Патенты с меткой «ферромагиитныхкристаллов»
Способ дефектоскопии ферромагиитныхкристаллов
Номер патента: 360601
Опубликовано: 01.01.1972
Авторы: Моносов, Сурин, Электроники
МПК: G01N 24/00
Метки: дефектоскопии, ферромагиитныхкристаллов
...колебания однороднойвроцессии мапнипного момента кристалла сбольшей длинной волны, чувсттвителыныы, вооновном, 1 к дефектам,поВОрхности кдисталла. Для того, чтобы повысить чувствительюсть к дефактам, расположенным в 1 нутри 30кристалла, СВЧчполе прикладывают параллельно постоянном 1 у позою и мощностью неаколыко единпц ватт, обеепечнвакицей излучение из кристалла низкочастотных колебаний,;по ширине спектра которып судят о дефекпности крсосталла.Постояихное и переменное СВЧ-магннтные поля прикладывают к образцу параллельно друг другу, При этом СВЧ-поле имеет мощность, равную несколыким ваттам, при кото,рой кристалл нэпучает ннзкочастогные колсбантся магнитного момента. Ширина спектра низкочастотных колебаний зависит от дефектностт...