Номер патента: 407186

Автор: Авторы

ZIP архив

Текст

г,.ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ 407186 Союз Соаетекик Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ . Зависимое от авт. свидетельства-Заявлено 11,1,1972 ( 1736541/25-28)с присоединением заявки-Приоритет -М. Кл, О 01 Ь 11 О евударственный комитеЮоаота Министров СССРа дедам изобретенийн открытий ДК 531.715.2(088.8) ллетець46я 09.07,1974,Опубликовано 21.Х 1,1973, Дата опубликования опис Авторыизобретен им и А, А. Данилов еверо-Западный заочный политехнический инст явите ОПТИЧЕСКИЙ МИ Е 2На чертеже изображен предлагаемый оптический микрометр, общий вид.Оптический микрометр содержит объектив 1, оптический элемент 2, связанный с отсчетным устройством д, оборачивающую систему, например призму 4, сетку 5 и окуляр 5,через который рассматривается шкала 7. Оптический элемент 2 микрометра выполнен ввиде плоского зеркала, ось поворота которого0 неперпендикулярна к отражающей поверхности. Отклонение от неперпендикулярности сотавляет небольшой острый угол а, Величинаэтого угла определяет смещение лучей 1, т. е.задает диапазон смещения лучей,5 Работает предлагаемый микрометр следующим образом.Изображение шкалы 7, проектируемоеобъективом 1 в плоскость сетки 5, наблюдается через окуляр 6, При повороте оптического0 элемента 2 лучи, проходящие шкалу 7, смещаются (показано па чертеже пунктиром) относительно штрихов сетки, Величина указанного смещения, обусловленного изменениямиугла падения лучей на зеркальную поверх 5 ность оптического элемента, определяется спомощью отсчетногостройства,Изобретение относится к области измерительной техники, предназначено для,применения в оптических измерительных устройствах (геодезических приборах, измерительных микроскопах, отсчетных системах станков и т. д,) и может быть использовано для контроля с высокой точностью размеров, перемещений, деформаций и т. п.Известен оптический микрометр, содержащий объектив, окуляр, оптический элемент, предназначенный для смещения лучей и установленный с возможностью поворота вокруг своей осц перед окуляром, и отсчетное устройство для измерения величины смещения лучей. Оптический элемент представляет собой прозрачный клин.Однако на результат измерений, проводимых известных микрометром, влияют погрешности, обусловленные аберрациямиприсущими клиновой системе при прохождении сквозь нее световых лучей. Аберрации и, соответственно, погрешности измерения неустранимы вследствие переменного характера измерения их величины.Цель изобретения - повышение точности измерения оптического микрометра.Для этого в предлагаемом микрометре оптический элемент выполнен в виде плоского зеркала, ось поворота которого составляет острый угол с нормалью к его поверхносэиПредмет изобретения Оптический микрометр, содержащийктив,.окуляр, оптическпц элемент, пре407186 Составитель Лобзова Текред Т. УсковаРедакт орченк ректор О, Тюрина каз 122 Изд.1059 Государственного компт по делам изобрете Москва, Ж.35, РауисПодписноеСР НИИ агорская типография 3значенный для смещения лучей и установленный с возможностью поворота. вокруг своей оси перед окуляром, и оточетное устройство для измерения величины смещения лучей, отличаюи 1 ийся тем, что, с целью повышения точ 4ности измерения, оптический элемент выполнен в виде плоского зеркала, ось поворота которого составляет острый угол с нормалью к его поверхности.5 Тираж 651 ета Совета Министров ий и открытий кая наб., д. 4/5

Смотреть

Заявка

1736541

И. А. Грейм, А. А. Данилов Северо Западный заочный политехнический институт

Авторы изобретени

МПК / Метки

МПК: G01B 11/00, G01B 11/02

Метки: микрометр, оптический

Опубликовано: 01.01.1973

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-407186-opticheskijj-mikrometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Оптический микрометр</a>

Похожие патенты