Способ определения увеличения оптических систем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1339429
Авторы: Аксенов, Белова, Леонов, Мелик-Гайказян
Текст
(53) 681.4.07 ( Бюл. У 35 олитехнич ий полите скиинический В. И. Мелик-Гян, С, Б,Леон азин,88 ние н ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИ(56) Скворцов Г.Е, и др. Микроскопы,- Л, : Машиностроение, 1963, с. 31,Мелик-Гайказян В.И. и др, К оценке погрешностей, допускаемых приопределении поверхностного натяженияжидкостей по иэображению профилявисячих ее капель или образованныхв ней пузырьков газа, - В кн.: Обога -щение и использование угля вып,5,М,: Недра, 1970, с, 139-171,(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УВЕЛИЧЕНИЯОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ(57) Изобретение м,б. использованопри наблюдении и микрофотографировании микрообъектов в прозрачных водных растворах при изучении теплообмена, кавитационных явлений, а такжедля измерения поверхностного натяже-.ния. Цель изобретения - упрощениеопределения увеличения оптическихсистем. Для этого в качестве объектаизмерения используют газовый пузырек(ГП),диаметр изображенияконтура которого измеряют с помощьюокуляра-микрометра. По величине перемещения проекционной системы к кювете с ГП до получения на изображении ГП наиболееузкого овала или вертикальной линиисудят о величине радиуса экваториального сечения ГП, Истинный диаметрГП определяют как удвоенное эначеэтой величины перемещения проекционой системы,Формула изобретения Способ определения увеличенияоптических систем, включающий освещение объекта, размещенного в водеили в водных растворах, измерениедиаметра его изображения, по которому судят о величине увеличения оптической системы как отношению измеренного диаметра объекта к истинному,отличающийся тем, что,с целью упрощения, в качестве объекта измерения используется газовыйпузырек, измеренный диаметр пузырькаопределяется при наблюдении его четкого контура, а истинный диаметрпузырька определяется как удвоенноезначение величины перемещения оптической системы между двумя фиксированными положениями, которые соответствуют наблюдению четкого контурапузырька и вертикальной линии илиавала,1 Составитель С, СоколовРедактор И,Булла Техред В.Кадар Корректор Е, Рашко Заказ 4212/32 Тираж 776 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССРпо делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д. 4/5 Производственно-.полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул, Проектная, 4. 1 133942Изобретение относится к приспособлениям к измерительным устройствам, характеризующимся оптическими средствами измерения посредством5 определения координат точек, и может быть использовано для непосредственного определения увеличения линейноГо поля зрения микроскопов и других проекционных систем при наблюдении, микропроектировании и микрофотографировании газовых пузырьков и других микрообъектов, находящихся в воде И прозрачных водных растворах, например, в лабораторных установках при исследовании флотационных процессов, для измерения поверхностного натяжения, при изучении теплообме на при пузырьчатом режиме кипения, при изучении кавитационных явлений, в системах с дистанционным управлением, включающих оптические измерительные устройства, работающих в полях радиации и агрессивных средах,Целью изобретения является упроще ние определения величины увеличения оптических систем.Способ реализуется следующим образом.В кювету с прозрачными параллель- Зо ными стенками наливают воду или водный раствор, вводят газовый пузырек (с помощью капилляра, электролитически и т.д,). С помощью микроскопа или другой проекционной системы получают четкое иэображение контура пузырька, измеряют диаметр иэображения Йе непосредственно с помощью окуляра-мик 9 2рометра на экране или на фотопленке, перемещают систему к кювете до тех пар, пока на изображении пузырька вместо центрального светлого пятна появится наиболее узкий овал или вертикальная линия, измеряют величину перемещения Ь 1, по которой судят о величине радиуса экваториального сечения пузырька г, определяют увеличение оптической системыпо формулеЙе Йе261 2 г
СмотретьЗаявка
3934510, 26.07.1985
ИРКУТСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ, КУРСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
БЕЛОВА НАДЕЖДА СТЕПАНОВНА, МЕЛИК-ГАЙКАЗЯН ВИГЕН ИОСИФОВИЧ, МЕЛИК-ГАЙКАЗЯН ИРИНА ЯКОВЛЕВНА, ЛЕОНОВ СЕРГЕЙ БОРИСОВИЧ, АКСЕНОВ ВЛАДИМИР ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01M 11/00
Метки: оптических, систем, увеличения
Опубликовано: 23.09.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1339429-sposob-opredeleniya-uvelicheniya-opticheskikh-sistem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения увеличения оптических систем</a>
Предыдущий патент: Стенд для исследований элементов водопроводящего тракта гидроэнергетической установки
Следующий патент: Стенд для определения динамической жесткости подшипников качения
Случайный патент: Способ биметаллизации стальной заготовки