Способ измерения плотности
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
О Л И С А Н И Е 347954ИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик. Кл. Н 056 1/ с присоединением заявки Ло ПриоритетОпубликовано 10.И 11,1972. Б Дата опубликования описания Комитет по делам зобретений и открыти при Совете Министров СССРУДК 533.9.08(088.8 летень244.1 Х.1972 Авторыизооретени анчииов-Маринский и В. А, П варов, Н. аявител СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОТНОСТИЧАСТОТЫ СТОЛКНОВЕНИЙ ЭЛЕКТРОНОВТРОПНОЙ СЛАБОИОНИЗОВАННОЙ ПЛАЗМЫ СВЧ генератор 1 соантенной 2, направлеобъем 3. Приемная антурникетное сочленениПлазменный объем 310 дающего магнитное поСпособ измерениястолкновений электрондующем. ющей енный через ом б. т созединен с излуча иной на плазм тенна 4 соединена е 5 с регистратор расположен внутр че соленоида 7.плотности и ч ов заключается астоты в слеСпособ измерения плотности и частоты столкновений электронов изотропной слабоионизованной плазмы может быть использован в плазменной технике и технологии для диагностики плазмы.Известный способ измерения параметров плазмы путем регистрации амплитудно-фазовых характеристик проходящей через плазму кругополяризованной электромагнитной волны фиксированной частоты малоэффективен при измерениях в слабоионизованной плазме, так как точность измерений низка из-за необходимости регистрации малых сдвигов фаз и больших затуханий СВЧ сигналов. Кроме того, измерение плотности и частоты столкновений электронов в изотропной плазме по известному способу возможно лишь в пределах примерно одного порядка,Цель изобретения - повышение точности и расширение предела измерений концентрации и частоты столкновений электронов в изотропной слабоионизованной плазме.Для этого на плазму накладывают продольное магнитное поле и измеряют ослабление амплитудных параметров левополяризованной волны при двух значениях этого поля. Использование левополяризованной волны обусловлено отсутствием резонансного характера зависимости показателя затухания этой волны от величины магнитного поля. На чертеже схематически представлено уст ройство для реализации предлагаемого спо соба. Электромагнитную волну от СВЧ генератора 1 направляют на изотропную слабоионизованную плазму в объеме 3 и с помощью соленоида 7 накладывают на плазму продольное магнитное поле определенной величины, При этой величине магнитного поля определяют значение показателя затухания левополяризованной волны. Затем накладывают на плазму магнитное поле другой величины и определяют значение показателя затухания в этом случае.По известным номограммам зависимостей каждого из двух показателей затухания от концентрации и частоты столкновений электронов определяют этп последние для данного плазменного объема 3.347954 Предмет изобретения Составитель Ю. Денисовхред Л. Богданова Корректоры: Е. Ласточкини В. Петров едактор А. Батыгин аказ 2677/9 Изд. Ъго 1153 Тираж 406 Подп испоЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытии при Совете Министров СССМосква, Ж, Раушская наб д. 4/5 пография, пр. Сапунова Способ измерения плотности и частоты столкновений электронов изотропной слабоионизованной плазмы, включающий измерение ослабления СВЧ волны одной частоты, отличающийся тем, что, с целью повышения эффективности, на плазму накладывают продольное магнитное поле и измеряют ослабление левополяризованной волны при двух зна чениях этого поля.
СмотретьЗаявка
1458927
И. К. Шваров, Н. Н. Иванчинов Маринский, В. А. Попов
МПК / Метки
МПК: H05H 1/00
Метки: плотности
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-347954-sposob-izmereniya-plotnosti.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения плотности</a>
Предыдущий патент: Способ определения электрических параметров ванны руднотермической печи
Следующий патент: Полуавтомат установки штырей на печатные платы
Случайный патент: Поплавковый плотномер