Кромкофуговальная головка

Номер патента: 528603

Опубликовано: 15.09.1976

Авторы: Атспупенас, Рагульскис, Скучас

МПК: G11B 15/62

Метки: головки, зазора, записи, магнитной, между, носителем, поверхностью, рабочей

...следующим образом.При поступлении на вход блока 2 знакопеременного сигнала с изменяющейся амплитудой, воспроизведенного с магнитного носителя магнитной головкой 1, на выходе блока 2 получается однополярный сигнал, После дифференциирования однополярного сигнала блоком дифференциирования 14 и формирования его формирователем 15 получается сигнал, продолжительность которого равна половине очередной полуволны выходного сигнала блока 2, Этот сигнал поступает на управляющий вход блока слежения-хранения 4, на второй вход которого поступает выходной сигнал блока 2. При этом блок слежения-хранения 4 во время первой половичы каждой полуволны сигнала работает в режиме слежения, а во время второй половины при появлении сигнала с выхода...

Номер патента: 1793215

Опубликовано: 07.02.1993

Автор: Аноховский

МПК: G01B 21/00

Метки: между, объекта, отражающими, поверхностями, расстояния

..."Оптическая гОлография", Мир, 1973; с. 149). Период изображения пространственно-частотного спектра марок можно изменять в зависимости от размера дифракционных щелей (их ширины). Период изображения выбирается в зависимости от размеров фоточувствитЕльных площадок приемников излучения (или апертуры считывающего устройства),Устройство определения пространственного положения двух изображений пространственно-частотных спектров марок может быть выполнено различным образом, например с помощью телевизионной системы, видекона и др. или может состоять из двух фотодиодных линеек, расположенных в плоскости изображений пространственно-частотных спектров перпендикулярно оптической оси на одинаковом от нее расстоянии с возможностью перемещения О 1 уг...

Номер патента: 1180697

Опубликовано: 23.09.1985

Авторы: Айсин, Подобрянский, Пушечников, Смирнов, Хлебников, Шевелев

МПК: G01B 21/08

Метки: между, отражающими, поверхностями, расстояний

...Кроме того, измеряется расстояние между отражающими поверхностями объекта 31, например линзы,Устройство работает следующимобразом,Источник 1 света освещает щелевуюдиафрагму 2, автоколлимационноеиэображение которой от первой поверхности строится с помощью полупрозрачного элемента 3, коллимирующегои фокусирующего объективов 5 и 6 вплоскости анализа, в которой -установлена щелевая диафрагма 2,Автоколлимационное изображениещелевой диафрагмы 2 также строитсяв плоскости анализа с помощью полупрозрачного элемента 7, зеркал 8-10и фокусирующего объективаФокусирующие объективы 6 и 11 установлены таким образом, что расстояние между их фокальными плоскостями больше максимального расстояния между отражающими поверхностями линзы 31.При перемещении...

Номер патента: 1188539

Опубликовано: 30.10.1985

Авторы: Бручас, Маченис, Печкис

МПК: G01B 21/16

Метки: двумя, зазоров, которых, малых, между, одна, поверхностями, прозрачная

...сигнал,прошедший через фильтр 9, и одновременно производит его калибровкус помощью эталонного калибровочногосигнала, поступающего с выходаамплитудного детектора 11. Такимобразом, при изменении коэффициентапередачи всей системы автоматическиподдерживается калибровка информационного сигнала. Например, еслиувеличивается коэффициент передачисистемы вследствие, например, увеличения напряжения питания или режима работы фотоприемника 4, то всоответствующее число раз увеличивается амплитуда информационногосигнала, свидетельствующего о величине зазора, и амплитуда эталонного(калибровочного) сигнала, последнеена столько же раз уменьшает коэффициент усиления в усилителе 12,Откалиброванный сигнал поступаетна регистратор 13, по...

Номер патента: 1305538

Опубликовано: 23.04.1987

Авторы: Бручас, Маченис, Печкис

МПК: G01B 21/16

Метки: двумя, зазоров, которых, малых, между, одна, поверхностями, прозрачная

...кинематически связан с микрометрическим винтом 13,Устройство работает следующим образом.При вращении микрометрического винта 13 клин 10 перемещает по направляющим 12 пьезовибратор 8 и поверхность 35 7 вводит в зону измеряемого зазора. Излучаемый источником 1 света световой поток проходит через светоделитель 2 и направляется на зазор, образуемый поверхностями 6 и 7. Отраженные этими поверхностями интерферирующие лучи светоделителем 2 направляются через светофильтр 3, который пропускает свет определенной частоты на вход фотопри-. емника 4, сигналы от которого поступают на осциллограф 5. С помощью источника 9 питания подают напряжение на пьезовибратор 8 и наблюдают осциллограммы на экране осциллографа, т.е. количество переходов светового...