Устройство для диагностики неисправностей в логических схемах

Союз Советских Социалистицеских Республик40697 Зависимое от авт. свидетельства-Заявлено 03.1.1972 ( 1732468/18-24)с присоединением заявки-Приоритет -Опубликовано 05.Х.1973. Бюллетень45Дата опубликования описания 4.1",.1974 М. Кл. 6 061 11/00 Государственный комитет Совета Министров СССР по делам изаоретений и открытийУДК 681.327.17(088,8) Авторыизобретения М. А. Орлюк и Ю. Г. Савченко Заявитель Институт автоматики УСТРОЙСТВО ДЛЯ ДИАГНОСТИКИ НЕИСПРАВНОСТЕЙ В ЛОГИЧЕСКИХ СХЕМАХИзобретение относится к автоматике л вычислительной технике.Известно устройство для диагностики неисправностей в логических схемах, содержащее тактовый генератор, выход которого подключен ко входу счетчика импульсов, связанного выходами со входами эталонной и диагпостируемой логических схем, выходы которых подключены через блок вычисления синдрома к дешифратору,Предлагаемое устройство отличается тем, что в него введены логические схемы ИЛИ н счетчики по числу возможных неисправностей в диагностируемой логической схеме и блок идентификации неисправностей, входы кого- рого подключены к,выхогдам счетчиков, подключенных входами через логические схемы ИЛИ к соответствующим выходам дешифратора.Это позволяет повысить быстродействие устройства,Схема устройства изображена на чертеже.Устройство содержит тактовый генератор 1, счетчик импульсов 2, эталонную логическую схему 3, диагностируемую логическую сему 4, блок вычисления синдрома 5, дешифратор б, /согические схемы ИЛИ 7, счетчики 8 и блок идентификации неисправностей 9.Тактовый генератор / и счетчик импульсов 2 задают последовательности двоичных комбинаций, которые являются входными воздействиями как для эталонной 3, так и для диагностируемой 4 логических схем. В каждый момергт времени выходные воздействия эталонной и диагностируемой схем образуют двонло О оную комбинацию у у, у у 1 г/2 упоступающую в блок вычисления синдрома 5.Г 1 рррнр 1 маем, что в процессе диагностики выл 0 оходные комбинации уь ууэталонной логической схемы 3 имеют правильные значения и являются функциями входных воздейСтвгян Хь Х Хц. Выходные комбинации днагностируемой 15 логической схемы 4 уь у,утакже являются функциями входных воздействий х, хх, но могут иметь любые возможные значения, определяемые характером одиночных неисправностей в диагностируемой схеме.20 Блок вычисления синдрома 5 строится наоспованрни анализа возможных одиночных неисправностей,в диагностируемой логической схеме 4 при выходных реакциях уь у,у, соответствующих возможным неисправностям 25 в схеме. Выходные последовательности г, о 2г,=юг блока вычисления синдрома 5 являются функциями выходных последовательо и л игОстер г/, г/2у =г/г, г/ь уг/=у; эталонной и диагностируемой логических схем, исходя из того, что различным неисправностям406197 К . 1 Од 2 Л,биуачоФ Составитель Г. ЛебедевБ. федотов Техред 3, Тараненко Корректор Л. Царькова 1 акт Тираж 647сударственного комитета Совепо делам изобретений и откМосква, Ж, Раушскал наб. Заказ 217/8 Подписа Министров СССРытийд. 4/5 ПИ ш. Харьк л. пред. Патент в диагностируемой логической схеме должны соответствовать разл,ичные выходные последовательности г о 2ов, блока вычисления синдрома 5. В остальном выбор оо 2о для каждого вида неисправности произволен.На этапе построения блока вычисления синдрома должен быть выбран вид соответствия между номером (или несколькими номерами) первичной неисправности диагности. руемой логической схемы и выходной последовательностью (синдромом) блока вычисления синдрома. Значение синдрома в каждый момент времени соответствует нулевым последовательностям Л;=ам о,о=000 при отсутствии неисправности в диагностируемой логической схеме или последовательностям ГС 2авОтЛИЧНЫМ От ПУЛЕВЫХ, Прн НаЛИ- гии неисправности в диагностируемой логической схеме.Количество разрядов синдрома, необходимых для диагностики заданного множества неисправностей, определяется неравенством где: К - количество разрядов, необходимыхдля диа 1 гностики неисправностей;Л - количество различных одиночныхнеисправностей и сочетаний одиночных неисправностей, которые приводят к одинаковым реакциям уь у 2увИз блока вычисления синдрома б синдром Р поступает на дешифратор б, каждая выходная шина которого соответствует одному номеру из множества возможных неисправностей диагностируемой схемы. Однако существуют ситуации, когда разные неисправности приводят к появлению на выходе диагностируемой схемы одинаковых ошибочных последовательностей у,. Предлагаемое устройство позволяет диагностировать и такие неисправности след; ющим образом. С помощью логических схем ИЛИ 7 сигналы дешифратора б распределяются по счетчикам 8, каждый из которых закреплен:за одной из неисправностей.Содержимое счетчиков поступает в блокидентификации неисправностей 9, где эти дан ные сравниваются друг с другом до того момента, когда содержимое одного,из счетчиков не превысит содержимого остальных.В этот момент фиксируется номер счетчика, в котором записано максимальное число. За фиксированный номер счетчика совпа дас 1 сномером неисправности диагностируемой ло.гической схемы. В блоке идентификации неисправностей вырабатывается сигнал Останов, поступающий на тактовый генератор 1, На 15 этом диагностика схемы заканчивается,Таким образом, диагностика происходитбез перебора всех возможных входных воздействий, что позволяет ускорить определение местонахождення пенсправного элемента.20 Блоки 1, 8, 9, составляющие значительнуючасть аппаратуры, остаются неизменными при переходе от диагностики одной схемы к диагностике другой схемы того же класса, что позволяет частично унифицировать стендовую 25 аппаратуру для диагностики однородных изделий.Предмет изооретепия Устройство для диагностики неисправностей30 в логических схемах, содержащее тактовый генератор, выход которого подключен ко входусчетчика импульсов, связанного выходами совходами эталонной и диагностируемой логических схем, выходы, которых подключены че 35 рез блок вычисления синдрома к дешифратору, отличающееся тем, что, с целью повышепия быстродействия, в него введены логические схемы ИЛИ и счетчики по числу возможных неисправностей в диагностируемой40 схеме и блок идентификации, неисправностей,входы которого подключены к выходам счетков, подключенных входами через логическиесхемы ИЛИ к соответствующим выходам дешнфратора,