402784

Номер патента: 1095234

Опубликовано: 30.05.1984

Авторы: Афтеньев, Горшенин, Силантьев

МПК: G11C 11/14

Метки: исследования, источник, магнитных, магнитоодноосных, магнитооптического, пленок, полей, управляющих, устройства

...полей для исследования магнитоодноосных пленок, содержащий источник постоянного магнитного поля, выполненный в виде двух постоянных магнитов, и источник ортогональных магнитных полей, направленных 10 параллельно плоскости пленки, выполненный в виде двух катушек индуктивности 1.Недостатком этого источника управляющих магнитных полей является трудность магнитооптического исследования пленок,Наиболее близким техническим решением к изобретению является источник управляющих магнитных полей для устройства магнитооптического исследования магнитоодноосных пленок, содержащий две двухконтурные катушки для создания ортогональных 20 магнитных полей в плоскости пленки и двух- контурную катушку для создания магнитного поля, нормального к плоскости...

Номер патента: 1518809

Опубликовано: 30.10.1989

Авторы: Дудко, Заика, Фенстер

МПК: G01R 33/12

Метки: исследования, магнитных, свойств

...на коммутатор 18, а также адресные разряды для блока 21. Данную .функцию выполняют элементы 41, 42, 46-49, 51, 57, формирует управляющие сигналы "Запись в .ОЗу" "Считывание ОЗУ"необходимые для нормальной работы ОЗУ 21, "Пуск АЦП" для АЦП 19. Необходимая последовательность перечисленных сигналов задается при помощи элементов 48-50, 52-57Блок 24 управления работает следующим образом, Код декадного переключателя 60 поступает в формирователь 23 в качестве уставки. С помощью декадного переключателя 61 задается число точек накопления, В предлагаемом устройстве количество точек накопления может составлять 8, 16, 32 и 64. Выходной двоичный код с элемента 61 поступает на дешифратор 32, выходы которого соединены с первыми входами логических...

Номер патента: 116261

Опубликовано: 01.01.1958

Авторы: Елпатьевская, Матус, Перчук, Регель

МПК: G01R 33/07

Метки: исследования, магнитного, поля

...так, чтобы через нулевой (крайний) датчик проходил некоторый ток, равный г, через первый датчик - ток, равный 4, через второй датчик - ток, равный 2, через третий - ток, равный 4 и т. д а через последний датчик - ток, равный . При этом предполагается, что чувствительность всех датчиков одинакова. В случае неодинаковой чувствительности датчиков, чувствительности их приводятся к чувствительности одного из датчиков.При измерении полей, неподвижных в пространстве, использование для питания датчиков постоянного тока позволяет получить на выходе датчиков также постоянную э.д.с модулированную изменением самой величины измеряемого потока.При использовании постоянного тока для измерения вращающихся полей на выходе получается переменная э.д.с...

Номер патента: 530293

Опубликовано: 30.09.1976

Авторы: Бондарь, Губанов, Дрейзин

МПК: G01R 33/12

Метки: исследования, магнитных, свойств, ферромагнитных

...счетчик 13 и вентиль 14записи подключен к регистру индикации 10,а черезнуль-орган 15 знака - к реверсивному счетчику 13,при этом выход регистра 10 индикации связан сбцифропечатающим устройством 1 б и фазовраща.телем 17, вход которого присоединен к выходуусилителя 2, а выход - к вентилям 9 и 14 записи,Устройство работает следующим образом,Синусоидальные колебания, поступаемые с ге Онератора 1, усиливаются усилителем 2 и поступаютна намагничивающую обмотку 3 исследуемогообпазца 4,Э. п Ор ц, .Д.С., наведенная в сигнальной обмотке 6,подается на преобразователь 7 напряженияв частоту, и импульсы с преобразователя 7 напря бжения в частоту поступают на реверсивный счет.чик 8, который производит суммирование или вычитание поступающих...

Номер патента: 1025226

Опубликовано: 30.12.1983

Авторы: Коваленко, Лабушкин, Прокопов, Саркисов, Саркисян, Селезнев

МПК: G01N 23/20

Метки: исследования, кристалла, магнитных, свойств, толщине, электрических

...плоскостей, параллельных поверхности кристалла. Дифрагировавшее на кристалле излучение регистрируют полупроводниковым блоком детектирования б, Импульсы с предусилителя блока детектирования поступают на спектрометрический прибор 7,затем сформированные и усиленные импульсы с выхода прибора подаются .на вход амплитудного анализатора импульсов 8, с выхода которого сигнал поступает на мессбауэровский спектрометр ЯГРС9. Скорость движенин вибратора задается мессбауэровским спектрометром. Поглощение и излучение у -квантов происходит через определенный ядерный переход,для чего спектрометр, работающий в режиме постоянных скоростей, задает определенную скорость движения штока вибратора. Получают зависимости интенсивности дифрагировавшего...