Способ определения удельного сопротивления резистивных пленочных микросхем
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 374552
Текст
ОП И САНИ Е ИЗОЬВВТ ЕНИЯ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 25.ЧШ,1970 ( 1470026/18-10)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано 20.11.1973. Бюллетень15Дата опубликования описания 28.1 Ч.1973 М. Кл 1 г 27 Комитет по деламнзооретений и открыти ДК 621.317.723 088,8 при Совете Министров СССРАвтор зобретения А, Д, Аврути явитель ОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УДЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ РЕЗИСТИВНЫХ ПЛЕНОЧНЫХ МИКРОСХЕМ покрыт сверхуводящего матеили друспосооом на часть чему обс элеки (,внешд ). Со- опорцио- исследуе- циональои облаичес,кими стор а с , с внешиусом г,ов предой, чемпротивлеэмеривэлектрокоэффииной феличину поладля нием с .поды 3 циент ормы Рз 5 30 Изобретение относится к электроизмерительнои технике и может быть использовано для контроля удельного сопротивления слоя материала на изолирующеи подложке, покрытого слоем значительно оолее проводящего материала, например в производстве резистивных пленочных микросхем способом двойной литографии фразировки),Известен способ измерения удельного сопротивления слоя материала на изолирующей подложке, согласно которому, измерение проводят до покрытия его слоем более проводящего материала.Этот способ значительно усложняет как процесс измерения, так и технологию изготовления резистивных пленочных микросхем.Предлагаемый способ повышает точность и упрощает процесс измерения удельного сопротивления, Цля этого:в качестве образцового резистора используют рабочую плату микросхемы, а электроды резистора изготовляют одновременно с рисунком слоя коммутации данной схемы.На,фиг. 1 показан разрез участка подложки, на котором создан измеряемый образец резистора с электродами в виде двухсвязной области; на фиг. 2 - тот же участок подложки, вид сверху,На изолирующую подложку 1 нанесен слой материала 2, удельное сопротивление которого требуется определить. Онслоем значительно более прориала,Ь слое последнего с помощью тогогого способа гравировки, напримерфотолитографии, может быть удалематериала в виде, кольца, благодаряразуется, резистор кольцевой формытродами в,виде двухсвязной областт 0 ний электрод д, внутренний электропротивление данного резистора прнально удельному сопротивлениюмого слоя ра коэффициент пропорности определяется формой кольцев15 сти и характеризующими ее геометрпараметрами. Например, для резиэлектродами в виде кругового кольцаним радиусом г 1 и внутренним радсопротивление й определяется как20 К р 1 п -2 к т 1 Так,как проводимость электрод ается значительно более высок исследуемого материала, та со лектродов можно, пренебречь. И гощью зондов, поставленных на и 4, сопротивление К и зная пропорциональности для зада электродов, можно оппеделить в374552 Предмет изобретения Составитель Т. АфонинаТехред Т. Курилко Корректоры: Т, Журавлеваи 3. Тарасова Редактор Е, Гончар Заказ 1136/16 Тираж 755 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 Способ определения удельного сопротивления резистивных,пленочных микросхем, представляющих собой слой материала на изолирующей подложечке, покрытого слоем значительно более проводящего материала, основанный на контактном методе измерения электродами в виде двухсвязной области (например,в,виде кругового кольца), отличаюшийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса измерения, в качестве образ цового резистора используют рабочую платумикросхемы, а электроды резистора изготовляют одновременно с рисуночком слоя коммутации данной схемы.
СмотретьЗаявка
1470026
МПК / Метки
МПК: G01R 27/00
Метки: микросхем, пленочных, резистивных, сопротивления, удельного
Опубликовано: 01.01.1973
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-374552-sposob-opredeleniya-udelnogo-soprotivleniya-rezistivnykh-plenochnykh-mikroskhem.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения удельного сопротивления резистивных пленочных микросхем</a>
Предыдущий патент: Устройство для осциллографического измерения фазочастотных характеристик четырехполюсников
Следующий патент: Устройство для измерения сопротивлений
Случайный патент: Устройство для контроля набора и схода шихты из бункеров углезагрузочной машины