Способ сканирования спектра

Номер патента: 366364

Автор: Сычев

ZIP архив

Текст

Союз Соеетскиа Социалистическыа РеспубликОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельства ЛЪ -Заявлено 17.Х 11,1970 ( 1601108/26-25)с присоединением заявки М -.т, Кл. 6 011 3 Комитет по делам ите обретений и открыты ри Созете Министрое публиковано 16.1.1973. Бюллетень Леата опубликования описания 3,17.1973 ДК 535.853(088 Авторизобретени В. Сыч ковское высшее техническое училище им, Н. 3. Баумана аявитель СПОСОБ СКАИИРОВАН ПЕКТ б По предлагаем ших скоростей ск приборах фокальн ние точности за с ного перемещения мы достигается бл перемещают вдоль визны зеркальногНа чертеже пр ому способу получен анирования в спектр ого типа, а также п чет исключения отно отдельных элемен агодаря тому, что оси путем изменен о оптического элеме едставлена схема одие оольальных овышеситель- тов схе.спектр ия кри нта. ного пз Изобретение относится к спектральным борам, в частности к приборам фокального типа.Сканирование спектра в приборах фокального типа осуществляют либо перемещением оптической системы на величину протяженности спектра, либо перемещением входной и выходной диафрагм. Однако перемещение указанных элементов должно производиться на значительное расстояние (среднее значение протяженности осевого спектра составляет несколько десятков миллиметров) и с большой точностью. Кроме того, использование известных способов исключает возможность получения высоких скоростей сканирования (порядка 100 в 10 спектров в секунду), так как необходимое возвратно-поступательное движение элементов схемы на такое большое расстояние и с такой скоростью практически невозможно. вариантов устройства, выполненного по предлагаемому способу.На пути сходящихся лучей, формирующих изображение осевого спектра, на некотором расстоянии от последней поверхности объекта 1 помещают перпендикулярно оптической оси сканирующий элемент 2, представляющий собой в исходном положении плоскую зеркальную поверхность, отражающую падающий на нее сходящийся пучок лучей, В плоскости, соответствующей положению фокальцой плоскости для короткой длины волны , устанавливают выходную диафрагму 3.Прц изменении кривизны поверхности оптического скацирующего элемента 2 от плоского к вогнутому из-за изменения его фокусного расстояния будет меняться положение фокальных плоскостей различных длщт волн осевого спектра. При некоторой кривизне поверхности оптического сканирующего элемента 2 положению выходной диафрагмы т будет соответствовать уже другая фокальная плоскость соседней длины волны т,. Непрерывное и последовательное изменение кривизны по. верхности в некоторых пределах приведет к сканированию осевого спектра с соответствующей этому изменению периодичностью.Для того, чтобы просканировать осевой спектр протяженностью в несколько десятков миллиметров, достаточно изменить прогиб366364 Предмет изобретения Ьф 5 ь- .э й Составитель Л. Гойхман. Батыгин Техред Т. Миронова Корректор Т. Гревнова Лзд1 ЗЗ Тираж 755 лам изобретений и открытий при Совет осква, Ж-З 5, Раушская наб., д. 4/5 Подписное инистров СССРЗаказ 126/570ЦН 1 ЛИПИ Комитета и Тип, Харьк фил. пред. Па плоской поверхности со стрелой прогиба всего лишь до 1 л,н,Сканирующий элемент представляет собой плоскопараллельную пластину круглой формы, изменяющую свою кривизну в пределах упругой деформации под действием приложенного к ее центру усилия, Закон изменения кривизны поверхности сканирующего диска будет полностью соответствовать закону изменения деформирующей силы, поскольку инерционность этого диска достаточно мала,Создание деформирующих усилий может быть осуществлено, например, с помощью электродинамического принципа, заключа ю щегося в создании с помощью намотки с сер. дечпиком переменных электродипамических усилий, действующих на жестко скрепленный с центром диско-якорь, помещенный на некотором расстоянии от сердечника,5 Способ сканирования спектра в спектраль пых приборах фокального типа с получениемосевого спектра, отличающийся тем, что, с целью повышения быстродействия, длину волны излучения на выходе изменяют перемещением спектра вдоль оси путем изменения крц 15 визны зеркального оптического элемента.

Смотреть

Заявка

1601108

Сычев Московское высшее техническое училище Н. Э. Баумана

МПК / Метки

МПК: G01J 3/12

Метки: сканирования, спектра

Опубликовано: 01.01.1973

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-366364-sposob-skanirovaniya-spektra.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ сканирования спектра</a>

Похожие патенты