Способ контроля качества прозрачных поверхностей
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 466380
Авторы: Озембловский, Трейнер
Текст
:фу.ф ОПИСАН ИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУш 466380 Союз Советских Социалистических Республик,73 (21) 1866082,25-2 1) М. Кл. 6 01 Ь явлено с присоединением заявки2) Приоритетпубликовано 05.04.75. БюллетеньГосударственный комитет Совета Министров СССР делам изобретений(5 531,717 (088,8) и отк ыти ия описания 19.06,75 ата опубликов 2) Авторы изобретенит А, Т. Озембловский и ейне 71) Заявител 54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПРОЗРАЧНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙосится ра.пу. рассчитан ровня при дмет изобретения прозрачных померении перемежидкости вдоль тличающийся я точности контька воздуха и опо смещению в горизонтальной Изобретение отн к измерительнойтехнике.Известен способ контроля качества поверхности ампул жидкостного уровня, заключающийся в измерении скорости перемещения пузырька воздуха вдоль ампулы с жидкостьюпри ее наклоне на определенный угол.Недостатком этого способа является его невысокая точность, что не позволяет контролировать локальные отклонения формы поверхности.Цель изобретения - повышение точностиконтроля.Это достигается тем, что по предлагаемомуспособу изменяют объем пузырька воздуха ио кривизне поверхности судят по смещениюцентра пузырька воздуха в горизонтальнойплоскости.На чертеже изображена схема контроля попредлагаемому способу (волнистой линией показано сечение потолочной поверхности ампулы с жидкостью, в которой размещен пузыреквоздуха, занимающий под действием выталкивающей силы Р положение устойчивого равновесия, а пунктирной линией - сечение идеальной сферической поверхности),Контроль поверхности осуществляется следующим образом,С помощью микроскопа по границам пузырька определяют положение От его центЗатем меняют объем пузырька, например,тем изменения давления в жидкости, При5 этом в случае отклонения поверхности от идеальной сферической пузырек сместится в горизонтальной плоскости в сторону нового положения устойчивого равновесия.С помощью микроскопа по новым границамо пузырька определяют положение Отт его центра. Разность Л положений центра пузырькаявляется показателем кривизны потолочнойповерхности в зоне контроля,По этой разности может быть5 уход нуля в ампулах жидкостного уизменении температуры,20 Способ контроля качества верхностей, основанный на и щения пузырька воздуха в потолочной поверхности, о тем, что, с целью повышени 25 роля, изменяют объем пузыр кривизне поверхности судят центра пузырька воздуха плоскости.466380 нпсов орректо Подписи Изд.ПИ Государстве по делам Москва, аказ 1432/10ЦН едактор И, Бродская Составитель В. Горде Техред 3, Тараненко 635 Тираж 782нного комитета Совета Министров Сизобретений и открытийЖ, Раушская наб., д. 45 ппография, пр, Сапунова
СмотретьЗаявка
1866082, 03.01.1973
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-8337
ОЗЕМБЛОВСКИЙ АЛЕКСАНДР ТАДСУШЕВИЧ, ТРЕЙНЕР ИГОРЬ ЛЕОНИДОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 13/22
Метки: качества, поверхностей, прозрачных
Опубликовано: 05.04.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-466380-sposob-kontrolya-kachestva-prozrachnykh-poverkhnostejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества прозрачных поверхностей</a>
Предыдущий патент: Струйный преобразователь линейного размера
Следующий патент: Устройство для измерения угловых перемещений объектов
Случайный патент: Восстановитель постоянной составляющей импульсных сигналов напряжения