Электронный микроскоп
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Зависимое от авт, свидетельства47901,26 явлено 23.1 Ъ.1971 (Ю Кл. Н 01 3726 присоединением заявкигасударственныи комит Совета Министров ССС но делам изобретений и открытийПриоритетОпубликовано 28,7111.1973. Бюллетень35 УДК 621.385.833(088,8 Дата опублико анпя описания 8.1.1974 вторызобретени П, А. Стоянов и В. В. Мосе аявител ЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП Известны электронные микроскопы, солержащие колонну, включающую в себя осветительную систему, объектив с магнитопроводом. Нижняя часть магнитопровола обычно ,крепится накилной гайкой или винтами к нижней части колонны, а верхняя - аналогичным образом сочленяется с осветителем. Г 1 ри этом внешняя часть магнитопровола объектива несет на себе массу всей верхней части колонны. Однако при вибрациях колонны электронного микроскопа из-за значительной массы осветителя (около 100 кг) внешняя часть магнитопровода объектива,периодически деформируется. Возникающие при деформациях механические напряжения в магнитопроволе периодически изменяют магнитные свойства материада магнитопровода. Возникающие вибрации порождают переменную составляющую магнитного потока объектива, что приводит к размытию изображения и ухудшению разрешающей способности электронного микроскопа.В микроскопах при вибрациях за счет деформации внешней его части происходят колебания полюсов полюсного наконечника, что размывает изображение и снижает разрешающую способность электронного микроскопа. При вибрациях возникают колебания механизма, перемещения столика объекта, так как отеханизм перемещения крепится к периодически леформируемому мап;итопроводу объектива. В результате возникают колебания каретки столика с объектом, что уы лшает разрешающую способность микроскопа.5 Цель изобретения - повышение разрешающей способности электронного микроскопа за счет исключения влияния недостаточной леформационной стойкости материала магнитопровода объектива на его работу при виб рациях и устранения колебаний полюсов объектива и механизма перемещения столика объектов, возникающих при вибрациях,Это достигается введением дополнительного опорного элемента, установленного кон центричпо с магпитопроводом объектива иотделенная от него зазором, причем верхний конец опорного элемента соединен с осветителем микроскопа, а нижний - с нижней частью колонны микроскопа.20 На чертеже представлена схехта предлагаемого микроскопа.Магнитное поле линзы образуется междуполюсами 1 и 2 полюсного наконечника. Каретка 3 столика объектов с исследуемым объ ектом 4 приводится в движение механизмом5. Для исключения деформации магнитопровола и возникновения в нем механических напряжений, порождающих отеременную составляющую магнитного потока в объективе, 30 имеется специальный наружный опорный эле
СмотретьЗаявка
1647901
П. А. Сто нов, В. В. Мосеев
МПК / Метки
МПК: H01J 37/26
Метки: микроскоп, электронный
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-395926-ehlektronnyjj-mikroskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Электронный микроскоп</a>
Предыдущий патент: Впт5фвад а: ш: ;: пит;
Следующий патент: Спектральная газоразрядная лампа
Случайный патент: Устройство для магнитной записи аналоговых сигналов