Способ определения положения стереоскопической базовой линии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 428482
Автор: Львовский
Текст
Сотоз Советских Социалистицеских Республик(51) М. Кл. Н 01137/2 соединением заявки ГА Государственныи комитет.Совета Министров СССРпо делам изобретенийи открытий. Чих, Л. Г. Шпыиова, В, И. Синенькая и М, А. Саниц 71) Заявитель 54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ СТЕРЕОСКОПИЧЕСКОЙ БАЗОВОЙ ЛИНИИ редмет изобретецпя Изобретение относится к электроццо-микроскопическому исследованию объектов,Известец способ определения стереоскопической базовой линии, заключающийся в том, что в стерсопатроц микроскопа помещают реп лику дифракциоппой решетки. Стереоскопическая базовая .пиния на изображепип перпецдикулярца линиям решетки, так как последние располагаются параллельно оси наклона объекта. 1Однако этот способ определения базовой сишии является очень длительным.С целью умепьшеция времени определения стереоскопической базовой линии, любую характерпую точку изображения объекта совмещаот с центром градусной сетки, панесепцой ца экрапе микроскопа, и путем поворота объекта вокруг оси, перпендикулярной оптической оси микроскопа, по сетке ца экране определяют линию, вдоль которой перемещается характерная точка изображения, а по ли. ппи - положецие стереоскопической базовой лпции. Суть изобретения поясняется чертежом, ца котором изображена предлагаемая градусцая сетка.Способ определения положения заключает- в следующем. Выбирают характерную точку изображеппя путем перемещецця столика обьекта, совмещают точку с цецтром градусной сетки О. Затем гоииометром поворачивают объект па один градус вокруг горизонтальной оси. Выбранная точка прп этом перемещается по экрану, например, по лицпи 01, составляющей угол ср с нулевой линией. Этот угол и есть угол, образуемый стереоскопической базовой лицией и меньшей стороной прямоугольника, ограничивающего изображение на снимке,Способ определеция положения стереоскопической базовой линии на экране электронного микроскопа, отлачающссйся тем, что, с целью уменьшения времени определения стереоскопической базовой линии, характерную точку изображения объекта совмещают с центром градусной сетки, нанесенной па экране микроскопа, и путем поворота объекта вокруг оси, перпендикулярной оптической осц микроскопа, по сетке ца экране определяют лицию, вдоль которой перемещается характерная точка изображеция, а по линии - положение стереоскопической базовой линии,428482 Составитель Г. Жукова Техред Г. Васильева Корректор В. Гутман Редактор Л, Цветкова Тип. Харьк. фил. пред. Патент Заказ 769/75 Изд, Ла 1624 Тираж 760 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
1829082, 15.09.1972
Львовский ордена Ленина политехнический институт
МПК / Метки
МПК: H01J 37/26
Метки: базовой, линии, положения, стереоскопической
Опубликовано: 15.05.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-428482-sposob-opredeleniya-polozheniya-stereoskopicheskojj-bazovojj-linii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения положения стереоскопической базовой линии</a>
Способ нахождения точек перелома профиля пути на железных дорогах
Номер патента: 314071
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Андреев
МПК: G01C 7/02
Метки: дорогах, железных, нахождения, перелома, профиля, пути, точек
...поверхностью его визирной оси равна высоте оси верхней марки рабочей рейки и расстоянию от рабочей поверхности до нуля вертикальной марки измерительной рейки,Предлагаемый способ отличается от,известных тем, что на участке пути вблизи исходных точек выбирают две контрольные точки, расположенные в направлении к точке перелома пути, оптическим приборомустанавливаемым поочередно в первой и второй исходных точ - расстояния между первои и второй исходными и контрольными точками;2 - отсчеты по рейке;- расстояние между исходными точками.Составитель Л. А. КолюбакинаТехред А. Камышникова Корректоры: А. Николаеваи Л. Корогод Редактор Т, Иванова Заказ 3256/17 Изд.1333 Тираж 473 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при...
Стереоскопический однообъективный микроскоп
Номер патента: 1649934
Опубликовано: 28.02.1994
МПК: G02B 21/00
Метки: микроскоп, однообъективный, стереоскопический
1. СТЕРЕОСКОПИЧЕСКИЙ ОДНООБЪЕКТИВНЫЙ МИКРОСКОП, содержащий переставной осветитель, объектив и два оптических канала, в каждом из которых последовательно установлены блок изменения увеличения, ахроматическая линза и оборачивающая призма, а также окуляр, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности контроля микроструктур с малорельефными элементами, в оптические каналы между объективом и блоком изменения увеличения введены съемные полупрозрачные отражатели, плоскость установки которых находится под одинаковым углом к оси блока изменения увеличения, преимущественно равным 45o.2. Микроскоп по п. 1, отличающийся тем, что, с целью контроля микроструктур, полученных травлением, коэффициенты отражения первого и второго...
Планахроматический объектив микроскопа
Номер патента: 1652955
Опубликовано: 30.05.1991
Авторы: Грамматин, Егорова, Ларина, Румянцева
МПК: G02B 21/02
Метки: микроскопа, объектив, планахроматический
...объективов дпя микроскопа.Тип 1 обьектива.Обьектив имеет следующие основныехарактеристики:Увеличение, крат аоЧисловая апертура 0,65Фокусное расстояние, мм, 62Линейное поле вплоскости изображения, ммРабочее расстояние,ммТолщина покровногостекла, ммТип И объектива.Объектив имеет следующие основныехарактеристикиУвеличение, крат 25 Числовая апертура 0,50 Фокусное расстояние, мм 10,0 Линейное поле вплоскости изображения, ммРабочее расстояние, ммТолщина покровногостекла, мм От 1,0 до 2,0 Из анализа аберраций, рассчитанных дпя указанйых двух типов обьектива, видно, что достигнута высокая степень коррекции в пределах всего поля. Для спектральной области Ь = 546,1 нм, 4 = 653,0 нм, 4 =. =486,1 нм и толщины покровного стекла 1- 1,7...
Устройство для подготовки к электронной микроскопии объектов, предназначенных для изучения морфологических структур
Номер патента: 972315
Опубликовано: 07.11.1982
Авторы: Вирник, Караганов, Юшко
МПК: G01N 1/28, G01N 23/225
Метки: изучения, микроскопии, морфологических, объектов, подготовки, предназначенных, структур, электронной
...отверстия 9 верхнего ряда 7 сообщаются со сквозными отверстиями 4 наружного концентрического972315 Формула изобретения 3ряда 5, а стопорные отверстия 9 нижнего ряда 8 - со сквозными отверстиями 4 внутреннего концентрического ряда 6. Между пластиной 1 и основанием 2 размещен диск1 с отверстиями 12 для капсул 13. Отверстия 4 и 12 строго соосны.В нижней части стержней 4 выполнен паз 15. Муфта 16 служит для закрепле)шя петли 17, снабженной брацшами 8, соединенными с опорной дугой 19, и изготовленной из упругой ленты, ширина которой соразмерна величине обьекта.Устройство работает следую)цим обр- зом.Через отверстия2 цоецают желатиновые капсулы 13, которые заполцяют заливочной средой. Через отверстия 4 вводят стержни 14. Под визуальным...
Объектив микроскопа
Номер патента: 1219994
Опубликовано: 23.03.1986
МПК: G02B 21/02
Метки: микроскопа, объектив
...образованный двояковыпуклой линзой 7, двояковогнутой,линзой 8 и двояковыпуклой линзой 9, Апертурная диафрагма 10 совпадает с оправой последней поверхности объектива. Оптическая сила четвертого компонента не превосходит 0,04 оптической силы объектива. Последние поверхности первого и второго компонентов конфокальны, т.е, концентричны предметам для них.Первый компонент объектива - фронтальный служит для уменьшения числовой апертуры последующей части объектива, обеспечения требуемого увеличения, коррекции астигматизма и кривизны поля.Второй компонент коррекционный служит для уменьшения числовой апертуры объектива, двойной коррекции сФерической аберрации и астигматизма.Два первых компонента позволяют развивать значительные апертуры в...
Предыдущий патент: Кинескоп для воспроизведения цветного изображения
Следующий патент: Полупроводниковый силовой прибор
Случайный патент: Тонколистовая панель складчатого покрытия и способ сборки тонколистовых панелей складчатого покрытия