Стекло

Номер патента: 183912

Опубликовано: 01.01.1966

МПК: C03B 15/18, C03B 33/02

Метки: линия, листов, листового, поточная, резки, стекла, укладки, ящик

...Процесс передачи отрезанного стекла от машины до позиции резки сопровождается значительным боем из-за несовершенства механизмов.Цель изобретения - полностью механизировать процессы резки и упаковки листового стекла. Достигается это совокупным применением последовательно (по ходу технологического процесса) установленных поворотной рамы для укладки листов стекла, приемного стола с встроенными транспортными роликами, конвейера для резки стекла с вмонтированными в него боковыми упорами и подъемно-опускной рамы с поперечными роликами, переставных режущих инструментов, ножей для отломки надрезанных листов стекла, ковейера для упаковки стекла, вакуум-присоного укладчика листов стекла в ящик,На чертеже представлена схема устройства.5 При...

Номер патента: 606837

Опубликовано: 15.05.1978

Авторы: Арзаньянц, Балакло, Буравчук, Голованов, Кузин, Мышев, Новиков, Посыльный, Трофимов, Явич

МПК: C04B 19/04

Метки: бетонная, смесь

...и выделяя в раствор ионыкальция, а с другой стороны, свободная щелочь активизирует поверхность инертного заполнителя имолотой горелой породы, способствуя более полно.му протеканию физико. химических процессов твердсция смеси,Для испытания физико механических и проч.постных характеристик бетонной смеси изготовляют образцы в виде кубов 100100100 мм.Приготовление образцов осуществляют следующим образом,Дозированные компоненты (молотая горелаяпорода ц цаполнитель) смешивают в сухом виде мзатворяют соответствующим количеством жидкогостекла. Смесь перемешивают и полученную массуиспользунп для изготовления образцов способомполусухого прессования.Отформованные об т гидротермэльцой обработке при 8 - 1 Оч,и,606837 термической сушке при той же...

Номер патента: 998505

Опубликовано: 23.02.1983

Автор: Артюшкин

МПК: C02F 3/00, C12Q 1/02

Метки: активного, внешней, воздействия, ила, микрофлору, среды, степени, факторов, физических, химических

...ротаметр к воздушнойлинии или микрокомпрессору, например,типа ИК-Л 2. При аэрации образца срасходом воздуха в пределах 0,30,5 л/мин погружает в него на 1/2глубины сосуда датчик анализатора кислорода и/или на 1/2 длины электродрН-метра.Температуру образцов при определении поддерживают постоянной с помощью автоматического регулятора,например, типа ЗРА-И.7 99850При аэрации образцов микрофлоры кривая потребления кислорода переходит на плато, определяемое расходом кислорода на эндогенное дыхание. Кривая рН в этом случае сдвигается в сторону более высоких значений .за счет удаления имеющейся и выделяющейся объемом биомассы микрофлоры двуокиси углерода.Когда температура образца микро флоры достигает требуемого значения в пределах 5-50 С, в...

Номер патента: 1531946

Опубликовано: 30.12.1989

Автор: Егоршин

МПК: A23B 4/04

Метки: копчения, пищевых, продуктов, сушки

...из двух Кэтджно рдсполо)к нных Осеых рврсивных вентиляторов 11, Икы когор)х црез сдльниковые ) логиния вы 1 лены наружу н соединены с ,(ктродвигдте,еч 11 к,инременной пере- .1;Н(н 12. ".0 сторонь камер 6 и 6 на вени,н;ионыч бгОк 9 уст;новлеа съемная н р )ри 1 ннышн;я 1 н ик 1 13, нредназнаццн;н для стдбн.Издцни скорости рабоч(й сч( и НО Всему цнрцночу сецению кдч( р Б кдж,1 ч ентнляционном блоке 9 ) с);Н)В,Ньруб:дгыц;грвдтели 14 дляд,)ржанин гчнрт ры рабочей смеси.Вн. у кдлр, и 6 по их ширинелцНро;ц црл 1)у,ьныц нор)б 1;) (. раср,1,Нт,цли щлячи 16 и двумя пдт. ру кдч н7 и 1)( систмы подачи рабочей ЛИ )О ГН 1 С ГН( Нцо Д, Я Г 10 Д 11 И ДЫМ 1 ИЗ ь)ч(н нрдгр,Осуыенного воздуха из ) (Н.1 Н(нр; 1 Ннк;з;Нь)11 р( гродк; 7 ч( ж,),1 уля рядамий...

Номер патента: 1747895

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Богомолов, Борейко, Еськов, Захаренков, Линский, Образцов, Подоба, Серегин, Фирсов

МПК: G01B 21/00

Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения

...зеркала10 и 11, возвратный отражатель 21, прямаяреперная,линия 22 в поле зрения интерферометра.На фиг.4 показаны пробные стекла иконтролируемые поверхности при значительных отклонениях радиусов кривизныпробных стекол от номинального значения,вид сверху: пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22. На фиг,5 показаны пробные стекла и контролируемые поверхности, размещенные на общей раме, при смещении интерферометра из центра кривизны поверхностей сравнения, вид сверху; пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, жесткая рама 9, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22.На фиг.б приведен пример реализации способа с наклонной осью интерферометра при...