Способ определения размеров микрочастиц, обладающих зеркально гладкими поверхностями

Номер патента: 387265

Автор: Баулин

ZIP архив

Текст

ОП И САН ИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУСоюз СоветскихСоциалистическихРеспублик детельства ависимое от авт. 1382712/26-2 л, 6 01 п 15/О 8,Х 11.1969 аяв сударвтвенный комитетавета Министров СССРпа делам изобретенийи открытий Приоритет Опубл икова УДК 541.182.3(088.8) 1.1973. Бюллетень27ия описания 29,1.1974 опубликован Авторизобретен аулин аявит ЛЕНИЯ РАЗМЕРОВ МИКРОЧАСТИЦ,КАЛЬНО ГЛАДКИМИ ПОВЕРХНОСТЯМ СПОСОБ ОПРЕ ЛАДАЮЩИХ ЗЕ 2у (а+/соя 5 Обычно угл с углом а, стой вид: 2) оз а/2 объективом на ографирования, пределяют расиента преобрао формуле (2) частицу перед ебуемое для ее ф микрофотоснимок. (с учетом коэффи тоаппаратуры) и ют А Помещая время, тр делают ее стояние сГ зования фо рассчитыва ет изобретения мулу, связывающую с присоединением заявкиИзобретение деления размеров щих зеркально гладкИзвестен фотоэлектрический способ, заключающийся в том, что часть светового потока, преобразованного частицей, попадает в ФЭУ, вызывая в нем фототок, по величине которого судят о размерах частицы.Цель изобретения - повышение точности измерений.Это достигается тем, что частицу облучают двумя световыми потоками, направленными под острым углом друг к другу, и носителем информации являются лучи, зеркально отраженные поверхностью частицы. относится к способам опремикрочастиц, обладаюими поверхностями. На чертеже представлена схема, иллюстрирующая предлагаемый способ,Свет от системы источников 1 попадает на 2 частицу 2. Часть светового потока, падающего на частицу, зеркально отражаясь от ее поверхности, попадает в объектив микроскопа 3, Таким образом, частица видна в микроскоп в виде двух точек, являющихся изображениями 2 площадок 0 на частице. Из чертежа видно, что расстояние между площадками д меньше диаметра частицы д. Простые геометрические построения позволяют получить простую форд д 1 / пренебрегают по сравнению формула принимает более проСпособ определения размеров микрочастиц, обладающих зеркально гладкими поверхностями, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений, частицы облучают световыми потоками от двух источников, направленными под острым углом один к другому, и размеры частиц определяют по расстоянию между двумя светящимися точками, фиксируемыми, например, на фотоснимке,387265 Составитель ишневск Изд,18 Тираж 755 И Государственного комитета Совета Микис по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5, пр. Сапунов ипог едактор А. Батыгин Техред 3. Тараненко Корректор О. Тюрин

Смотреть

Заявка

1382712

В. Л. Баулин

МПК / Метки

МПК: G01N 15/02

Метки: гладкими, зеркально, микрочастиц, обладающих, поверхностями, размеров

Опубликовано: 01.01.1973

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-387265-sposob-opredeleniya-razmerov-mikrochastic-obladayushhikh-zerkalno-gladkimi-poverkhnostyami.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения размеров микрочастиц, обладающих зеркально гладкими поверхностями</a>

Похожие патенты