417717

Номер патента: 972350

Опубликовано: 07.11.1982

Авторы: Мачульский, Неверов

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, варианты, рентгенорадиометрического, флуоресцентного

...с приводом вращения, и кюветы с вертикальной осью вращения, образованной боковыми поверхностями двух коаксиальных цилиндров с дном, соединенной с дополнительным приводом, обеспечивающим ее вращение, при этом узел облучения и регистрации вторичного излучения, а также стержень расположены над кюветой диаметрально противоположно.На фиг. 1 показана схема первого варианта устройства; на фиг. 2 - схема второго варианта устройства.Устройство (фиг. 1) состоит из узла облучения и регистрации вторичного излучения, который содержит источник 1 излучения, детектор 2, кюветы 3 и привод 4 вращения. Кювета выполнена в форме полого цилиндра с прозрачными для излучения боковыми стенками, например бериллиевыми, и с загрузочным окном 5 в одном из торцов....

Номер патента: 1170335

Опубликовано: 30.07.1985

Авторы: Гоганов, Лукьянченко

МПК: G01N 23/22

Метки: анализа, вещества, диспергирующий, рентгеноспектрального, состава, элемент, элементного

...3 и 4, 4 и 5 плотно примыкают друг к другу, кристяллографические плоскости а 1 а в кристал" лах 1-5 расположены под разными угла"Ю ми п, с относительно рабочей поверхности кристалла Б,Линейный размер с/Ч; каждого кристалла К; удовлетворяет соотношению25к- "к(2 Ы со 59 зл Ч где Ь - расстояние между центром 30кристалла и источником рентгеновских лучей,1 -1 - минимальная разность длинрволн К - линии анализируемого элемента, и К в .линии 35этого же элемента или элемента с атомным номером Е;6 - угол Вульфа-Брэгга,а кристаллографические плоскости,по крайней мере в двух кристаллах, 40расположены под разными углами о относительно рабочей поверхности кристалла. Рабочая поверхность Б каждого кристалла плоская, а уголь, длякаждого кристалла...

Номер патента: 1176221

Опубликовано: 30.08.1985

Авторы: Григорьев, Конев, Слободянюк

МПК: G01N 23/223

Метки: атомными, большими, варианты, его, номерами, рентгеноспектрального, содержания, средними, флуоресцентного, элементов

...излучения анода стандартным образцом, содержащим определяемый элемент, рассчитывают методом наименьшихквадратов значение регрессионного коэффициента (Ь ) прямой пропорциональности зависимости измеренной относительной интенсивности 1 фнкнк равной фф/ И,/от рассчитанной (1 фн ), строят график зависимости коэффициента (Ъ ) пропорциональности от ширины канала, выбирают в качестве рабочей ширины канала большее из двух возможных. значений, при которых коэффициент пропорциональности равен единице (Ь=1), причем, если при выбранных значениях напряжения на рентгеновской трубке, ширине зазора между пластинами выход 176221ного коллиматора, ширине приемной щели перед детектором значение коэффициента пропорциональности, равное единице, не...

Номер патента: 1224688

Опубликовано: 15.04.1986

Авторы: Колесов, Коломицин, Лезин, Пуха, Энкер

МПК: G01N 23/223

Метки: анализе, рентгенофлуоресцентном, сложных, составу, сред, фона

...запишется рение значения Кц , Кнн ипроизводят прн измерении эталонныхпроб, содержащих мешающие элементыс такой поверхностной плотностью,5 которая обеспечивает интегральнуюзагрузку спектрометра, приблизительно равную интегральной загрузке,возникающей при анализе реальныхпроб, При этом Форма элементов имеетформу измерительной кюветы. Значениекоэффициента 1 ц определяют приизмерении мишени из элемента,энергия К -края поглощения которого близка, но меньше энергии первич 15 ного излучения,П р и м е р , На установке, состоящей иэ кремний-литиевого ППД с размерами чувствительной области крисгталла 80 мм х 4 мм, спектрометричес 20 кого устроиства СЭС 2-03, многоканального анализатора АИ-90,Иактивностью порядка 10 мКюри,проводятся измерения фона...

Номер патента: 1612247

Опубликовано: 07.12.1990

Автор: Косякин

МПК: G01N 23/223

Метки: анализа, рентгенорадиометрического, флуоресцентного

...области серебра можно аппроксимировать зависимостью (1) с надежностью 0,99.Для осуществления способа необходимо наличие двух источников гамма- излучения со следующими энергиями: энергия излучения одного источника должна быть равной энергии аналитичес-. кой линии определяемого элемента, а другого - возбуждать аналитическую линию, но не возбуждать характеристическое излучение мешающего (мешающих) элемента с атомными номерами2247 6где К и и - постоянные величины,Поэтому по известным содержаниямС градуировочных проб и определеннымпо этим пробам значениям параметра Ь 5рассчитывают значения коэффициентовК и и формулы (3).Пробу с неизвестным содержаниеманализируемого элемента облучают пер вым источником и измеряют интенсивность...