Способ измерения времени релаксации носителей заряда в кристалле
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
52422 ОП ИСАНИ Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Республик. б О 1 э аявлено 04.06.74 (21) 2029737/25присоединением заявки-2) аоударствеииыи комитет Совета Министров СССР 23) Приорпт а делам иэобретеи и открытий) УДК 2(088,8 Опубликовано 30.04.76. БюллетеньДата опубликования описания 12.01.77(72) Авторы изобретения Ю, В. Гуляев, А, С, Бугаев, С, Н, Иванов, Г.и Е. Н, ХазановОрдена Трудового Красного Знамени институти электроники АН СССР Мансфельд диотехники) Заявитель 54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ РЕЛАКСАЦИИ ЭНЕРГИ 1 НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В КРИСТАЛЛЕтоа эпэлту эв КТ,е направ- акустогде анном материале (1) и (2), имеем 1IЮ КТаУ Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к измерению параметров твердого тела,Время релаксации носителей зарядаэнергии тэ является одним из важнейших праметров твердотельных фотоприемников,Известен способ измерения времени релаксации энергии тэ носителей зарядов в кристалле, заключающийся в измерении проводимости и разности потенциалов на образце, 10Время релаксации энергии определяется почастотной зависимости проводимости.Известный способ требует высокочувствительной прецезионной аппаратуры, а результаты, полученные на его основе, трудно воспроизводимы.Особенностью предлагаемого способа является то, что, с целью упрощения измерения иповышения точности, в исследуемый образецвводят ультразвуковую волну, измеряют разность потенциалов в направлении распространения волны и проводимость в перпендикулярном направлении.При распространении по кристаллу высокочастотной ультразвуковой волны (УЗВ) 25из-за механизма электронфотонного взаимодействия звук поглощается электронами и ихсредняя энергия (температура) увеличивается. В области температур, где подвижностьносителей заряда зависит от их энергии, ука- ЗО анное увеличение температуры электронов риводит к изменению сопротивления образ ца Йо, которое дается выражением гд К - постоянная Больцмана;То - температура образца;аав - величина электронного поглощенияУЗВ;и" аэ - мощность УЗВ потока;о - показатель степени зависимости времени релаксации импульса электро.нов от энергии;и - концентрация электронов,Величины аэ У, и нужно предварительно измерить. Предлагаемое устройство преду. сматривает эту необходимость.При распространении УЗВ, вдоль пения его распространения возникает электрическое напряжениеоэ 1 11 ав 1.Составитель Ю. МухартовТехред А. Камыаиикова Редактор И, Грузова Корректор Л. Котова Заказ5191 Изд1314 Тираж 1029 ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 13035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Подписное МОТ, Загорский филиал Схема Измерения т, при прохождении по образцу УЗВ представлена на фиг, 1, где 1- - используемый кристалл; 2 - акустоэлектрический преобразователь, обеспечивающий заведение в кристалл звукового потока от генератора 3; 4 - омический контакт; 5, 6 в - омические (невыпрямляющие) контакты-датчики. Между контактом-датчиком 5 (или 6) и контактом 4 измеряютмежду контактами-датчиками - ЛЯ/Яо. В каждую из этих цепей включены индикаторы 7 и 8. Способ измерения времени релаксацииэнергии носителей заряда в кристалле, заклю- Б, чающийся в измерении проводимости и разности потенциалов на исследуемом образце, отличающийся тем, что, с целью упрощения и повышения точности измерения, в образец вводят ультразвуковую волну, измеряют раз О ность потенциалов в направлении распространения волны и проводимости в перпендикулярном направлении.
СмотретьЗаявка
2029737, 04.06.1974
ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ИНСТИТУТ РАДИОТЕХНИКИ И ЭЛЕКТРОНИКИ
ГУЛЯЕВ ЮРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, БУГАЕВ АЛЕКСАНДР СТЕПАНОВИЧ, ИВАНОВ СЕРГЕЙ НИКОЛАЕВИЧ, МАНСФЕЛЬД ГЕОРГИЙ ДМИТРИЕВИЧ, ХАЗАНОВ ЕФИМ НАУМОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 29/00
Метки: времени, заряда, кристалле, носителей, релаксации
Опубликовано: 30.04.1976
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-512422-sposob-izmereniya-vremeni-relaksacii-nositelejj-zaryada-v-kristalle.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения времени релаксации носителей заряда в кристалле</a>
Способ измерения объемного времени жизни неравновесных носителей заряда в примесных полупроводниках
Номер патента: 1778819
Опубликовано: 30.11.1992
МПК: H01L 21/66
Метки: времени, жизни, заряда, неравновесных, носителей, объемного, полупроводниках, примесных
...подключения испытуемого об разца (фиг. 2) показаны: диафрагма 1, игольчатые электроды 2, испытуемый образец 3,область рекомбинации 4, инжектирующее излучение 5,.линии электрического тока 6;Реализуется способ следующим образом. В зависимости от требуемого уровня инжекции задаются количеством свободных носителей заряда примеси в зоне проводимости полупроводника и пользуются вь 1 раже нием где и - количество свободных зарядов примеси в зоне проводимости полупроводника, А - константа, численно равная количеству связанных носителей заряда с энергией активизации Еи, К - постоянная Больцмана, Т - абсолютная температура, определяют требуемую температуру образца,Присоединяют испытуемый образец 3 к источнику тока при помощи игольчатых электродов...
Бесконтактный способ определения эффективного времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводнике
Номер патента: 1384117
Опубликовано: 23.08.1990
МПК: H01L 21/66
Метки: бесконтактный, времени, жизни, заряда, неравновесных, носителей, полупроводнике, эффективного
...излучения, ш - эффективная45масса электрона.Для, детектирования излучения использовался фоторезистор иэСЙИ 808 Те при 77 К, который имеетграницу чувствительности при =11 мкм.Таким образом, практически диапазондлин волн 1-11 мкм, Иаксимальный коэффициент поглощения в этом диапазоне .равен для максимальной концентра 18 в.цин электронов 10 см .К = 200 см,.Следовательно толщина д образцадолжна быть впределах 0,52 ,й4 50 мкм, например 10 мкм. Для длины волны0,8 мкм.поглощение определяетсямежзонными переходами. Коэффициент поглощения длятаких переходов зависит от энергиикванта и не зависит от концентрацииносителей заряда, Таким образом,временная зависимость плотности излучения на длине волны 0,8 мкм не будет пропорциональна концентрации...
Устройство для определения времени релаксации и энергии активации ориентационных движений жидких кристаллов
Номер патента: 540242
Опубликовано: 25.12.1976
МПК: G02F 1/133
Метки: активации, времени, движений, жидких, кристаллов, ориентационных, релаксации, энергии
...схему 4, преобразователь частота в постоянн напряжение 5.10 Прозрачный измерительный конденсатор 1состоит, например, из двух стеклянных обкладок с прозрачным проводящим покрытием пз тонкого слоя окиси олова. Между обкладками помещен объект исследования. За одной из 15 обкладок конденсатора размещен фотодетектор 2. Генератор спнусоидального переменного по частоте напряжения подключается к ячейке 1. Фотодетектор 2 подключен к регистрирующей двухкоординатной схеме 4, на одну из 20 координат которой поступает сигнал с фотодетектором 2, а на другую координату - сигнал, пропорциональный частоте с преобразователя частота в постоянн напряжение 5, Измерительный конденсатор и фотодетектор 25 освещаются источником света.При работе устройства...
Датчик скорости носителей электрического заряда
Номер патента: 569950
Опубликовано: 25.08.1977
Авторы: Коваленко, Линецкая, Миронов, Шихов
МПК: G01P 3/64
Метки: датчик, заряда, носителей, скорости, электрического
...т устройству 6, По обе стороиы ко тура б уо тановлеиы заземленные экраны 1 и 2. Эа эвмлвиный экран 1, установленный со сторо ны выхода носителей заряда (частиц), вы полнея изогнутым, Заземленный экран 2, установленный со стороны входа носителей заряда (частиц), покрыт слоем диэлектрика 3. Отбойный козырек 7 на стойках 8 установлен на изогнутом экране 1 со стороны выхода частиц из датчика.Предлагаемое .устройство работает .следу юшим образом, Датчик устанавливают в среде носителей эпектричского заряда в соот569950 Составитель В, Оже Рекактоо Р 11 ком ТекРек А. Демьввова Ко екто Г 1, Макаванч Заказ 3283/36 Тираж 1101 П одписное 1.111 И 1111 Р 1 Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва,...
Устройство для измерения времени заряда конденсаторов
Номер патента: 296048
Опубликовано: 01.01.1971
Авторы: Дудко, Зубцовский, Мицук, Остроушко
МПК: G01R 19/12
Метки: времени, заряда, конденсаторов
...и и р-ссл Составитель А. Мермаа и Л. Корогод оказ 788/ ЦИИИП Тираж 473 Подппснизобретений и открытийтров СССРая наб., д. 4/5 8 Изд. М 348И 1(омитста по деламири Совете МиниМосква, Ж, Раушс гпоГрафи, ир. Сапунова, 2 пряжения конденсатор 7 заряжается по цепи резистор 2 - диод 4 - резистор 8, а конденсатор 6 - через резистор 8 и диод 5 до величины заданного опорного напряжения.При отсутствии на входе устройства напряжения диод 12 заперт, ключевое устройство 10 закрыто. С выходов генератора на закрытый вход ключевого устройства и управляющую сетку тиратрона поступают импульсы, не изменяющие состояние тиратрона и счетчика импульсов. Одновременно с подачей ко входу устройства нарастающего напряжения ключевое устройство 10...
Предыдущий патент: Способ измерения скорости ультразвука в средах
Следующий патент: Акустико-пневматический газоанализатор
Случайный патент: Установка для отверждения полимерного материала