Автоэлектронный катод
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
374677 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик(М 1765556/26-25)вкиЗаявлено 03,Ч.1 М. К п исоединением Комитет по делам изооретений и открытий ори Совете МинистровПрио ДК 621,385,032,212 (088,8) тень1 бликовано 20,.1973, Бю Дата опубликован описания 28.Ч.1973 Гайлес, А. М. Домахина, Гаврюшкин, В. и Р. И, Янин вптел ВТОЭЛЕКТРОННЪЙ КАТОД Изобретение относится к электроннои технике и может быть использовано при разработке ненакаливаемых источников электронов для электровакуумных приборов.Известные пленочные лезвийные автоэлек тронные катоды, в которых в качестве полотна лезвия используют свободный, консольно закрепленный край тонкой пленки, имеют довольно высокое вытягивающее напряжение - несколько сот вольт и более. 10 Дальнейшее снижение напряжения в известных пленочных лезвийных автокатодах затруднено, так как необходимо уменьшать толщину пленки полотна лезвия до значенийоменьше 1000 А, При этая прочность лезвий снижаетс ение становится затруднител ом механическ я и их изготовл ьным. Цель изобретения - увской прочности лезвий вэлектронных катодах,Это достигается тем, что лезвие состоит из двух слоев: диэлектрика и эмиттирующего проводящего материала. При этом пленка диэлектрика может быть более толстой и прочной и поэтому успешно противостоять механическим нагрузкам, а проводящая пленка - иметь толщину, достаточную для необходимой концентрации электрического поля у эмиттирующей кромки лезвия еличение механиченизковольтных авто 30 Авторыизобретения В. В, Чесноко 2При испытаниях предлагаемого автоэлектронного катода подтвердились высказанные выше предположения, однако катод работал нестабильно, имели место пробои вакуумного промежутка катод - анод, При этих пробоях развивалась вакуумная дуга, распространяющаяся по всей ширине лезвия катода, разрушая проводящую пленку и оставляя характерный след в виде ажурных узоров. В дальнейшем оказалось, что разрушение катода вакуумной дугой имеет место только при определенных толщинах проводящей пленки - не меньше определенного порога. Например, при исследовании катода, состоящего из слоев окиси алюминия и вольфрама, при толщине вольфрамовой пленкиоменьше 200 - 300 А, вакуумная дуга не распространялась по слоистому лезвию и не разрушала его даже при вакуумных пробоях. Вероятная причина этого - недостаток материала для создания достаточного давления паров катодного материала, необходимого для развития в этих парах вакуумной дуги, при малых толщинах проводящей пленки.Таким образом, с целью повышения устойчивости катода к действию вакуумных пробоев дуги, на диэлектрическую пленку лезвия наносят проводящую пленку толщиной несколько несятков атомных слоев.374677 Предмет изобретения Составитель Г. ЖуковаТехред Е. Борисова Корректор Е. Сапунова Редактор А. Батыгин Заказ 1441/13 Изд.370 Тираж 780 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 1. Автоэлектронный катод, содержащий лезвие с эмиттирующей пленкой тугоплавкого металла, отличающийся тем, что, с целью увеличения механической прочности лезвия при низком вытягивающем напряжении, под пленкой тугоплавкого металла расположена диэлектрическая подложка.2. Катод по п. 1, отличающийся тем, что 5 пленка тугоплавкого материала имеет толщину порядка десятков атомных слоев.
СмотретьЗаявка
1765556
В. В. Чесноков, Л. П. Гаврюшкин, В. М. Гайлес, А. М. Домахина, Р. И. Янина
МПК / Метки
МПК: H01J 1/304
Метки: автоэлектронный, катод
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-374677-avtoehlektronnyjj-katod.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Автоэлектронный катод</a>
Способ измерения толщины тонких пленок в процессе их изготовления
Номер патента: 238169
Опубликовано: 01.01.1969
МПК: G01B 7/06
Метки: пленок, процессе, толщины, тонких
...кой, от.гггчаюитий щения процесса приращение напр вого резонатора,щины тонких пленок ния, заключающийся нал на выгходе кваркасающегося с пленчто, с целью упроения, регистрируютна выходе кварцеия тол готовле ют сип , сопрг ся тем,измер яжения ависимое от авт. свгидетельстваИзвестны спосооы измерения толщины пленки, нанесенной на, кварцевый резонатор с помощью двух кварцевых генераторови о толщине пленки судят по приращению частоты на выходе кварцевого резонатора.Предложенный способ измерения отличается от известных тем, что, с целью упрощения процесса измерения, для определения толщины плевки регистрируют приращение напряжения на выходе кварцевого резонатора.На чертеке изобраркена блок-схема устройства для измерения толщины,...
Способ измерения толщины окисной пленки жидких металлов
Номер патента: 1670367
Опубликовано: 15.08.1991
Авторы: Бабаян, Глушенко, Попов, Рущенко, Хэрник
МПК: G01B 7/06
Метки: жидких, металлов, окисной, пленки, толщины
...которого измеряется, погружают электрод 3, являющийся катодом. Второй электрод 4, выполненный в виде пластины и являющийся анодом, располагают над поверхностью окисной пленки. Подают напряжение Оа постоянного тока на электроды от источника питания (не псказан). Между электродом 4 и поверхностью расплавленного металла появляется электрическое поле, которое уменьшает работу выхода электронов с поверхности расплавленного металла. Вылету электронов с поверхности расплавленного металла способствует также и термоэлектронная эмиссия.1670367 Электроны, обладающие достаточнымзапасом энергии, пробивают окисную пленку и, пролетев через вакуум 5, попадают наэлектрод 4. Таким образом по цепи: электрод 3 расплавленный металл 1 - окисная...
Способ контроля толщины тонких пленок в процессе напыления в вакууме
Номер патента: 246085
Опубликовано: 01.01.1969
Авторы: Кацнельсон, Фурман
МПК: G01B 11/02, G01B 11/06
Метки: вакууме, напыления, пленок, процессе, толщины, тонких
...на контролируемую пленку от источника света направляют световой поток, определяют величину интенсивности прошедшего через контролируемую пленку светового потока, по которой судят о толщине пленки. Однако эти способы имеют недостаточную точность контроля, когда оптические толщины слоев покрытия не кратны четверти одной и той же длины волны,Предлагаемый способ отличается от известных тем, что величину интенсивности прошедшего через контролируемую пленку светового потока в зависимости от длины волны определяют спектральным прибором в диапазоне длин волн, перекрывающем не менее половины октавы.Это позволяет повысить точность контроля толщины пленок.Описываемый способ заключается в с щем.Контроль толщины пленки в процессе напыления слоев...
Способ контроля толщины тонких пленок
Номер патента: 266223
Опубликовано: 01.01.1970
МПК: G01B 11/06, G01B 9/02
Метки: пленок, толщины, тонких
...свидетель попадает только одно вещество. На свидетели осаждение проводят столько раз, сколько раз наносят слои из определенного вещества на деталь. Вещество пспадает на свидетель, 20 когда он находится в рабочем положении,Остальные свидетели защищены от попадания вещества экр аном. Свидетелями могут служить разные участки одной и той же плоскопараллельной пластинки.25 Контроль толщины слоя на рабочем свидетеле осуществляется обычным фотометрическим способом. На свидетель направляют лучистый псток от источника света 1 лампы накаливания), Отраженный от свидетеля 1 либо 30 прошедший через свидетель) свет направляют266223 Составитель Л. ЛобзоваРедактор Л. Г. Герасимова Техред Л. Я, Левина Корректор В. Трутней Заказ 1646/11 Тираж 480...
Способ контроля толщины тонких пленок по
Номер патента: 322608
Опубликовано: 01.01.1971
Автор: Андрющенко
МПК: G01B 11/06
Метки: пленок, толщины, тонких
...момент прекращения напыления даже при напылении первого слоя. Точность последующих слоев прогрессивно ухудшается.Цель изобретения - повысить точность контроля.Это достигается тем, что для контроля толщины напыляемой пленки фиксируют изменение интенсивности прошедшего через напыляемую пленку или отраженного от нее света длиной волны точек пересечения спектральных характеристик отражения или пропускания системы слоев с напыляемой пленкой и той же системы без нее. Например, для контроля толщины второго напыляемого слоя используют свет длиной волны точек пересечения спектральных характеристик пропускания или отражения одного и двух слоев, для контроля толщины третьего слоя - свет длиной волны точек пересечения спектральных...
Предыдущий патент: Поворотный электромагнит
Следующий патент: Автофотокатод
Случайный патент: Устройство для хранения и прессования отходов