Способ дефектоскопии ферромагиитныхкристаллов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 360601
Авторы: Моносов, Сурин, Электроники
Текст
О П И С"АфД"ц ИЗОБРЕТЕН ЙЯ 36060 Союз Советских Социалистических РеспуолинКомитет по делам изооретений и открыти при Совете Министров СССРБюллетень3 Дата опубликования описания 16.1.19 Авторыизобретения Я. А, Моносов и В. В, СуринИнститут радиотехники и электроники АН ССС Заявител ПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ ФЕРРОМАГНИТНЫХКРИСТАЛЛОВ Изобретенне опносигся к области неразрп 1 шающего ко 1 нтроля и может быть иапользовано для оттбора кристаллов с заданвымис в ойств ачм и.Известен способ дефектоокспии ферромагюжных псргвсталловч заключающийоя в том,что на кристалл воздейсгвуют 1 постоянньгммагнитным полем и СВЧчполем, стапра 1 вленным перпендикулярно постояиному, и,изме.ряют ширину спектра,поглощения на частоте 1 ОСВЧ-поля, по,величине которой судят о качестве,нристаллов,Однако известный оносорб позволяет проводить измерения на образцах старого определенной фонмы и мальпх размеров, что требует разрушения вы 1 ращенных кристаллов идлителыного врехтени изготовления контрольнькх образцов; кроме того, он,позволяет судить, в основном, о дефектах поверпно 1 стикристалла, о внупренних же дефектах судить пот 1 рудно,Перечисленные:недостатки связаны с тем,что для измерения шидгоны спектра поглотцения используются колебания однороднойвроцессии мапнипного момента кристалла сбольшей длинной волны, чувсттвителыныы, вооновном, 1 к дефектам,поВОрхности кдисталла. Для того, чтобы повысить чувствительюсть к дефактам, расположенным в 1 нутри 30кристалла, СВЧчполе прикладывают параллельно постоянном 1 у позою и мощностью неаколыко единпц ватт, обеепечнвакицей излучение из кристалла низкочастотных колебаний,;по ширине спектра которып судят о дефекпности крсосталла.Постояихное и переменное СВЧ-магннтные поля прикладывают к образцу параллельно друг другу, При этом СВЧ-поле имеет мощность, равную несколыким ваттам, при кото,рой кристалл нэпучает ннзкочастогные колсбантся магнитного момента. Ширина спектра низкочастотных колебаний зависит от дефектностт внутри образца, Это происходят вследствие того, что параллелыное СВЧ-поле,возбуждает внутри кристалла апиновые волны с очень,корот 1 кой длиной волны я нпзкочастотные колебания, котсхрые модулируют спиноевые волны по амплитуде и излучаются из кристалла, Спиновые волчины чувствнтельны к дефектам внутри кристалла; они рассеиваются на дефектах. При рассеивании изхтеняется одновременно и,ширина спекпра низкочастотных колебагий. Поэтому ло ширине спектра низкочастотных,колебаннй, нзлучаоощихся прз кристалла, судят о,дефектности кксталла,Предмет изобретен и я Способ дефектоскопип ферромагнитных3660601 Составитель Л. СавенкоРедактор Т. Баранова Техред Л. Богданова Корректоры С. Сатагулова и Л. Кириллова Заказ 5994 Изд,1825 Тираж 406 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Загорская типография кристаллов, заключающийся .в том, что, на 1 ористалл воздейспвуют постоянным магнитныгм лолем и СВЧнполем, отличающийся тем, что, с,целью повышения чувст 1 вительности, СВЧ-поле, мощностью весколыко единвц ватт прикладывааот,параллелыно постоянному полю,и по ширине спекцра излучения:низкочастотных,колебааий иристалла судят о его дефектности.5
СмотретьЗаявка
1433547
Я. А. Моносов, В. В. Сурин Институт радиотехники, электроники СССР
МПК / Метки
МПК: G01N 24/00
Метки: дефектоскопии, ферромагиитныхкристаллов
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-360601-sposob-defektoskopii-ferromagiitnykhkristallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ дефектоскопии ферромагиитныхкристаллов</a>
Предыдущий патент: Кулонометрический датчик влажности
Следующий патент: Способ определения влагосодержания водородосодержащих веществ
Случайный патент: Способ абразивной обработки