Способ измерения плоских профилей деталей

Номер патента: 345344

Авторы: Колискор, Левковский

ZIP архив

Текст

)1 ИЗОБРЕТЕНИЯ 345344 Союа Советских Социалистических РесптбликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ аависимое от авт. свидетель/25-28) л. б 01 Ь 5/20 явлено присоединением заявки Приорите Комитет по делам обретений и открыт ри Совете тлинистро СССРюллетень2я 27 Л 11.1972 31.717 (088,8 публиковано 14.Ч 1,1972. Дата икования описа Авторыизобретени А. Ш. Колискор и Е. И. Левковский Заявит сударственный научно-исследовательский институт машиноведени ОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПЛОСКИХ ПРОФИЛЕЙ ДЕТАЛЕ бласти измерени мет зобретениялоских профилей детамали с использованием ьной машины, содержа- вращения, перпендикуерения, привод вращеовленный на шпинделе оляет устранить даря тому, что 2 воей оси непрезаданные точки отсчетов по датьные показания.измерительной 3 Спосоо измерения лей в направлении н координатно-измерит щей шпиндель с ось лярной плоскости из ния шпинделя и устИзобретение относится к оя деталей в машиностроении.Известен способ измерения плоских профилей деталей в направлении нормали с использованием координатно-измерительной маши ны, содержащей шпиндель с осью вращения, перпендикулярной плоскости измерения, привод вращения шпинделя и установленный на шпинделе датчик линейных перемещений с радиально расположенной линией измерения, 10 заключающийся в том, что шпиндель выводят в заданную относительно детали точку и дискретно снимают отсчет по датчику. Известный способ предусматривает остановку оси шпинделя в заданных точках и поворот шпинделя 15 до совмещения линии измерения датчика с нормалью к профилю детали. Измерительная машина имеет управляемое вращение шпинделя. При этом точность измерения снижается из-за погрешностей угловой установки шпин деля, а производительность уменьшается вследствие остановок шпинделя в контрольных точках.Предлагаемый способ позвуказанные недостатки благо 5 шпиндель вращают вокруг срывно, обходят шпинделембез остановок, а при снятиичику фиксируют его максималНа фиг, 1 показана схема 0 машины, при помощи которой реализуется предложенный способ; на фиг. 2 - осциллограмма показаний датчика.Предложенный способ заключается в следующем. Измеряемая деталь 1 перемещается относительно шпинделя 2 по координатам Х и У, Шпиндель непрерывно вращается (или качается) вокруг оси 1 - 1. Когда измерительный наконечник 8 контактирует с измеряемой деталью, он перемещается вдоль радиальной оси 11 - 11. Перемещения измерительного наконечника снимаются при помощи датчика 4, а максимальные показания датчика за каждый оборот шпинделя регистрируются блоком 5.На фиг. 2 прямая а соответствует нулевому положению измерительного наконечника, при котором погрешность измеряемой детали 6 = О; прямая Ь - крайнему положению измерительного наконечника, когда он не контактирует с измеряемой деталью; линия с запись показаний датчика. Погрешности детали характеризуются отрезками б д, , б;.345344 фи Составитель Б. МухинРедактор Т, Ларина Техред А. Камышиикова Корректор В. Жолудева каз 24055 Изд.1001 Тираж 406 ПодписиНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий йри Совете Министров ССМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Топография, пр, Сапунова,датчик линейных перемещений с радиально расположенной линией измерения, заключающийся в том, что шпиндель выводят в заданную относительно детали точку, поворачивают шпиндель вокруг своей оси и снимают отсчет по датчику, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции машины и повышения точности и производительности измерения, шпиндель вращают вокруг своей оси непрерывно, обходят шпинделем заданные точки без 5 остановок, а при снятии отсчетов по датчикуфиксируют его максимальные показания.

Смотреть

Заявка

1457690

Государственный научно исследовательский институт машиноведени

А. Ш. Колискор, Е. И. Левковский

МПК / Метки

МПК: G01B 5/20

Метки: плоских, профилей

Опубликовано: 01.01.1972

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-345344-sposob-izmereniya-ploskikh-profilejj-detalejj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения плоских профилей деталей</a>

Похожие патенты