ZIP архив

Текст

Союз СоветскихСоциалистическихРеспублик етельстваЗависимое от авт. свЗаявлено 21.Ч 1,1971 Л, Кл. 6 01 Ь 17/02 671617/25-28) с присоединением заявки Ю Гасударственный комитет Совета Министров СССР по делам изооретений н открытийПриор ите убликовано 05.ЧН.1973. Бюллетеньта опубликования описания 16.Х 1.1973 ДК 531.717(088 Авторыизобретен. Барышев и В. Н. Ю ЛЬТРАЗВУКОВОЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТО Ы скорость ультрслоя;толщина слоя;разность частоминимумами. атериале 1 ежду соседпимп 30 1Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения толщины слоев в многослойных конструкциях.Известен ультразвуковой способ измерения толщины, заключающийся в том, что возбуждают ультразвуковые колебания в исследуемом изделии, принимают отраженный сигнал, анализируют амплитудный спектр эхо-сигналов и по изменениям параметров спектра судят об изменении толщины, Однако этот способ непригоден для измерения толщин отдельных слоев в многослойных изделиях, так как в серии импульсов будут присутствовать импульсы, отраженные от каждого слоя, и в спектре отраженных импульсов будут минимумы и максимумы частот, кратных резонансным частотам толщин отдельных слоев и их суммам,Цель изобретения - определение толщины слоев многослойных изделий.Предлагаемый способ отличается от известного тем, что селектором выделяют эхо-сигналы от обеих поверхностей измеряемого слоя и по интервалу между минимумами суммарного амплитудного спектра судят о толщине каждого слоя.На чертеже представлена блок-схема устройства, с помощью которого реализуется описываемый способ измерения толщины. Устроиство содержит генератор 1, пьезопреобразователь с локальной ванной 2, многослойное изделие 3, высокочастотный усилитель 4, селектор 5 радиоимпульсов, осцилло граф 6 и панорамный анализатор спектра 7,Измеряют толщину следующим образом.Генератор с помощью пьезопреобразоватсля с локальной ванной возбуждает импульс упругих колебаний. Отраженные от различных О слоев многослойного изделия эхо-сигналыпринимаются пьезопреобразователем, усиливаются высокочастотным усилителем и подаются на селектор радиоимпульсов. Селектором выделяются эхо-сигналы от поверхностей из меряемого слоя и подаются на осциллографи панорамный анализатор спектра. Сравнивая амплитудный спектр эхо-сигнала от одной поверхности с огибающей спектра суммы эхосигналов от обеих поверхностей, находят сйо- О мощью генератора меток и анализатораспектра частоты минимум, а затем производят расчет по формуле д=25гЛгде с азвук389401 Предмет изобретения оставитель Голов едактор Л. Жаворонкова Текред 3. Тараненко Корректоры; Н, Прокуратова и Л, ОрловаИзд.749 Тираж 755 ИПИ Государственного комитета Совета Министро по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб д. 475ПодписноеССР ипография, пр. Сапунова,Ультразвуковой способ измерения толщины, заключающийся в том, что возбуждают ультразвуковые колебания в исследуемом изделии, принимают отраженный сигнал, анализируют амплитудный спектр эхо-сигналов и по изменениям параметров спектра судят об изменении толщины, отличающийся тем, что, с целью определения толщины слоев многослойных изделий, селектором выделяют эхосигналы от обеих поверхностей измеряемого слоя и по интервалу между минимумами суммарного амплитудного спектра судят о толщине каждого слоя.

Смотреть

Заявка

1671617

С. Е. Барышев, В. Н. Юрин

МПК / Метки

МПК: G01B 17/02

Метки: 389401

Опубликовано: 01.01.1973

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-389401-389401.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">389401</a>

Похожие патенты