Способ испытания хрупких слоев, образованных на металлической подложке

Номер патента: 531057

Авторы: Бугреев, Довнар

ZIP архив

Текст

, гвтв опуглгиеготаячетя очгцочгтя с 5 02 г 7 тг 1 Огг Л Ь 01 т 8 т 00/Ь 01 М 3/42 Государственнв 1 й нинтет Совете Мнннстров СССР ПО ДЕЛИМ 11 ВСГРЕтЕЕ 1 Нй и отнрь тнй(72) гг 1р и,обретения С, ЛЕ.ЕСВНаЮ И Э, С, БтгГЮЕЕВ г,711) Заяви-ель ф 11 зик;, техни 1 еск 1 ей инст 11 тчт гт.11 г елорусской г,1 е г 54СгОСО - И П ггг, гц, Я ру 1 дцц С - 1 О: - ,тБг.,-гЗОВ ННЫЛ Нгт гтгг Т."тПг 111 1 ЬСА 11Г О,гг;е 1 т О 7 К; гт 111 зобретг ние отегосится к области меха- НИЧЕСКИХ;1 СЕОЫтаНИй 1 МатЕРИ тЧОВт а ИМЕННО К ИСПЫтангтЮ ОРЧПгтИУ МТЕР 1 гатЕОВ Ега РаЗЮ".шещ,геИзвестен способ отределения прочности хрупких слое В материала, образованных па металлической подложке, заключаю 1 цийся в том, что обюазец материалов помеглают в испытательную мацгину и доводят до рарушенияНедостаток указанного способа заклк чается в том, что механические свойства хрупкого слоя зависят от толшины слоя и подложки и чсм тоньше хрупкий слой, тем меньше точность, 15Наиболее близким к предлагаемому способу по дост;Егаемому результагу является Спссобт ЗаКЕПОЕаЮтг.ЕЕИИСЯ В Тсмт ЧТО В ИСПЫ- тчемый образец материала со стороны хрупкогс слоя Вдавлива 1 от индентор и по разме рам разрушеннотй поверхности судят о прочНОСТИ СЛОЯНедостатком этого способа является то,что прочность слоя определяется прочностьюподт 10 егк 11, кроме того, под индентором соз ДаЮТСЯ ОгОЛЬШ 11 ге СГИМаЮЕШЕ На г, ЯЖЕНИЯ искажа тош 11 е и О г е ю астяг г 1 ва 10 Ших но 1 п 1 я 11 е - ний, это снижает точность 11 С 1 тытап 11 1.С целью повьгшентЕИ точттсстп по прсдлагаех 10 м" спсссот п 1 центсю Вдавливается В ПсдпсжКУ ПО 1 ЛОСКССТИт ПЕРПЕНД:1 КЕЛЯРг 10 йПЛОСКОСТИ Наг;ЕСЕШЕСГО СЛОЯ, На РасСТСЯНШ 1 ОТ НЕЕт ЮаВтОМ ПОЛОВИНЕ Днат.ттгЕТРа гпд 11 ДПагонали отпечатка,На чертеже приведена схема, реализуютцая предла 1 аееч 111 способ., Она содержит шаровой пндентор 1, предназначенный для ВОЗДЕИСТВИЯ На Обоа 3 ЕЦт СОСТОЯШгИ И ПОД ложки 2 и хюупкого слоя Э, и раз: ешенный на столе 4,гСпособ осуществляется следу;оцпм обюазох 1 Образец устанавливается на стол 4 таким образом, что хрупкий слой перпендпкулярсн т 10 верхностп стола Зате:.1 В торец Образца вдавливают ипдентор на расстояепЕИ Дгг 2, где 3 -диаметр отпечатка, выбранный в зависимости ст свойств подлоккп.5310574расстоянии от нее, равном половине диаметра или диагонали отпечатка. Способ испытания хрупких слоев, образованных на металлической подложке, заключающийся в том, что в испытуемый образец вдавливают индентор и по размерам разрушенной поверхности судят о прочности слоя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, индентор вдавливают в подложку по плоскости, перпендикулярной плоскости нанесенного слоя, на Формула изобретения Источники информации, принятые во внимание при экспертизе:б 1. Л. Г. Тимощук, Механические испытанияметаллов. Металлургия 1971, стр. 195197.2. В, М. Глазов и др, Микротвердостьметаллов, М, Металлургия 1969 гстр, Ю 70-74.Составитель Г. РотницкийРедактор И, Бродская Техред М, Левицкая Корректорй, МельниченкоЗаказ 5407/148 Тираж 1029 П одписноеОНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

2082155, 08.12.1974

ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ БЕЛОРУССКОЙ ССР

ДОВНАР СТАНИСЛАВ АЛЬБЕРТОВИЧ, БУГРЕЕВ ВЛАДИМИР СЕМЕНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 3/00

Метки: испытания, металлической, образованных, подложке, слоев, хрупких

Опубликовано: 05.10.1976

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-531057-sposob-ispytaniya-khrupkikh-sloev-obrazovannykh-na-metallicheskojj-podlozhke.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ испытания хрупких слоев, образованных на металлической подложке</a>

Похожие патенты