Стереоскопический однообъективный микроскоп
Формула | Описание | Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Формула
1. СТЕРЕОСКОПИЧЕСКИЙ ОДНООБЪЕКТИВНЫЙ МИКРОСКОП, содержащий переставной осветитель, объектив и два оптических канала, в каждом из которых последовательно установлены блок изменения увеличения, ахроматическая линза и оборачивающая призма, а также окуляр, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности контроля микроструктур с малорельефными элементами, в оптические каналы между объективом и блоком изменения увеличения введены съемные полупрозрачные отражатели, плоскость установки которых находится под одинаковым углом к оси блока изменения увеличения, преимущественно равным 45o.
2. Микроскоп по п. 1, отличающийся тем, что, с целью контроля микроструктур, полученных травлением, коэффициенты отражения первого и второго полупрозрачных отражателей находятся в соотношении
1= 2- 22
3. Микроскоп по п. 2, отличающийся тем, что, с целью получения максимальной освещенности, коэффициенты отражения первого и второго полупрозрачных отражателей равны 0,25 и 0,5 соответственно.
4. Микроскоп по п. 1, отличающийся тем, что, с целью контроля микроструктур, полученных резанием, он снабжен комплектом съемных полупрозрачных отражателей, коэффициенты отражения которых находятся в соотношении2= 
5. Микроскоп по п. 4, отличающийся тем, что, с целью получения максимальной освещенности, коэффициенты отражения первого и второго отражателей равны 0,36 и 0,46 соответственно.
Описание
Одним из применений стереомикроскопов является контроль микросхем.
Цель изобретения - обеспечение контроля микроструктур с малорельефными элементами.
На чертеже показана принципиальная схема микроскопа.
Микроскоп имеет: 1 - наблюдаемый объект, 2 - объектив, 3 - дополнительные линзы, 4 - оборачивающая призменная система, 5 - окуляры, 6, 7 - системы Галилея устройства изменения увеличения, 8 - первый съемный полупрозрачный элемент, 9 - второй съемный полупрозрачный элемент, 10 - источник света, 11 - конденсор. Элементы 10 и 11 образуют переставной осветитель, который в штатном состоянии микроскопа позволяет осуществлять наблюдение в проходящем свете и при косом освещении. Полупрозрачные отражатели 8 и 9 пересекаются с осями Галилея под одинаковыми углами, преимущественно равными 45о. Световые размеры этих отражателей согласованы с максимальными световыми размерами обращенных к ним элементов систем Галилея. В зависимости от характера индикатриссы рассеяния наблюдаемых структур полупрозрачные отражатели 8 и 9 имеют коэффициенты отражения, находящиеся в одном из соотношений
1= 2- 22 (1)2= 1/(1- 1+ 21) (2) В случае соотношения (1) 1 = 0,25, 2 = 0,5, а при соотношении (2) 1= 0,36, 2 = 0,46 обеспечивают максимальную освещенность.Микроскоп работает следующим образом. Свет от осветителя (10, 11) попадает на первый полупрозрачный отражатель 8. Часть
1 этого света отражается в сторону объектива 2 и фокусируется им на наблюдаемом объекте 1. Вторая часть (1- 1) света проходит сквозь отражатель 8, попадает на второй полупрозрачный отражатель 9, частично ( 2) отражается им в сторону объектива 2 и тоже фокусируется им на наблюдаемом объекте 1. Если индикатрисса рассеиваемого наблюдаемым объектом света имеет направленность в сторону падающего на объект света, то использование отражателей с коэффициентами отражения по соотношению (1) обеспечивает одинаковую освещенность изображений в обоих каналах наблюдения 3, 4, 5, 6 (или 7), причем эта освещенность будет максимальной, если 1 = 0,25, а 2 = 0,5. В случае, когда индикатрисса рассеиваемого наблюдаемым объектом света направлена под углом отражения (угол отражения равен углу падения света на объект), то для получения одинаковой освещенности изображений в обоих каналах наблюдения используют отражатели с коэффициентами отражения по соотношению (2). Освещенность будет максимальной в этом случае при 1 = 0,36 и 2 = 0,46. (56) Бабушкин С. Г. и др. Оптико-механические приборы, Машиностроение, 1965, с. 26-29.Чуриловский В. Н. Теория оптических приборов. Машиностроение, 1966, с. 445.
Изобретение относится к приборостроению, а именно к стереоскопическим микроскопам. Цель изобретения - обеспечение контроля микроструктур с малорельефными элементами. В устройство введены съемные полупрозрачные отражатели, установленные между объективом и элементами блока изменения увеличения. Отражатели установлены друг за другом и пересекаются с осью блока изменения увеличения под углом 45. Для наблюдения объектов с разными свойствами съемные отражатели образуют комплексы с соответствующими соотношениями коэффициентов отражения. Приведены соотношения. 4 п. ф-лы, 1 ил.
Рисунки
Заявка
4690966/10, 20.03.1989
Антонов А. П, Степин Ю. А
МПК / Метки
МПК: G02B 21/00
Метки: микроскоп, однообъективный, стереоскопический
Опубликовано: 28.02.1994
Код ссылки
<a href="https://patents.su/0-1649934-stereoskopicheskijj-odnoobektivnyjj-mikroskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Стереоскопический однообъективный микроскоп</a>
Машина для заделки виноградных прививок при посадке в школку
Номер патента: 388686
Опубликовано: 01.01.1973
Авторы: Морошану, Попа, Цуканов, Шкиопу
МПК: A01B 13/04
Метки: виноградных, заделки, посадке, прививок, школку
...скатных досок.На фиг, 1 схематически изображена описываемая машина, вид сбоку; на фиг. 2 - разрез по А - А фиг. 1; на фиг. 3 - вид Б на фиг. 1; на фиг. 4 - машина, вид сверху; на фиг. 5 - разрез по В - В фиг. 2; на фиг. 6 - вид Г на фиг, 2.Машина включми колесами 2, К ает в себя раму 1 с опорныраме прикреплен фрезерный рабочий орган 3, за которым установлены нак.лонные щиты 4, а за ним транспортеры 5,Под транспортерами размещены скатныедоски б, плоскости которых стыкуются в верх 5 ней части с образованием ребер, а в нижнейчасти - щелей для ссыпания почвы, причемугол а наклона плоскостей скатных досок -регулируемый. Под скатпыми досками установлены отражатели 7.0 Привод осуществляется от ВОМ тракторачерез редуктор 8 и зубчатую...
Отражатель с переменным по радиусу коэффициентом отражения
Номер патента: 666500
Опубликовано: 05.06.1979
Авторы: Коробченко, Михайлов, Родичев
МПК: G02B 5/126
Метки: коэффициентом, отражатель, отражения, переменным, радиусу
...3 - кривая зависимости коэффициента отражения у,от угла охвата отражателя (Ъ,Отражатель 1 имеет рабочую равномерно отражающую поверхность 2. Через отверстие в центре отражателя проходит ось Э вращения многолучевой звездочки 4, Последняя задерживает часть светового потока, падающего на отражатель и, чем ближе к центру, тем меньше энергии попадает на его отражающую поверхность, Центральная часть звездочки вообще не прспускьет666500 Формула изобретения Заказ 3178Подписное И ПИ д 4ма л 7 еая градус света. Поэтому коэффициент отражения в таком устройстве изменяется от максимума на.периферии до минимума в центре. Максимальный коэффициент отражения определяется качеством отражающего покрытия 2 отражателя 1, а минимальный - составляющей...
Отражатель с переменным по радиусу коэффициентом отражения
Номер патента: 964558
Опубликовано: 07.10.1982
Автор: Коробченко
МПК: G02B 5/126
Метки: коэффициентом, отражатель, отражения, переменным, радиусу
...спо ,собности отражателя.Поставленная цель достигается тем, что отражатель снабжен приводом перемещения многолучевой звездочки вдоль оптической оси отражателя, кинематичео ки связанным с осью звездочкаНа фнг. 1 изображена схема отражателя с приводом для перемещения звездочки; на фиг. 2 отражатель со стороны эвез дочки; на фиг. 3-5 - кривые зависимости коэффициента отражения р от угла охвата отражателя р цри различных положениях вращакнцейся звездочки.Отражатель 1 имеет равномерно отражающее зеркальное покрытие на поверх ности 2, На оси 3 укреплена многолучевая звездочка 4 с центром на оптической3 9648 оси 5 отражателя, Ось 3 имеет круглый прилив 6 и канал 7, в который входит ведущий хвостовик 8 электродвигателя 9. С приливом 6...
Отражатель света для осветительных приборов
Номер патента: 1539448
Опубликовано: 30.01.1990
Автор: Кладницкий
МПК: F21V 7/09
Метки: осветительных, отражатель, приборов, света
...магнитов, Если отражающий слой выполняется из магнитомягкого материала, то основа. 1 долж на быть выполнена в виде постояннОго магнита. Для изменения характер 6 отраженного света, преодолевая сйлу магнитного притяжения, снимается отражающий слой и заменяется на, 25 другой (новый). Основа отражателя и магнитные частицы, образующие отражающйй слой, выполнены из магнитотвердого материала. При повышенных температурах нагрева отражателя, превышающихО200 С, основа отражателя и магии.ые частицы могут быть вь 1 полнепными лзСоставитель П.КузинаРедактор Н.Горват Техред ИХоданич сплавов 1 ОНДК 24 или %ЯК 35 Т 5, так как до температуры 500 Г в этих сплавах отсутствуют структурные изменения, влияющие на величину магнитного потока.Основа отражателя...
Отражатель света для осветительных приборов
Номер патента: 618610
Опубликовано: 05.08.1978
Автор: Боленок
МПК: F21V 7/09
Метки: осветительных, отражатель, приборов, света
...имеюший на ренней поверхности гофры, покрытые миниевой пленкой, размещение которы спечивает заданную кривую силы свет бора.Недостатками этого отражателя яв ся одинаковые отражаюшие свойства и участках его поверхности и трудность чения заданной кривой силы света,Цель изобретения -- получение различных отражающих свойств на различных участках внутренней поверхности отражателя.Эта цель достигается тем, что алюминиевая пленка, покрывающая внутреннюю поверхность отражателя, имеет различную толщину на разных участках поверхности.На чертеже изображен предложенный отр аж атель.Отражатель состоит из основания 1, покрытого слоем эмали 2, алюминиевой пленки 3, нанесенной на слой эмали, и прозрачного закрепляющего слоя 4. Различные по...
Предыдущий патент: Миниатюрный магнетрон
Следующий патент: Способ изготовления копии дифракционной решетки
Случайный патент: Способ определения молекулярных масс полимеров