Мультипликатор

Номер патента: 1663999

Опубликовано: 20.01.1996

Авторы: Иноземцев, Куликов, Федорец

МПК: G01B 11/00

Метки: мера, микроскопов, поверки, позиционирования, систем, увеличения

...тотная характеристика; на фиг, 3 дана структурная схема подключения меры,Мера представляет собой систему параллельных металлических полос 1, соединенных с шестью контактными площадками 15 2, 3, 4, причем средние полосы 1 соединены с верхней и нижней контактной площадкой 3.Остальные металлические полосы обаединены попарно и подсоединены соответственно к контактным площадкам 2 и 4. 20 Формула изобретения МЕРА ДЛЯ ПОВЕРКИ УВЕЛИЧЕНИЯ И СИСТЕМ ПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ МИКРОСКОПОВ, содержащая пьезоэлектрическую подложку. на поверхности которой нанесен ряд параллельных металлических полос, и ри этом полосы, расположенные на периферийных участках, поочередно соединены с контактными площадками, образуя преобразователи возбуждения акустических волн и...

Номер патента: 1281950

Опубликовано: 07.01.1987

Автор: Санников

МПК: G01M 11/00

Метки: объектива, плоскости, положения, фокальной

...образом, 50Перед измерением линейным перемещением платформы 21 устанавливаютрасстояние 2 О между плоскостями 9 и10 в зависимости от Фокусного расстояния испытуемого объектива 3. При 55этом клин 22 платформы 21 через толкатель 23 соответственно расстоянию1,26 ь изменяет расстояние 2 между 1950 4крайними элементами 29 и 30 линейки фотоприемников за счет взаимно противоположного перемещения двух частей 18 и 19 разрезной диафрагмы 16. Расстояния 2 е 1 и 211 заранее рассчиты" ваются в обратно-пропорциональной зависимости от Фокусного расстояния испытуемого объектива и регистрируются на шкале (не показана) подвижки платформы 21, Нулевое значение указанной шкалы соответствует совпадению плоскостей 9 и 10 со светоприемной плоскостью 8...

Номер патента: 1582039

Опубликовано: 30.07.1990

Автор: Ковальский

МПК: G01M 11/00

Метки: объектива, плоскости, положения, фокальной

...вращения модулятора б равно А, при этом модулятор 6 размещен так, что расстояние ВК от точки пересечения оптической оси фокусирующего объектива 5 с поверхностью ближнего к нему по ходу осевого луча зеркала 7 модулятора б до оси вращения модулятора б при установке основания 8 с зеркалами 7 линией пересечения продолжений зеркальных поверхностей пары симметричных зеркал 7 перпендикулярно оптической оси фокусирующего обьектива 5, равно С,фотоприемник 10 установлен нормально к светочувствительной площадке под углом 2 у к оптической оси фокусирующего объектива 5, при этом нормаль параллельна плоскости расположения оптической оси фокусирующего объектива 5 и оси вращения модулятора б. Плоскость светочувствительной площадки фотоприемника 10...

Номер патента: 1339429

Опубликовано: 23.09.1987

Авторы: Аксенов, Белова, Леонов, Мелик-Гайказян

МПК: G01M 11/00

Метки: оптических, систем, увеличения

...тем, что,с целью упрощения, в качестве объекта измерения используется газовыйпузырек, измеренный диаметр пузырькаопределяется при наблюдении его четкого контура, а истинный диаметрпузырька определяется как удвоенноезначение величины перемещения оптической системы между двумя фиксированными положениями, которые соответствуют наблюдению четкого контурапузырька и вертикальной линии илиавала,1 Составитель С, СоколовРедактор И,Булла Техред В.Кадар Корректор Е, Рашко Заказ 4212/32 Тираж 776 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-.полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4. 1 133942Изобретение относится к приспособлениям к измерительным...

Номер патента: 1425573

Опубликовано: 23.09.1988

Авторы: Грамматин, Окишева

МПК: G02B 21/02

Метки: микроскопа, объектив

...обращенный вогнутостью кизображению,Составитель В.АрхиповТехред Л,Сердюкова Корректор М,Лемчик Редактор Н.Рогулич Подписное Тйраж 533 Заказ 476342 ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам. изобретений и открытий 113035, Москва, Ж"35, Раушская наб д, 4/5 Производственно"полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4Изобретение относится к оптике,в частности к области оптическогоприборостроения к объективам микроскопов, и может быть использовано вметаллографических микроскопах,Цель изобретения - повышение качества изображения и увеличение рабочего состояния.На чертеже представлена оптическая схема предлагаемого объектива.Объектив состоит из трех компонентов 1-3. Первый компонент 1Фронтальная линза - склеена из...