3/02
Метки: взрывоэмиссионной, помощью, пучков, пушки, формирования, электронной, электронных
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ ЭЛЕКТРОННЫХ ПУЧКОВ С ПОМОЩЬЮ ВЗРЫВОЭМИССИОННОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ПУШКИ, заключающийся в погружении пушки во внешнее ведущее магнитное поле, создание в ней анодной плазмы и подачи на катод биполярного импульса напряжения, отличающийся тем, что, с целью повышения однородности плотности тока и стабильности параметров формируемого пучка, анодную плазму создают с помощью низковольтного пеннинговского разряда, длительность горения которого выбирают из условияt2 120 M1/2/P, с,где M - масса атома рабочего газа, г;P - давление рабочего газа, мм рт. ст.
Устройство для наблюдения влажных образцов при помощи растрового электронного микроскопа
Номер патента: 575717
Опубликовано: 05.10.1977
Авторы: Карелин, Лаврищев, Рау, Спивак
МПК: H01J 37/26
Метки: влажных, микроскопа, наблюдения, образцов, помощи, растрового, электронного
...при исследовании в естест условиях; это снижает информатив его истинной. структуре, Указанный таток обусловлен относительно не виях образцов.Указанная цель достигается тем, ч устройство снабжено магнитной линзой поле которой помещена микрокамера с жателем образца; магнитопровод линзы держит канальное отверстие для прохо ния первичного и вторичного электрон пучков. На чертеже представлена схема5 гаемого устройства, состоящего из575717 ИПИ Заказ 4044/37 Тираж 976 Подписцо филиал ППП "Патент", г, Ужгород, ул. Проектная, 4 ной линзы 1, магнитопроеода 2, микрокамеры 3 со съемной герметичной крышкой4, в которой выполнены капиллярные отверстия 5, держателя образца 6. Пррчдммагнитопровод 2 выполнен с канальнымцилиндрическим отверстием 7 ....
Предыдущий патент: Состав сварочной проволоки
Следующий патент: Широкополосный усилитель
Случайный патент: Резец соломко